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  NanoCam Sq动态表面轮廓仪

  美国

  分类：光学表面轮廓仪

  厂商：4D Technology

  光源类型: Pulsed LED 光源波长: 460nm 样品反射率: 1 - 100 % 垂直范围: 115nm 有效值重复性: <0.005 nm

  NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进，并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量，NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要，NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法（Dynamic Interferometry®），集成了高速光学传感器，测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短，NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量，因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑，重量轻，可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度，NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数（S参数），并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。