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PowerPhotonic的带微笑校正的慢轴准直器(SMILESAC)系列在业内是少有的。它们用于同时减少二极管激光棒的慢轴发散度和微笑误差。SMILESAC由柱面透镜的单片阵列组成,在单个光学器件中具有额外的微笑误差校正。它们可用于一系列标准焦距、节距组合和微笑误差校正选项。标准产品具有抛物线微笑校正。但它们可以为每个发射器指定自定义指向误差校正。PowerPhotonic的微笑校正SAC是使用该公司正在申请专利的激光微加工工艺制造的,该工艺提供了无与伦比的性能和灵活性。光学表面非常光滑,导致非常低的散射。它们与不同的激光棒和堆栈兼容,可以在系统中指定一致的微笑误差,在生产测试中选择或为每个棒单独定制。
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波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 1sec
光谱产品公司正在提供新的SM245高速2048像素阵列CCD光谱仪。得益于SM245电子板上的增强设计,暗电流噪声水平和数据采集速度都得到了改善。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高速数据采集。SM245可通过内置狭缝或光纤直接接收光线。SM245采用耐用的铝制外壳,可在各种温度下提供稳定的光具座操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。SM642的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新的紫外增强涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新的UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。
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波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 0.01sec
SM445是一款新型紧凑型CCD光谱仪,可与PC配合使用。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高动态范围应用。SM445可通过内置狭缝或光纤直接接受光线。SM445采用耐用的铝制外壳,可在较宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于SM445的Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备设计用于高灵敏度但稳定的操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。得益于更多的像素数量,SM445更适合需要更高分辨率的应用。SM445的标准接口是具有16位扩展动态范围的USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现更高的宽范围分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新型紫外增感涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外增感涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新型UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Not Available 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range
SOC750-HB是一种实时、军用级、遥感中波红外高光谱成像系统。SOC750-HB可用于气体泄漏检测、光谱特征测量、化学物质识别和定量等要求苛刻的应用。SOC75-HB由超高速、高灵敏度中波红外阵列、成像光谱仪、集成扫描系统和矢量处理器组成,能够以每秒11个立方体(256 X 240像素X 42波段)的速度获取和处理光谱图像,分辨率为14位。可以以较高的速度获取较低空间分辨率的立方体。该系统的光谱响应为2-5微米的中波红外。光谱分辨率为73nm。HS数据立方体大小为5.25 MB。该系统包括一个实时高光谱图像处理器,用于辐射校准图像,执行传感器仿真,并同时在光谱图像上执行多达四个光谱相关算法。所有处理都以完整立方体速率进行。SoC750-HB成像仪由SoC的定制HSAnalysis3软件支持,具有用户友好的图形用户界面。
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支持的目标: Not Specified 照明: Coaxial 焦点控制: Not Specified XY 机械平台: Not Included 目镜: Not Specified
Son of MOM®(SOM®)是一种小型、简单的显微镜,设计用于在体内和体外实验中使用单一的实验装置。正如在我们的双光子可移动物镜显微镜(MOM)中一样,在样品上的定位和聚焦是由机器人完成的。这消除了对大型转换器和平台的需求,这些转换器和平台通常会限制活体实验目标下方的可用空间。例如,SOM将允许在某一天对体内神经元进行全细胞膜片记录,然后在下一天对切片进行多细胞记录。SOM开启了实验的可能性,否则可能会受到现代实验室不断增长的空间限制的限制。SOM旨在充分利用我们的Freemulti-Link™软件程序进行显微操作器定位。例如,在切片的全细胞膜片记录过程中,通常需要搜索大面积的组织以找到适合你的实验的神经元。使用SOM,您只需翻译样本即可搜索目标。然后,软件程序将检索您的记录和刺激移液管,以便您可以立即开始记录。此外,如果您发现需要刺激当前物镜视野以外的区域,程序将允许您锁定记录移液管的位置,并将物镜和刺激移液管重新定位到所需位置。还提供可选的倾斜相干对比度(OCC)聚光器,该聚光器由LED照明。聚光镜与显微镜一起在X和Y轴上平移,这允许在样品上重新定位SOM的过程中保持一致的照明。工作原理:SOM旨在利用简单的基于红外LED的透射光源与具有红外功能的CCD相机相结合所获得的高质量图像。这种组合足以满足大多数体外电生理学的需要。SOM还设计有两个位置的过滤立方体,以允许识别用于记录或光刺激的荧光标记细胞。如果填充两个滤镜立方体位置,其中一个滤镜组将需要通过IR以允许透射光成像。由于许多滤光器组合将通过IR,因此透射光成像通常可以在两个滤光器位置中的任一个中进行。显微镜的荧光激发端口具有C-Mount螺纹以及用于标准笼组件的安装孔。这允许用户根据各种实验需要进行定制。例如,多个光源可以用小的笼组件耦合到激发端口。
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产品类型: Grains
它适用于谷物、谷类、油籽和面粉等多种食品的成分分析。可以同时分析谷物产品的所有可能的谷物质量检查参数,例如蛋白质、水分、油、灰分、硬度和吸水性。样品直接从顶部填充到SpectraalyzerGrainAnalyzer的样品池中,根本不需要研磨或其他样品制备。样品将通过坚固的进料装置通过样品室进料,并自动排出。为了分析粉末样品,例如小麦粉,可选的面粉模块作为附件提供。每个谷物分析仪可配备测试重量模块(即蒲式耳重量、百升重量或比重),以确定样品的体积重量比。自动路径长度调整使用户能够快速分析大量的全谷物和油籽样品。全谷物质量检查仪器由易于使用的图标驱动软件控制,使用称为COS中央操作滑块的现代界面玻璃面板滑块和640×480像素的彩色TFT显示屏。创新的图形用户界面及其功能使用起来非常直观。用户界面由玻璃制成,便于卫生清洁和多年免维护操作。