成像椭圆仪Nanofilm-ep4

波长范围: 700 - 1650 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

波长范围: 700 - 1650 nm 准确性: 0.10nm 重复性: 0.15pm

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

波长范围: 1270 - 1650 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

波长范围: 1270 - 1650 nm 准确性: 0.0775nm 重复性: 0.15pm

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

波长范围: 1000 - 1680 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。