沃拉斯顿棱镜偏振器由两个相等的方解石棱镜组成。两个输出光束几乎相等地偏离。输出光束的角距取决于波长。较高等级方解石的使用提供了覆盖300–2200 nm范围的有用传输。

沃拉斯顿棱镜偏振器由两个相等的方解石棱镜组成。两个输出光束几乎相等地偏离。输出光束的角距取决于波长。较高等级方解石的使用提供了覆盖300–2200 nm范围的有用传输。

沃拉斯顿棱镜偏振器由两个相等的方解石棱镜组成。两个输出光束几乎相等地偏离。输出光束的角距取决于波长。较高等级方解石的使用提供了覆盖300–2200 nm范围的有用传输。

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用于高功率激光应用。这种由单晶石英制成的零级空气间隔板具有17mm的通光孔径。

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Elara FB-Series ID将一流的热成像细节和高性能板载视频分析结合在一个经济实惠的子弹型外形中，是周界入侵检测的理想选择。Elara FB系列ID摄像机具有车载视频分析功能，能够对人类或车辆入侵进行分类，使其成为监控商业和工业周边环境的理想选择。Elara FB系列ID摄像机易于设置，可提供可靠的检测和分类，无需人工干预，误报率极低。Elara FB-Series ID配备了FLIR屡获殊荣的散热技术，旨在应对具有挑战性的环境或恶劣天气，并可在完全黑暗的环境中运行。

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Elara FB-Series ID将一流的热成像细节和高性能板载视频分析结合在一个经济实惠的子弹型外形中，是周界入侵检测的理想选择。Elara FB系列ID摄像机具有车载视频分析功能，能够对人类或车辆入侵进行分类，使其成为监控商业和工业周边环境的理想选择。Elara FB系列ID摄像机易于设置，可提供可靠的检测和分类，无需人工干预，误报率极低。Elara FB-Series ID配备了FLIR屡获殊荣的散热技术，旨在应对具有挑战性的环境或恶劣天气，并可在完全黑暗的环境中运行。

光纤激光系统已成为大多数应用的优选系统：它们提供更好的光束质量，并且速度极快。此外，低维护成本、高效率和小占地面积是该技术的优点。高功率激光器在光纤激光器家族中确立了独特的地位。凭借其卓越的光束质量和高达40%的高插拔效率，它们能够高速切割较厚的材料，从而提高生产率和切割质量。

Electra是激光指示器中可用的较短波长，它产生的激光非常接近405nm可见光谱的紫外部分。这种激光的独特性质包括激发荧光和磷光材料的能力。

OZ Optics提供全系列低成本、紧凑型PC板可安装电机驱动的低背反射可变衰减器。这些衰减器具有出色的速度、可重复性和精度。单模和偏振保持（PM）衰减器利用新颖的阻塞式衰减技术，而多模衰减器使用可变中性密度滤波器来较小化模式相关损耗。这两种类型都具有归位传感器来校准衰减器，消除了使用外部抽头的需要，以及防干扰调谐机制。通常，OZ Optics在构建保偏元件和跳线时使用基于熊猫光纤结构的保偏光纤。然而，OZ光学器件可以使用其他PM光纤结构来构造器件。我们确实有一些替代纤维类型的库存，所以请联系我们的销售部门了解供货情况。如有必要，我们愿意使用客户提供的光纤来构建设备。

OZ Optics提供全系列低成本、紧凑型PC板可安装电机驱动的低背反射可变衰减器。这些衰减器具有出色的速度、可重复性和精度。单模和偏振保持（PM）衰减器利用新颖的阻塞式衰减技术，而多模衰减器使用可变中性密度滤波器来较小化模式相关损耗。这两种类型都具有归位传感器来校准衰减器，消除了使用外部抽头的需要，以及防干扰调谐机制。通常，OZ Optics在构建保偏元件和跳线时使用基于熊猫光纤结构的保偏光纤。然而，OZ光学器件可以使用其他PM光纤结构来构造器件。我们确实有一些替代纤维类型的库存，所以请联系我们的销售部门了解供货情况。如有必要，我们愿意使用客户提供的光纤来构建设备。

OZ Optics的电驱动偏振控制器（EPC）提供了一种简单、有效的方法来操纵单模光纤内的偏振态。该器件采用新颖的机械光纤挤压技术，由三个或四个（取决于型号）输入电压控制，其中一个在±5 V范围内变化，以在坚固耐用、易于操作的封装中提供无限偏振控制。控制器的快速响应速度很容易处理由外部环境引起的偏振变化，并且非常适合于偏振扰频，用于平均PDL效应，或者用于进行PMD或PDL测量。由于器件内的光纤是连续的，因此所有插入损耗、回波损耗和PDL效应仅受光纤本身的限制。这使其成为精密测试和测量应用的理想选择。

普克尔盒用于当向电光晶体（如KD*P、BBO、RTP等）的电极施加电压时，改变通过它的光的偏振态。Castech具有不同类型的BBO和DKDPQ开关，具有高损伤阈值和消光比。

这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分析结果。薄膜FP方法可用于涂层样品上薄膜厚度的无损测量。使用较多9种类型的过滤器和样品室真空装置，可在整个能量范围内进行高灵敏度分析。可选的12位自动进样器可通过连续采集加快分析速度。