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  费佐干涉仪（Verifire Fizeau）

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的VeriFire™干涉仪系统可对普莱诺或球面以及光学系统和组件的透射波前进行快速高精度测量。测量玻璃或塑料光学元件（如平面、透镜和棱镜），甚至精密加工的金属和陶瓷表面。VeriFire™系统采用真正的激光斐索设计，扩展了Zygo在表面形状计量方面无与伦比的经验。轴上配置与Zygo的专利采集算法和全功能MX™计量软件相结合，可实现具有高级分析功能的高精度表面形状计量。

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  Verifire高清干涉仪系统

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的VeriFire™HD干涉仪系统提供平面或球面的快速高分辨率测量，以及光学元件和组件的透射波前测量。干涉腔长度被精确调制，同时高速相机捕捉多个条纹图像，这些图像由软件进行分析，以创建被测零件的高度详细的测量结果。

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  Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。