半导体计量的新工具应用研究和光子学模型TNS3Di–太赫兹纳米扫描光谱仪和3-D成像系统，利用其专有的树状聚合物偶极激发技术，提供我们已经证明的无与伦比的分析和成像能力，以实现先进材料和结构的革命。该系统展示了精确定位和催化深入研究的能力，并理解了全世界科学家和工程师一直在寻找的解决先进材料、半导体和相关设备、光子学和光电子学（包括显示器）、医疗、生物和制药应用以及原子/核水平研究中的一些较具挑战性的问题。有两种型号可供选择：（1）TNS3DI-FC，光纤耦合光束传输，较具通用性，X，Y=200 mm标准，高达450 mm选项。（2）TNS3DI-FS，小样品的自由空间光束传输，X，y≤100 mm。TNS3DI提供AFM、SEM、TEM和时域光谱仪的组合功能。它也是一种诊断工具，用于在日常操作中严重依赖半导体（微芯片）的美国军方和政府实验室。