-
类型: Mach-Zehnder Interferometer, Delay Line Interferometer 探测器类型: Differential Photodetector 光纤类型: PANDA PM, SMF-28 应用: DPSK Demodulation
来自Kylia的WT-MINT,3至12ns是Mach-Zender延迟线干涉仪,其在可见光至IR波长IE中操作;800纳米、1064纳米、1300纳米和1520-1570纳米。它的光延迟范围为3-12ns,插入损耗为9dB,最小光回波损耗小于35dB.该干涉仪的偏振模色散为0.1ps,色散为1ps/nm.它具有高达1.5FSR(自由光谱范围)的调谐范围和25dB的偏振消光比。该干涉仪需要高达90 V的直流电源,功耗高达0.5 W.WT-MINT,3至12 ns,采用封装,尺寸为750 X 400 X 129 mm,具有SMF-28/Panda PM光纤尾纤。它支持BNC、FP/UPC、FC/APC、SC/PC、SC/APC、LC/PC、E2000/PC和E2000/APC等。连接器。该干涉仪是DPSK解调应用的理想选择。
-
类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 632.8 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm
4D Technology的PhaseCam 6010是一款动态Twyman-Green干涉仪,工作波长为632.8 nm.它有一个400万像素的摄像头,可对所有内部功能进行全电动控制,并可对光路测量进行轴上照明和成像。该圆偏振干涉仪具有光纤耦合头和激光源模块,可提供1.5 MW的输出功率,并在FWHM下产生直径为7 mm的光束。PhaseCam 6010具有动态干涉测量技术,该技术使用单个相机高速光学相位传感器在小于30&μs的时间内进行波前测量。该干涉仪的采集速率超过15帧/秒,可在几乎任何条件下使用,无需隔振。PhaseCam 6010功耗高达750 W,采用尺寸为18 X 16.2 X 9.1 cm(测量头)的封装,配有48.3 X 20.3 X 11.9 cm激光源。它是米级望远镜光学系统、大型成像系统校准、真空和环境室测试、测试计算机生成全息图和生产车间质量控制应用的理想选择。
-
测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m
Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm,具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°(2D)和4°(3D)的解理角,测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式,并具有自动/手动端角测量功能,可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。
-
测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m
Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC,采用1/1.8英寸光学格式,可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤,使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式(实时)和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm,可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式,并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。它采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。
-
类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达45毫米,频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
-
类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达70毫米,连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
-
类型: Laser Interferometer 测量类型: Thickness, Length 波长: 632.8 nm 应用: Dimension Measurement, Gage Block Measurement
普惠测量系统公司(Pratt&Whitney Measurement Systems)的LMS200是一种激光干涉仪,通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致,消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座,其热膨胀系数比钢小十倍以上,使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm,重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm,直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板(1/10波)测量探头,带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的,以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品,并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能,这是一种先进的省时功能,允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准,从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作,并具有可编程自动循环功能,支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和,并可显示统计数据,指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源,并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装,非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。
-
类型: Fizeau Interferometer 测量类型: Shape 目标形状: 2D, 3D 应用: Shape Measurement
来自Xonox Technology GmbH的X-FIZ 100 ECO是一种相移斐索干涉仪,具有130万像素的单色相机。它具有远程控制,定位电动焦点调节和10倍光学放大变焦。该干涉仪具有632.8nm HeNe激光源,其产生2mW Class-1偏振输出。它可以通过带有有线遥控器的USB 3.0接口进行控制,并具有用于变焦和对焦的旋转定位控制器。X-FIZ 100 ECO具有刚性框架和坚固的光学机械设计,可确保在安装时和随着时间的推移保持对准。它有一个带自动饱和调节的智能电子衰减器和一个带Tip-Tilt TS支架的压电移相器,该支架与Zygo式卡口和XonOx 4+光学连接器兼容。该干涉仪需要110-240 V的交流电源,采用310 X 285 X 595 nm的封装。