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激光类型: Continuous Wave (CW) 纤维类型: Single Mode 波长: 635nm 输出功率: 5000mW 纤维芯直径: 105um
BWT Beijing'的高功率二极管激光模块采用专门的光纤耦合技术制造,产品具有高效率、稳定性和卓越的光束质量。这些产品是通过使用特殊的微光学器件将来自激光二极管芯片的非对称辐射转换为具有小芯径的输出光纤来实现的。每一个环节的检测和老化程序都是为了保证每一件产品的可靠性、稳定性和长寿命,我们的研发人员在长期积累的专业知识和经验的基础上,在生产过程中不断改进和创新加工工艺。我们还不断开发新产品,以满足客户的特定需求。在BWT北京,以合理的价格提供高质量的产品是我们一贯的目标。
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调谐范围: 520 - 700 nm 极化: Unspecified
DYE-FD-08型腔内倍频染料激光器是物理和纳米技术领域光谱研究的较佳选择。在Dye-FD-08中使用的染料具有520至700nm(基波波长)和260至350nm(二次谐波波长)的工作光谱范围。根据所使用的光学元件,发射线的宽度为0.05-0.01nm。当抽运功率为10W时,基波输出功率达到1.5W,二次谐波输出功率超过200mW。型号TIS-SF-08使用线性谐振器配置,具有用于非线性晶体的附加束腰。这就是二次谐波(SH)辐射从非线性晶体的两端发射的原因。为了在非线性晶体的一侧上收集所有SH辐射,使用反射基频辐射和SH辐射两者的分色镜(M4)。在晶体的另一侧安装另一分色镜(M5),但是该分色镜仅对于基频辐射是全反射的,对于SH辐射具有大的透射率(T80-85%)。通过该反射镜,从腔中提取SH输出,该腔将基波辐射锁定在内部。
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调谐范围: 550 - 700 nm 极化: Unspecified
稳频连续单频环形染料激光器,型号DYE-SF-077,是型号DYE-SF-07的进一步发展。它现在包括一个基于热稳定干涉仪的频率稳定系统和一个快速电子驱动器。Laser Dye-SF-077具有极窄的谱线宽度,小于100kHz/s。DYE-SF-077为商用激光器的谱线宽度设定了新标准。在该模型之前,商用染料激光器的较窄线宽为500kHz-1MHz。需要注意的是,在DYE-SF-077中实现了100kHz的线宽,而没有使用声光调制器,这通常会使设计变得复杂并引入额外的损耗。为了在较宽的频率范围内有效抑制激光染料SF-077的辐射频率波动,采用了一种特殊设计的超快压电陶瓷。DYE-SF-077激光腔具有水平取向,腔元件的光学支架连接到刚性基板上,该基板由下面带有三个殷钢棒的体积框架进一步稳定。激光器基座的隔振设计提供了腔元件位置的附加被动稳定性。
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水晶类型: TeO2 水晶直径: 10mm 水晶长度: 8.2mm AR 涂层: One side
Er3+的发射跃迁发生在4I13/2→4I15/2的波长范围内。然而,Er3+吸收本身太弱而不允许直接泵浦,因此需要能量转移。较有效的是Yb3+离子从2F7/2→2F5/2跃迁吸收,随后能量转移到4I11/2Er3+能级,并快速无辐射跃迁到Er3+4I13/2能级,发射预期的荧光。辐射输出波长为1540 nm的Er,Yb:玻璃激光器不需要添加额外的组件。Er3+/Yb3+共掺磷酸盐玻璃——作为LD泵浦的1540nm人眼安全辐射源,可直接发射人眼安全的1540nm激光辐射,用于激光测距和通信领域1540nm Er3+/Yb3+共掺磷酸盐玻璃激光器是一种人眼安全波段激光器,由于1540nm波长正好处于人眼安全和光纤通信窗口的位置,其结构紧凑、成本低,在激光产生和信号放大等方面备受关注,已被应用于测距、雷达、目标识别等领域。Er~(3+)/Yb~(3+)共掺磷酸盐玻璃配合被动调Q晶体-Co:尖晶石获得1540nm脉冲固体激光。
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传感器类型: CCD # 像素(宽度): 768 # 像素(高度): 494 全帧速率: 470fps
这种彩色视频平视显示器摄像机是军用标准和商用现成部件的智能组合,在A/0A-10A和F-16A/B/ADF平视显示器上都能成功运行。摄像机系统提供了全军用标准摄像机的独特功能和可靠性,而没有高成本。摄像机组件直接安装在组合玻璃后面的平视显示器顶部,以便精确记录飞行员看到的内容,包括外部世界和平视显示器符号。摄像机将光学图像转换为电子视频信号,以输出到机载视频记录器或发射器。摄像机电子设备结合了广泛的过滤,以使用飞机电源提供卓越的、无噪声的图像质量。A/0A-10A平视显示器摄像机在美国空军、ANG和AFRES的A/0A-10A飞机上运行了超过11年,具有良好的记录。
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活动区域: 25mm 活动区域: 17mm
我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管(JFET)以及外部前置放大器,与此不同的是,快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体(CMOS)前置放大器,并用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)取代JFET。这显著降低了电容,大大降低了串联噪声,并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器,但带有前置放大器,在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的(较低的)分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线,否则峰值将重叠,从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进;更多的计数提供更好的统计数据。
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波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec
FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案,具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,具有宽光谱范围,可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸,非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振(MADP)和差分功率谱密度(DPSD)技术,利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度,FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜(尤其是多层堆叠中的薄膜)的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包,配有先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改,以满足客户的独特需求。