用于IR的玻璃纤维的芯由具有低OH含量和在整个直径上具有均匀折射率的纯熔融石英玻璃组成。光纤的波长范围为400nm至2400nm（可见-红外）。纤维本身覆盖有由丙烯酸酯、硅树脂或聚酰亚胺组成的涂层。多模光纤不仅用于光学数据传输，还用于传感器技术、光谱学、医疗技术和激光应用。

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Amptek很高兴提供我们改进的硅漂移探测器（SDD）系列，用于扫描电子显微镜（SEM）中的能量色散谱（EDS）。使用我们获得专利的C系列氮化硅（Si3N4）X射线窗口，我们的FAST SDD®的低能量响应可向下延伸至铍（Be）。具有高本征效率的快速SDD®适用于EDS，也称为能量色散X射线光谱（EDX或XEDS）和能量色散X射线分析（EDXA）或能量色散X射线微量分析（EDXMA）。

这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分析结果。薄膜FP方法可用于涂层样品上薄膜厚度的无损测量。使用较多9种类型的过滤器和样品室真空装置，可在整个能量范围内进行高灵敏度分析。可选的12位自动进样器可通过连续采集加快分析速度。

EOT硅。

光敏器件是一种坚固耐用的硅光电二极管，具有长期稳定性，与新的专利放大系统一起带来了非常高的灵敏度。探测器经过仔细过滤，以产生与人眼相同的光谱响应特性，如CIE标准。该遥感器配有2米长的软电缆。延长电缆也可用于在距探测器任何所需距离处进行测量。该仪器具有内置温度补偿功能。“保持”功能可保留显示值。为电池消除器提供直流输入，为外部仪器（如记录器、计算机和记录器）提供模拟输出。

我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管（JFET）以及外部前置放大器，与此不同的是，快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体（CMOS）前置放大器，并用金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）取代JFET。这显著降低了电容，大大降低了串联噪声，并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器，但带有前置放大器，在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的（较低的）分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线，否则峰值将重叠，从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进；更多的计数提供更好的统计数据。

FastGateDSPAD模块是一款紧凑型检测模块，能够选通硅SPAD，用于宽动态范围光学测量。该模块包括一个快速脉冲发生器，在高达80 MHz的重复率下，门控转换低于200 PS，具有完全可编程的导通时间和过量偏置。差分前端电子设备拾取具有低时序抖动的雪崩脉冲。该模块也可以在自由运行模式下运行，SPAD始终开启。该模块的主要特点是由于快速的开关转换，可以增加TCSPC系统的动态范围。因此，通过仅在明确定义的时间窗口中启用检测器，可以从巨大的背景中提取弱信号。通过使用外延SPAD和优化的微波布局来减少快速门转换后电压振荡的影响，获得了良好的光子探测效率和时间分辨率。FastGateDSPAD模块通过PC软件界面进行控制，其中可以设置所有相关的门参数（int./ext。触发、门频率、门宽度）和探测器的所有参数：温度、过量偏压和截止时间。通过这种方式，可以在DCR、截止时间和光子探测效率方面调整探测器性能，以便适当地匹配用户应用的要求。

FWPR-20系列光接收器将低噪声Si或InGaAs PIN光电二极管与专门设计的跨阻放大器相结合，具有高达1012 V/A的极高增益和极低噪声。这种独特的组合使光接收器具有飞瓦灵敏度，因为其噪声等效功率（NEP）极低，为0.7 FW/√Hz。直接检测低至CA的光功率。50fW是可能的，而不需要在接收器之后进行进一步的平均。

光纤束和线性阵列是简单的由多个光纤组成的光纤组件。使用多根光纤有几个重要的好处：•直径超过1毫米的孔径可轻松且经济高效地容纳。•多个较小纤芯光纤束的柔韧性优于单个较大直径光纤的柔韧性。•多根光纤可以配置在几乎任何可以想象的横截面中，并且两端可以具有不同的横截面。RSOF使用所有标准类型的光纤制造光纤束或阵列。这些包括硅芯/硅包层、硅芯/塑料包层、全塑料、硼硅酸盐玻璃或其他更奇特的结构。这些纤维表现出0.12至0.66的NAS。RSOF提供较广泛的材料，以便根据技术和经济要求定制产品。RSOF可以提供标准的终端配件，如套圈或OTS连接器，但也可以提供定制的终端配件，以适应您的特定或OEM应用。规格A：纤维类型二氧化硅/二氧化硅（UV/VIS）二氧化硅/二氧化硅（可见/近红外）二氧化硅/二氧化硅低日晒聚合物包层（高NA）Hoh聚合物包层（高NA）LOHPOF/PMMA其他B.纤维尺寸50um6。500微米100um 7.600um200um8.800um300微米9.1，000微米400um10.其他C.连接器/端部配件SMA9054。外径0.250的套圈O型圈SMA5。外径为10mm的套圈FC6。其他圣D.护套PVC管PVC分叉管PVC单线圈柔性SSTL BX特氟隆管编织SSTL/PTFE软管其他E.光纤数量/孔径大小建议纤维或孔的数量（圆形、狭缝形、矩形或其他）。F.支腿数量建议支腿数量G.其他细节每条腿的孔径或光纤数量、总长度和断裂腿长度、环境或化学暴露问题。

FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。

FineSight拒绝了基于Czerny-Turner的设计，并采用了卓越的光具座。该系统在灵敏度和分辨率方面提供了更好的性能。简单地说，这是一个更好的系统。FineSight既坚固又可靠。FineSight在弱光源下的优异性能使其成为拉曼光谱的理想选择。其高分辨率是激光诱导击穿光谱（LIBS）的理想选择。