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光纤类型: Fiber Coupled 声光材料: Tellurium Dioxide (TeO2) 应用: Optical modulation, pointing adjustment 颜色: VIS, NIR RoHS: Yes
来自L3Harris Technologies的H-411是二氧化碲(TeO2)声光调制器(AOM),其具有从488到800nm的光学波长。它的标称中心频率为80 MHz,偏转带宽为65-95 MHz,总偏转角为3.8 mrad.该AOM具有30dB的最小开/关对比度和超过80%的衍射效率。它的光束直径为0.2-0.35 mm,最小上升时间为45 ns.H-411仅改变射频源波形的相位以调制光强度,从而确保无论数据速率条件如何,始终向设备施加恒定的输入功率。这也消除了传统AOM驱动技术中出现的瞬态热条件,并提高了波束指向稳定性。它具有先进的相干传感器阵列技术,采用精确的数字驱动技术,使其能够在RF相位调制模式或传统的开/关脉冲RF模式下工作,以扩展开/关对比度,其中光束指向稳定性并不重要。H-411可用于尺寸为1.9 X 1.5 X 1英寸的模块中,是可见光和近红外(NIR)系统中的光学调制和预偏转、调制的理想选择。可见光和近红外激光系统的指向调整和微加工。
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光纤类型: Free Space 声光材料: Tellurium Dioxide (TeO2)
GWU-Lasertechnik Vertriebsges的CAOM-F-A1-TET-W-C是一种二氧化碲(TeO2)声光调制器(AOM),工作波长为1064 nm.它的有效孔径为0.5、1、1.5和2mm,频率为100MHz,单程传输效率超过97%。这种随机偏振的声光调制器工作在布拉格模式,衍射角为25.2mrad,衍射效率超过80%。它的损伤阈值为1 GW/cm2,上升时间高达120 ns,最大电压驻波比为1.2:1。该AOM模块尺寸为51 X 25.4 X 13.5 mm,具有SMA、SMC或BNC连接器。它是材料加工、医疗和科学应用的理想选择。
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类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达45毫米,频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。