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光纤类型: Free Space 声光材料: Tellurium Dioxide (TeO2)
GWU-Lasertechnik Vertriebsges的CAOM-F-A1-TET-W-C是一种二氧化碲(TeO2)声光调制器(AOM),工作波长为1064 nm.它的有效孔径为0.5、1、1.5和2mm,频率为100MHz,单程传输效率超过97%。这种随机偏振的声光调制器工作在布拉格模式,衍射角为25.2mrad,衍射效率超过80%。它的损伤阈值为1 GW/cm2,上升时间高达120 ns,最大电压驻波比为1.2:1。该AOM模块尺寸为51 X 25.4 X 13.5 mm,具有SMA、SMC或BNC连接器。它是材料加工、医疗和科学应用的理想选择。
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类型: Mach-Zehnder Interferometer, Delay Line Interferometer 探测器类型: Differential Photodetector 光纤类型: PANDA PM, SMF-28 应用: DPSK Demodulation
来自Kylia的WT-MINT,3至12ns是Mach-Zender延迟线干涉仪,其在可见光至IR波长IE中操作;800纳米、1064纳米、1300纳米和1520-1570纳米。它的光延迟范围为3-12ns,插入损耗为9dB,最小光回波损耗小于35dB.该干涉仪的偏振模色散为0.1ps,色散为1ps/nm.它具有高达1.5FSR(自由光谱范围)的调谐范围和25dB的偏振消光比。该干涉仪需要高达90 V的直流电源,功耗高达0.5 W.WT-MINT,3至12 ns,采用封装,尺寸为750 X 400 X 129 mm,具有SMF-28/Panda PM光纤尾纤。它支持BNC、FP/UPC、FC/APC、SC/PC、SC/APC、LC/PC、E2000/PC和E2000/APC等。连接器。该干涉仪是DPSK解调应用的理想选择。
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测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m
Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm,具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°(2D)和4°(3D)的解理角,测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式,并具有自动/手动端角测量功能,可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。
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测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m
Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC,采用1/1.8英寸光学格式,可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤,使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式(实时)和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm,可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式,并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。它采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。
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类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达45毫米,频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
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类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达70毫米,连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
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类型: Laser Interferometer 测量类型: Thickness, Length 波长: 632.8 nm 应用: Dimension Measurement, Gage Block Measurement
普惠测量系统公司(Pratt&Whitney Measurement Systems)的LMS200是一种激光干涉仪,通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致,消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座,其热膨胀系数比钢小十倍以上,使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm,重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm,直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板(1/10波)测量探头,带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的,以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品,并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能,这是一种先进的省时功能,允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准,从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作,并具有可编程自动循环功能,支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和,并可显示统计数据,指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源,并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装,非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。
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类型: Fizeau Interferometer 测量类型: Shape 目标形状: 2D, 3D 应用: Shape Measurement
来自Xonox Technology GmbH的X-FIZ 100 ECO是一种相移斐索干涉仪,具有130万像素的单色相机。它具有远程控制,定位电动焦点调节和10倍光学放大变焦。该干涉仪具有632.8nm HeNe激光源,其产生2mW Class-1偏振输出。它可以通过带有有线遥控器的USB 3.0接口进行控制,并具有用于变焦和对焦的旋转定位控制器。X-FIZ 100 ECO具有刚性框架和坚固的光学机械设计,可确保在安装时和随着时间的推移保持对准。它有一个带自动饱和调节的智能电子衰减器和一个带Tip-Tilt TS支架的压电移相器,该支架与Zygo式卡口和XonOx 4+光学连接器兼容。该干涉仪需要110-240 V的交流电源,采用310 X 285 X 595 nm的封装。
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类型: Fizeau Interferometer 波长: 633 nm 聚焦范围: ± 2.5 m, ± 5.5 m 应用: Surface Measurement
Zygo公司的VeriFire是一款Fizeau干涉仪,具有专利的QPSI采集功能,并配有一个160 Hz的摄像机,可提供1200 X 1200像素的分辨率。它有一个有线和无线遥控编码焦点可切换偏振套件,具有1-5倍的光学放大倍率。该干涉仪具有633nm高功率稳定HeNe激光源,其产生最小3mW的IIIA类偏振输出。它的测试光束直径为4或6英寸,光学中心线为4.25英寸。该干涉仪需要81-188ms的采集时间,4英寸的光瞳聚焦范围为±2.5m,6英寸的光瞳聚焦范围为±5.5m.它可以通过高性能戴尔PC、Windows 1064位、MX™软件进行控制,并具有水平或垂直安装配置。VeriFire具有3种数据采集模式,即PSI(时间相移干涉测量法)、QPSI(振动稳健的时间相移干涉测量法)和可选的DynaPhase(振动不敏感的瞬时干涉测量)。它有一个带双点分划板的快速条纹采集系统(QFAS),需要100-240 V的交流电源。它采用尺寸为69 X 31 X 34 cm(4英寸)或92 X 31 X 34 cm(6英寸)的封装,是反射光学器件、透明光学器件和成像系统的理想选择。
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类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Wavelength 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes 应用: Telecommunication, Spectral Analysis
Thorlabs公司的SA200-2B是一款双波长法布里-珀罗干涉仪,工作波长为290-355 nm和520-545 nm.它的自由频谱范围(FSR)为1.5 GHz,频率分辨率为7.5 MHz.该共焦扫描干涉仪具有50mm的腔长,典型的精细度超过200,并且它由具有低扫描电压的超稳定无热殷钢腔构成。该干涉仪的外壳材料由黑色阳极氧化铝制成。它有一个内置的探测器单元,是电信和光谱分析应用的理想选择。
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类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Wavelength 波长: 380 to 430 nm 应用: Telecommunication, Spectral Analysis
Toptica Photonics的FPI-100-0400-1是一款法布里-珀罗干涉仪,工作波长为380至430 nm.它的自由频谱范围(FSR)为1 GHz,频率分辨率为2.5 GHz.该共焦扫描干涉仪具有7mm的孔径、超过400的典型精细度和具有99.8%反射率的标准镜。它有一个内置的光电探测器单元,设计用于测量和控制连续波(CW)激光器的模式分布。该干涉仪具有FC/APC光纤连接器,是电信和光谱分析应用的理想选择。
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重复率: 1 Hz to 100 kHz 工作模式: Quasi-CW(Pulsed) 恒流输出电压: 2 to 100 V 输出电流: 1 to 8 A 输出电压: 2 to 100 V
Avtech Electrosystems Ltd的AV-1011B1-B是一款激光二极管驱动器,可提供高达100 V的输出电压和高达8 A的输出电流。它的脉冲宽度为100 ns-1 ms,上升时间高达2 ns,下降时间高达8 ns.该激光二极管驱动器的脉冲重复频率为1 Hz-100 kHz,最大占空比为5%。它可以通过IEEE-488.2 GPIB和RS-232接口手动控制,也可以通过以太网接口远程控制。AV-1011B1-B具有延迟功能,可以相对于同步输出提前或延迟1秒(延迟必须小于周期的75%)。它具有双脉冲模式,其中延迟设置控制双脉冲之间的间隔,最小脉冲间隔为1µs.该激光二极管驱动器需要100-240 V的交流电源。它采用尺寸为100 X 430 X 375 mm的封装,并具有BNC母连接器。