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  • 710-VP高光谱成像系统 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom

    传统的线扫描超光谱成像系统(或推扫式系统)需要一个平移台来移动相机前方的目标样本,这需要多个平移台或额外的硬件来执行各种实验室和现场实验设置。对于SOC710-VP,传感器在镜头后面移动,扫描速度或平移速率与系统的曝光和增益参数密切相关。外部扫描系统需要操作员手动计算,以便正确设置载物台的速率,从而获得较佳结果。SOC710-VP的小尺寸和无外部载物台硬件使其非常便携,是受益于现场数据收集的应用的较佳选择。

  • 光影变幻 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    成像模式: Photoluminescence (PL) 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom

    快照光谱成像仪是在单个探测器积分期间获得整个光谱数据集的系统,因此在快速变化现象的光谱成像中具有明显的优势。即使是快照系统生成的信息量也仍然是一个关键的挑战,因为它们在许多实际任务中的应用取决于处理大量数据并对其进行实时决策的能力。快照光谱成像仪的处理速率必须与图像的实时采集保持同步。LVIRA从初始增益和偏移补偿以及光谱辐射校准到面向决策的处理(包括使用各种算法的光谱相关),对图像进行实时光谱处理。LightShift™是先进款具有视频速率采集和处理功能的商用多模式快照光谱和偏振成像仪。同时捕获每个像素的光谱、光场和偏振信息。单独地,这些尺寸提供了场景的部分表示。LightShift加入它们以实现更好的分类性能,并为研究人员提供查看目标对象的新功能。

  • SOC750中波红外高光谱成像仪 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Not Available 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range

    SOC750-HB是一种实时、军用级、遥感中波红外高光谱成像系统。SOC750-HB可用于气体泄漏检测、光谱特征测量、化学物质识别和定量等要求苛刻的应用。SOC75-HB由超高速、高灵敏度中波红外阵列、成像光谱仪、集成扫描系统和矢量处理器组成,能够以每秒11个立方体(256 X 240像素X 42波段)的速度获取和处理光谱图像,分辨率为14位。可以以较高的速度获取较低空间分辨率的立方体。该系统的光谱响应为2-5微米的中波红外。光谱分辨率为73nm。HS数据立方体大小为5.25 MB。该系统包括一个实时高光谱图像处理器,用于辐射校准图像,执行传感器仿真,并同时在光谱图像上执行多达四个光谱相关算法。所有处理都以完整立方体速率进行。SoC750-HB成像仪由SoC的定制HSAnalysis3软件支持,具有用户友好的图形用户界面。