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测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 10 ppm 决议: 0.3eV
日本电子(JEOL)开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪(WDS),该光谱仪利用可变空间光栅,允许高效和并行收集极低能量射线(所谓的“软”X射线)。这些新的软X射线发射光谱仪(SXES)不仅拥有高光谱分辨率(0.3eV),使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV,而且具有超低能量、低浓度灵敏度,即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外,也许是它较强大的资产,是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时,光谱仪可以检测到它们之间的差异,从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳,它们都只由碳构成。