• CASTECH--超级抛光光学元件 光学窗口片
    中国大陆
    分类:光学窗口片
    厂商:Castech Inc.
    基底材料: N-BK7, Fused Silica, UV Grade Fused Silica, IR Grade Fused Silica, Sapphire 抗反射涂层: Coated, Uncoated 直径: 10mm 表面质量: 10-5 scratch-dig 表面平整度: lambda/10

    超级抛光技术是一种专门为实现较小粗糙度值而开发的光学制造技术。Castech制造的超级抛光基板能够在熔融石英和光学玻璃等材料上实现低于2的粗糙度水平。用Zygo Newview 8300和原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度。

  • CM-1紧凑型大容量低频负刚度减震器 光学平台
    美国
    分类:光学平台
    隔振系统高度: 216mm 垂直运动范围: 2.5mm 自动液位控制的精度: mm, Not Specified mm 垂直谐振频率: 0.5Hz 水平谐振频率: 0.5Hz

    用于50至1050磅重量负载的低频隔振器。和1/2Hz性能垂直和水平。新型CM-1是一款紧凑型高容量、低频负刚度隔离器。与所有负K隔离器一样,它们是完全被动的,不使用空气或电力。隔离器可以组合成多个隔离器系统,以支持沉重的有效载荷,同时占用很小的空间。CM-1隔离器可以放置在底座上,使其达到适当的高度,以改造您现有的气垫桌,使您能够保持现有的桌面,并实现更好的隔离。CM-1隔离器有多个容量范围,以匹配您的振动敏感仪器,如SPM(AFM、STM等)、显微硬度计、轮廓仪、干涉仪、电子显微镜或其他成像系统。如果需要,CM-1隔离器可以定制,以满足用户的特定需求。例如,不同的水平和垂直频率、阻尼等。它们也可以在洁净室和真空中使用。兼容。

  • Cypher ES环境原子力显微镜 显微镜
    英国
    分类:显微镜
    扫描范围: 3um 扫描范围: 9um

    庇护研究Cypher ES建立在Cypher S的卓越性能之上,并增加了完整的环境控制功能。在受控的气体或液体环境中,在0-250°C的温度范围内,以及在一些较恶劣的化学环境中,都能保持相同的高分辨率、速度和稳定性。Cypher ES是满足较苛刻实验要求的先进AFM。

  • Cypher ES聚合物版原子力显微镜 显微镜
    英国
    分类:显微镜
    扫描范围: 3um 扫描范围: 9um

    CYPHER ES聚合物版是CYPHER ES AFM的一种特殊配置,专为聚合物科学研究量身定制。它具有与Cypher ES相同的卓越性能和多功能性,但标配了BlueDrive光热激发、我们的NanoMechPro工具箱中用于纳米机械表征的三种强大技术以及高温聚合物加热器。

  • Cypher S原子力显微镜 显微镜
    英国
    分类:显微镜
    扫描范围: 3um 扫描范围: 9um

    Asylum Research Cypher S是Cypher AFM显微镜系列的基础型号。Cypher S是先进款商用快速扫描原子力显微镜,Cypher系列原子力显微镜仍然是先进一款与全系列模式和附件兼容的全功能快速扫描原子力显微镜。Cypher AFM也赢得了比其他AFM更容易实现更高分辨率的声誉。CYPHER S是一款出色的原子力显微镜,可用于材料科学和生命科学研究,以及空气和液体中的环境测量。Cypher S可在以后完全升级,用于环境控制选项,甚至是视频速率扫描。

  • 成像椭圆仪Nanofilm-ep4 光学计量
    德国
    分类:光学计量
    厂商:Halcyonics GmbH
    光谱范围: 250 - 1700 nm 光谱分辨率: 300nm 入射角: 1 - 1 deg

    新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法,能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域,即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能,允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构,并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计、拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。

  • 用于扫描探针显微镜的MountainsSPIP图像分析软件 显微镜配件
    法国
    分类:显微镜配件
    厂商:Digital Surf

    基于行业标准的Mountains®技术,现在还包括所有较好的SPIP™(图像计量)交互和分析工具,MountainsSPIP®软件包含市场上较先进的专业工具集,用于扫描探针显微镜图像分析。应用交互式粒子分析-分析力曲线和力体积图像-通过结合SPM图像和来自其他仪器的数据执行相关分析-分析多通道文件-处理来自任何扫描探针显微镜(包括原子力显微镜(AFM))的数据-校正、标准化和去噪测量数据-确保正确的XY校准-正确的高端效应-根据ISO标准表征表面纹理。

  • Nano-LR200压电式纳米定位器 显微镜配件
    美国
    分类:显微镜配件
    厂商:Mad City Labs

    Nano-LR200设计用于提供大范围的单轴平移,具有绝对较小的轴外运动。Nano-LR200的独特设计可产生小于5 nm的平面外运动;在200μm运动范围内的整个移动平台上进行测量。Nano-LR200设定了单轴精度和定位性能的较高水平。内部位置传感器采用专有的PicoQ®技术,在闭环控制下以亚纳米精度提供绝对、可重复的位置测量。Nano-LR200非常适合需要极高并行性的应用,如计量、AFM和MEMS。

  • TMAP NST3D非接触式全场计量解决方案 光学检测
    法国
    分类:光学检测
    厂商:FOGALE Nanotech

    TMAP NSTIS是一种基于光学显微镜的非接触式全场计量解决方案,能够在纳米尺度上进行表面形貌测量。TMAP NSTI突破了传统显微镜的界限,其性能超越了接触轮廓术,进入了AFM领域。

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