- 加拿大
- 干涉仪(115)
- 激光功率计(239)
- 单色仪(11)
- 光学延迟线(14)
- 光功率计(64)
- 光谱分析仪(104)
- 光波长计(35)
- 光谱仪(875)
- 激光雷达(29)
- 扫描仪和测距仪(24)
- 气体分析(47)
- 光学池(79)
- 光束分析仪配件(20)
- 光束分析仪(46)
- 激光能量计(82)
- 普通显微镜(60)
- 显微镜配件(25)
- 位移测量计(17)
- 计量配件(19)
- 光学表面轮廓仪(17)
- 孔探仪(39)
- 脉冲发生器(20)
- 太赫兹成像(4)
- 太赫兹时域(13)
- 其他分类测量仪器(19)
- 光纤检测工具(28)
- 脉冲诊断器件(30)
- 激光扫描和测距(9)
- 光束分析(5)
- 光学检测(14)
- 显微镜(12)
- 光纤测试与测量(3)
- 尺寸测量(1)
- 散热解决方案(20)
光电查为您提供253个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
-
应用: PMD compensation in high speed communications networks, PMD emulation, TDM bit alignment, Interferometric sensors, Coherent telecommunications 工作波长: 1550 nm 延迟范围: ±50 ps 类型: Electrically Controlled, Manually Variable 插入损耗: 1.2 dB
来自OZ Optics的差分偏振延迟线是在1550nm的波长下工作的光学延迟线(ODL)。它们的延迟范围为±50 PS,延迟分辨率为0.0027 PS.这些光学延迟线提供60dB的回波损耗和1.2dB的最大插入损耗。该系列通过将光纤内的光分成正交偏振,然后在将两个偏振再次组合在一起之前,主动改变一个偏振相对于另一个偏振传播的时间,从而允许对光网络中的偏振模色散进行电子控制。差分极化延迟线需要6-8 V的直流电源,并消耗高达180 mA的电流。它们可以通过RS232或TTL接口进行控制。该系列采用尺寸为105 X 51 X 25 mm的封装,配有光密度为0.9 mm的1米长紧密缓冲9/125 SM光纤和FC/APC连接器。它非常适合高速通信网络中的PMD补偿、PMD仿真、TDM位对准、干涉传感器和相干电信应用。
-
应用: Fiber optic assembling and testing, Quality control and measurement, Network installation, Component and system troubleshooting, Education, General optical power measurement 光纤类型: Single Mode 探测器类型: InGaAs 测量单位: Watts, dBm, dB 设备类型: Handheld
OZ Optics Ltd.的POM-300-IR是一款光功率计,波长范围为800至1650 nm,测量范围为-75至+10 dBm.有关POM-300-IR的更多详细信息,请联系我们。
-
应用: Fiber optic assembling and testing, Quality control and measurement, Network installation, Component and system troubleshooting, Education, General optical power measurement 光纤类型: Single Mode 探测器类型: Si 测量单位: Watts, dBm, dB 设备类型: Handheld
OZ Optics Ltd.的POM-300-VIS是一款光功率计,波长范围为440至900 nm,测量范围为-65至+10 dBm.有关POM-300-VIS的更多详细信息,请联系我们。
-
应用: Automatic fiber optical alignment and collimation systems, Multi-channel optical power measurements, General optical power measurements such as IL measurement, Multi-channel test set, Network installation and maintenance 光纤类型: Single Mode 测量单位: Watts, dBm, dB, relative (P/PREF) 设备类型: Handheld 波长范围: 440 to 900 nm
OZ Optics Ltd.的SDH-VIS-ND=20是一款光功率计,波长范围为440至900 nm,测量范围为-65至+10 dBm.有关SDH-VIS-ND=20的更多详细信息,请联系我们。
-
成像模式: Diffuse Reflectance (DR) 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 380 - 970 nm, 970 - 2500 nm 光谱分辨率: Not Applicable
Aisafenix在单个连续图像中提供VNIR、NIR和SWIR波长(380 nm–2500 nm)的较高质量的高光谱数据。该仪器具有良好的透射率(65%)、信噪比(600–1000)和采样间隔(620个波段)。由于Aisafenix高光谱传感器具有极高的耐用性,并且尺寸和重量减少了75%,因此它也可以安装在炮塔和中型无人机上。通过创新和独特的单光学双摄谱仪设计,实现了技术性能和物理尺寸的卓越。
-
成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Not Applicable 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Not Applicable
EOS系列高光谱成像仪采用了Photon ETC公司基于体布拉格光栅(VBG)的专利滤波技术。这项技术是高光谱成像的理想选择。微视场和宽视场平台都是为发光(光致发光或电致发光)和反射测量而设计的,并且可以适应宽带或单色光源。我们的过滤技术允许快速获取光谱分辨的高分辨率图像。基于色散光谱仪的推扫式(线扫描)系统一次采集一条线,而基于VBG的设备允许全局成像。这意味着使用基于VBG的技术,可以一次获取完整的单色图像,而不是逐行(或逐点)获取。由于相机捕获视场中的整个区域,因此可以实时收集光谱和空间信息,并可以记录光谱分辨的视频。V-EOS™在可见光谱上提供一系列单色图像,避免了繁琐的X-Y或线扫描。该系统通过提供光谱特征的大规模分布来进行前所未有的分析,无论是半导体的带隙变化还是新化合物中的分子变化。我们的S-EOS™宽场高光谱成像仪集成了我们的新型Zephir相机,现在覆盖了高达2.5μm的短波红外光谱区域。该系统通过提供光谱特征的大规模分布,无论是半导体的带隙变化还是新化合物中的分子变化,都可以进行前所未有的分析。Grand-EOS高光谱成像仪将高光谱显微镜系统与高光谱广域成像平台相结合,提供了VNIR(400-100 nm)和SWIR(900-2500 nm)光谱范围的微观和宏观模态。