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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素(宽度): 1040 # 像素(高度): 1392
µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm ADC: Other
低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。
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传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm ADC: Other
在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1310 nm # 像素(宽度): 720 # 像素(高度): 576
用于激光束分析的完整系统,由一个CCD摄像头、一套外壳中的3xNG Schott彩色滤光片(NG4、NG9、NG10)、一个USB 2.0附件、CD盘上的软件、手提箱和用户手册组成。Beamon系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它测量激光束的参数,如:强度分布,光束宽度,形状,位置和功率。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能(参见下载中的示例)。Beamon配有USB附件和软件驱动设备,可通过高速USB 2.0端口连接到笔记本电脑(或台式机),并在Windows 7操作系统(32位和64位)和Windows 8上运行。CCD轮廓仪克服了相机型光束轮廓仪有限的动态范围,每次测量都以不同的衰减或电子快门速度进行。Duma专利技术使用户能够查看小于激光束较大功率密度1%的特征。