半导体计量的新工具应用研究和光子学模型TNS3Di–太赫兹纳米扫描光谱仪和3-D成像系统，利用其专有的树状聚合物偶极激发技术，提供我们已经证明的无与伦比的分析和成像能力，以实现先进材料和结构的革命。该系统展示了精确定位和催化深入研究的能力，并理解了全世界科学家和工程师一直在寻找的解决先进材料、半导体和相关设备、光子学和光电子学（包括显示器）、医疗、生物和制药应用以及原子/核水平研究中的一些较具挑战性的问题。有两种型号可供选择：（1）TNS3DI-FC，光纤耦合光束传输，较具通用性，X，Y=200 mm标准，高达450 mm选项。（2）TNS3DI-FS，小样品的自由空间光束传输，X，y≤100 mm。TNS3DI提供AFM、SEM、TEM和时域光谱仪的组合功能。它也是一种诊断工具，用于在日常操作中严重依赖半导体（微芯片）的美国军方和政府实验室。

Bakman Technologies组装了世界上的便携式，交钥匙，频域太赫兹光谱仪。我们有能够执行高分辨率光谱学的单通道和双通道系统。单通道仪器可以被配置用于透射或反射测量，而双通道THz光谱仪能够同时测量来自样品的透射和反射THz功率。我们的便携式系统集成在仅重2.5千克的机箱中。我们还使用Telecomm公认的做法来包装我们自己的光混合器。我们的光混合器非常坚固，能够在低至4.5开尔文的温度下重复使用。我们的光谱仪销往世界各地，并已用于多种应用，包括：材料表征，石油分析和生物传感。我们的客户认识到，与依赖昂贵的锁模激光器的时域系统不同，光混合系统只需要两个半导体激光器，因此具有极高的可扩展性。这意味着我们的技术是为大型市场开发应用程序的研究人员较可行的选择。