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Wintriss Engineering的OPSIS Smart Vision系列表面检测相机专为需要高速和/或高分辨率检测的工业用户而设计。这些摄像机是Wintriss Engineering的Web Ranger®系统的组成部分,为质量控制和过程控制应用提供了完整的表面检测系统。Wintriss Engineering的视频处理智能线扫描摄像机可以在图像离开摄像机之前实时获取和处理视频数据。FPGA协处理器使用多达五个并行运行的二维滤波器来处理卷材检查过程中看到的图像。来自多个相机的已处理图像数据可以通过以太网连接联网到主机PC,而不需要任何中间帧抓取器。通过内置FPGA,该视觉系统可用于所示的应用以及更多应用。使用嵌入式PowerPC处理器,视觉系统可以独立运行,也可以与主机共享处理任务,以提高系统性能。
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运动轴: Two 旅行范围: 50-200mm 负载能力: 10kg 最大速度: 600mm/s
Dover Motion SmartStage线性定位器是一款易于集成的高分辨率工作台。与传统的直接驱动线性电机平台不同,它包括内置控制器、驱动器、通信接口和I/O。板载Dover编码器和玻璃标尺上的精密铬提供精确、可重复和稳定的定位,分辨率为5nm。通过将Dover编码器、内插器和运动控制器电子设备全部包括在载物台内,SmartStage定位器能够实现高在位稳定性,并避免由外部电缆、不良接地和其他对反馈信号的不利影响引入的噪声误差。坚硬的交叉滚柱轴承适用于各种有效载荷。这些轴承还提供了卓越的轨迹性能,并在需要平滑运动的恒速扫描等应用中表现出色。Dover Motion的无铁直线电机技术的新型磁拓扑结构经过优化,可实现高伺服带宽和整个行程上的均匀力,并且没有螺杆式定位器通常遇到的齿隙。这使得SmartStage轴在需要高吞吐量步进和建立或恒速扫描的应用中同样表现出色。交叉滚柱轴承方式和Dover Motion的线性电机驱动系统的有力结合带来了卓越的仪器性能。
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激光类型: CO2 激光功率: 30W 激光波长: 10600nm 工作区宽度: 47.5cm 工作区长度: 30.5cm
SN1812激光切割机和雕刻机是一款获得专利的便携式激光切割机,重量约为75磅。雕刻、切割和标记小如钢笔的物品,以及不适合传统盒装激光切割机的较大材料。其开放的底部使您可以在多个设置中使用机器。您可以将机器设置在桌面上,或将其设置在附带的锯木架上,为您提供无限的激光切割和雕刻可能性。这种激光切割机的独特设计使机器可以直接放在地板、台面甚至汽车引擎盖上完成雕刻。安装和拆卸都非常简单。30W激光管使这台机器成为适合数百种商业应用和用途的入门级激光切割机。为您现有的产品增加无限的利润,并使用此便携式激光切割机生产全新的产品。
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激光类型: CO2 激光功率: 80W 激光波长: 10600nm 工作区宽度: 71.1cm 工作区长度: 40.6cm
SN2816激光切割机是我们的入门级开放式架构激光切割机。它配有28“X 16”工作区、可拆卸激光顶部、EZ调平系统和高功率80W激光管。SN2816激光切割和雕刻机非常适合雕刻较小的物品,如个性化礼品、奖品和奖杯、珠宝饰品、花岗岩或大理石骨灰盒、宠物纪念物、花岗岩标记、皮革制品、木片、酒瓶(需要旋转附件)等。它的专利开放式架构和可拆卸的顶部允许激光雕刻更大,更重的项目,不适合传统的“盒装”激光系统。如果您有较小的空间要求或只计划激光雕刻较小的项目,这款高功率激光雕刻机可能是您的答案。这款激光切割机将让您有机会为您已经提供的产品添加无价的个性化和定制,全新的产品,甚至让您能够生产自己的激光切割产品。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Not Available 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range
SOC750-HB是一种实时、军用级、遥感中波红外高光谱成像系统。SOC750-HB可用于气体泄漏检测、光谱特征测量、化学物质识别和定量等要求苛刻的应用。SOC75-HB由超高速、高灵敏度中波红外阵列、成像光谱仪、集成扫描系统和矢量处理器组成,能够以每秒11个立方体(256 X 240像素X 42波段)的速度获取和处理光谱图像,分辨率为14位。可以以较高的速度获取较低空间分辨率的立方体。该系统的光谱响应为2-5微米的中波红外。光谱分辨率为73nm。HS数据立方体大小为5.25 MB。该系统包括一个实时高光谱图像处理器,用于辐射校准图像,执行传感器仿真,并同时在光谱图像上执行多达四个光谱相关算法。所有处理都以完整立方体速率进行。SoC750-HB成像仪由SoC的定制HSAnalysis3软件支持,具有用户友好的图形用户界面。
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测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 10 ppm 决议: 0.3eV
日本电子(JEOL)开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪(WDS),该光谱仪利用可变空间光栅,允许高效和并行收集极低能量射线(所谓的“软”X射线)。这些新的软X射线发射光谱仪(SXES)不仅拥有高光谱分辨率(0.3eV),使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV,而且具有超低能量、低浓度灵敏度,即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外,也许是它较强大的资产,是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时,光谱仪可以检测到它们之间的差异,从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳,它们都只由碳构成。
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中心波长: 1550nm 扫描速率: 1kHz 调谐范围: 80nm 平均值输出功率: 8mW
SS3344是一款高相干长度、快速扫频光纤激光器,专为CMM计量、3D半导体检测和其他工业成像和测距应用而设计。SS3344拥有业内所有快速扫频波长激光器中较长的相干长度,高达90 mm,扫频速率为10 kHz。当与精心设计的光学探针相结合时,这些特征允许对表面、特征和尺寸进行动态和精确的干涉测量,从而实现下一代CMM和工业成像解决方案。扫描波长激光器的太阳能线输出高度线性的波长扫描,以及波长触发和校准脉冲信号,当与具有成本效益的当前一代数字化仪相结合时,实现了高分辨率成像和测距系统,只需要定期重新校准扫描速率。Solarity平台的灵活性很容易实现生物医学和工业成像、光频域测距、高速光学传感和光谱学中的定制OEM应用。