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自由光谱范围
Free Spectral Range(FSR)（GHz）
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波长
Wavelength（nm）
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专业选型
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正规认证
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品质保障
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heliInspect H8
厂家：Heliotis AG
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heliOptics WLI6
厂家：Heliotis AG
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类型: Multiple Axis Interferometer 测量类型: Angle, Length 目标形状: 2D, 3D 应用: Plane Mirror Measurement -
类型: Multiple Axis Interferometer 目标形状: 2D, 3D 应用: Plane Mirror Measurement是德科技（Keysight Technologies）的E1715A是一款专为现代激光计量系统设计的3轴干涉仪。它基于Keysight先进的单片光学设计技术，具有高指向稳定性。该干涉仪集成了带有ST连接器的远程传感器，无需单独安装远程传感器。它的光学分辨率为λ/4，采用平面镜，输出效率为18%。该干涉仪产生直径为4 mm的光束，平行角小于25μrad（轴1-2和轴1-3），并且相对于加工基准具有出色的光束角精度。除标准配置外，E1715A还有三个可选版本-一个不包括远程传感器，一个包括输入弯折镜，第三个版本结合了这两个选项。它采用紧凑的不锈钢外壳，尺寸为68 X 55 X 44 mm，输出耦合到400微米塑料或玻璃光纤，配有ST连接器，NA为0.39。
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类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness MeasurementMicro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达45毫米，频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
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类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness MeasurementMicro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达70毫米，连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
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类型: White light interferometer 测量类型: Length, Distance 波长: 840 nm 应用: Distance MeasurementMicro-Epsilon的IMS5600-DS是一款波长为840 nm的干涉仪，工作温度为5至70摄氏度，存储温度为-20至70摄氏度。有关IMS5600-DS的更多详细信息，请联系我们。
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类型: Laser Interferometer 测量类型: Thickness, Length 波长: 632.8 nm 应用: Dimension Measurement, Gage Block Measurement普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。
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干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英（UV-可见或IR）基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用，间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料，例如ZeroDur或Ule。
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干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 780nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um, 543nm, 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves光纤通信要求光学元件极度小型化。针对DWDM（密集波分复用）、线路窄化和信道监控等应用，TecOptics推出了新的微标准具系列。新开发的制造技术使TecOptics能够以低廉的价格提供大量这些微型空气间隔和固体标准具。空气间隔版本具有小至4.5mm X 2mm X 3mm的尺寸，而固体微标准具横截面可以小至2mm。精细度值可以大于100。
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干涉仪配置: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves固体标准具通常具有熔融石英衬底，其材料等级（例如UV-可见光或IR）取决于光谱区域。通常，对表面进行研磨、抛光和加工，使其平整度优于L/100，表面之间具有类似质量的平行度。电介质（或很少是金属）涂层提供所需精细度所需的反射率。
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类型: Common-Path Interferometer 波长: 1250 to 1350 nm 探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 RoHS: YesThorlabs公司的INT-COM-1300是波长为1250至1350nm的干涉仪。有关INT-COM-1300的更多详细信息，请联系我们。
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类型: Michelson Interferometer 波长: 1250 to 1350 nm 探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 RoHS: YesThorlabs Inc的INT-MSI-1300是波长为1250至1350 nm的干涉仪。有关INT-MSI-1300的更多详细信息，请联系我们。
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类型: Michelson Interferometer 波长: 1250 to 1350 nm 探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 RoHS: YesThorlabs公司的INT-MSI-1300B是一种波长为1250至1350nm的干涉仪。有关INT-MSI-1300B的更多详细信息，请联系我们。
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类型: Mach-Zehnder Interferometer 波长: 1225 to 1375 nm 探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 RoHS: YesThorlabs公司的INT-MZI-1300是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为103.3 GHz，波长为1225至1375 nm.有关INT-MZI-1300的更多详细信息，请联系我们。
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类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Wavelength 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes 应用: Telecommunication, Spectral AnalysisThorlabs公司的SA200-2B是一款双波长法布里-珀罗干涉仪，工作波长为290-355 nm和520-545 nm.它的自由频谱范围（FSR）为1.5 GHz，频率分辨率为7.5 MHz.该共焦扫描干涉仪具有50mm的腔长，典型的精细度超过200，并且它由具有低扫描电压的超稳定无热殷钢腔构成。该干涉仪的外壳材料由黑色阳极氧化铝制成。它有一个内置的探测器单元，是电信和光谱分析应用的理想选择。
