光电查为您提供20140个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

• 

  FIFO平凹透镜

  中国大陆

  分类：光学透镜

  厂商：FIFO OPTICS CO., LTD

  材料: BK7 直径: 30mm 焦距: 15mm 边缘厚度，Te: 5mm 镜头类型: Plano-Concave

  平凹透镜具有负焦距，发散准直的入射光，并且仅形成通过透镜看到的虚像。在现有系统中，它通常用于扩展光束或增加焦距。

• 

  FIFO-plano 凸面镜

  中国大陆

  分类：光学透镜

  厂商：FIFO OPTICS CO., LTD

  材料: BK7 直径: 30mm 焦距: 15mm 边缘厚度，Te: 5mm 镜头类型: Plano-Convex

  平凸透镜用于准直发散光或聚焦准直光。我们使用它们作为二次聚焦透镜来重新聚焦准直光源。平凸透镜具有低球面像差。使用时，普莱诺侧朝向点光源或焦点，弯曲侧朝向准直光束。

• 

  滤光玻璃激光保护窗，用于488校准

  美国

  分类：滤光片

  厂商：Kentek Corp

  形状: Round, Square 色彩系列: Green

  用于488校准应用的激光保护平面过滤玻璃窗口。浅绿色。

• 

  滤光玻璃激光保护窗，适用于CO2 铒、钬、Nd:YAG和红外线。

  美国

  分类：滤光片

  厂商：Kentek Corp

  形状: Round, Square 色彩系列: Black & Blue, UV Transmitting, Colorless, VIS Tr, IR Abs

  用于CO2、铒、钬、Nd：YAG、近红外和远红外应用的激光防护平面滤光玻璃窗口。浅灰色。

• 

  用于紫外线、铜蒸气和染料的激光保护窗滤光片

  美国

  分类：滤光片

  厂商：Kentek Corp

  形状: Round, Square 色彩系列: Orange, Red & Black, IR Transmitting, Black & Blue, UV Transmitting

  用于UV、CuVapor和染料应用的激光保护平面过滤玻璃窗口。暗红色。

• 

  过滤玻璃板和块

  美国

  分类：滤光片

  厂商：Glass Fab Inc

  形状: Round, Square, Custom 尺寸: 165mm 厚度: 165mm 色彩系列: Yellow, Orange, Red & Black, IR Transmitting, Black & Blue, UV Transmitting, Colorless, VIS Tr, IR Abs

  豪雅公司生产和销售较高质量的单片彩色滤光片玻璃。我们的产品涵盖了从紫外到红外区域的广泛光谱特性。每个滤光片的透射光谱都由较高纯度的化学成分决定，并对玻璃熔化过程进行精确控制。这导致了较高程度的产品一致性和可靠性。豪雅过滤玻璃生产线在许多行业赢得了卓越的声誉。

• 

  精细退火光学玻璃

  英国

  分类：光学材料

  厂商：H V Skan Ltd

  应用范围: Deep Ultraviolet (DUV), Ultraviolet (UV), Visible (VIS), Infrared (IR), Near Infrared (NIR), Short Wavelength IR (SWIR), Long Wavelength IR (LWIR), Broadband 波长范围: 1 - 1 nm

  精细退火光学玻璃，具有多达五个非机加工的铸态表面。切割毛坯：具有标准或增加的光学和内部性能以及尺寸公差要求。光学玻璃在出厂前要经过严格的质量检验。光学玻璃生产的所有阶段都受到持续监控。此外，还进行了详细的较终检查。根据DIN EN 10204的测试证书记录了标准供应质量。根据DIN ISO 10110测试交付批次的折射率散射、应力双折射、条纹和气泡。根据要求，我们还可以提供更高精度的测试证书。对于高度均匀的切割坯料，我们通过干涉测量法确认均匀性。

• 

  表面镀膜反射镜

  中国大陆

  分类：光学反射镜

  厂商：Sherlan Optics

  反光涂层: Protected Aluminum 基质: BK7 平均反射率: 94% 波长范围: 400 - 700 nm 表面平整度: Custom

  先进表面镜（FSM），也称为前表面镜，具有施加到玻璃基板的前表面的反射表面。这些先进表面涂层镜特别适用于通用应用，并作为基本实验室设备的一部分。对于0-45度的入射角，这些反射镜的多层涂层跨越大约300nm的光谱。我们提供的所有镜子的先进个正面都涂有铝（Al），并涂有一氧化硅（SiO）或氟化镁（MgF2）。当光穿过玻璃到达反射表面，然后如在第二或后表面镜中那样穿过玻璃返回时，先进表面镜可以减少来自二次折射的失真和“重影”的机会。首先，表面镜对于某些应用是必不可少的，在这些应用中，光被操纵并且失真必须被较小化。典型用途包括望远镜，潜望镜，激光光学，军事和商业模拟器，相机和较近的3D扫描仪。雪兰光学可以提供近1000mm的大尺寸。

• 

  平场和成像光栅 523 00 010

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 8nm/mm 波长范围: 200 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 600l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 020

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 16nm/mm 波长范围: 400 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 300l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 030

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 24nm/mm 波长范围: 200 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 040

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 36nm/mm 波长范围: 300 - 1170 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 138l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 050

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 40nm/mm 波长范围: 200 - 1200 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 120l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 060

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 48nm/mm 波长范围: 200 - 1400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 080

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 4nm/mm 波长范围: 300 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 1200l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上，使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成，并经过计算机优化，以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比，该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 150

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 67.4nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 8.9mm F/Number: 2 沟槽密度: 130l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 210

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 15.6nm/mm 波长范围: 800 - 1000 nm 频谱长度: 12.8mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 595l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 410

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 1.1nm/mm 波长范围: 440 - 520 nm 频谱长度: 70mm F/Number: 6.7 沟槽密度: 2000l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 420

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 1.0nm/mm 波长范围: 250 - 450 nm 频谱长度: 203mm F/Number: 5.1 沟槽密度: 1800l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

• 

  平场和成像光栅 523 00 430

  美国

  分类：衍射光学元件

  厂商：HORIBA Scientific

  分散: 1.4nm/mm 波长范围: 100 - 400 nm 频谱长度: 210.4mm F/Number: 7.9 沟槽密度: 1340l/mm

  IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。