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波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 1sec
光谱产品公司正在提供新的SM245高速2048像素阵列CCD光谱仪。得益于SM245电子板上的增强设计,暗电流噪声水平和数据采集速度都得到了改善。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高速数据采集。SM245可通过内置狭缝或光纤直接接收光线。SM245采用耐用的铝制外壳,可在各种温度下提供稳定的光具座操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。SM642的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新的紫外增强涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新的UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。
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波长范围: 200 - 1100 nm 决议: 10nm
光谱产品公司正在提供新的SM303 TE冷却背面减薄1024像素阵列CCD光谱仪。SM303非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的UV/VIS/NIR光谱分析,如荧光、Rama、LED特性测试应用。背面减薄的CCD在UV中具有优异的灵敏度,并允许深UV应用。精心设计的外壳允许从200nm到1050nm的高达850nm的测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光灵敏度),杂散光非常低。通过降低长积分时间内的噪声水平,TE冷却探测器还有助于测量非常低的光信号。得益于高动态范围和低噪声,SM303也是辐射测量应用的理想选择。SM303-Si的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。新升级的SM303提供自动快门功能,可自动使环境变暗。用户无需阻挡任何输入光线即可设置0%透射率(暗扫描)。
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波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 0.01sec
SM445是一款新型紧凑型CCD光谱仪,可与PC配合使用。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高动态范围应用。SM445可通过内置狭缝或光纤直接接受光线。SM445采用耐用的铝制外壳,可在较宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于SM445的Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备设计用于高灵敏度但稳定的操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。得益于更多的像素数量,SM445更适合需要更高分辨率的应用。SM445的标准接口是具有16位扩展动态范围的USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现更高的宽范围分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新型紫外增感涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外增感涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新型UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Not Available 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range
SOC750-HB是一种实时、军用级、遥感中波红外高光谱成像系统。SOC750-HB可用于气体泄漏检测、光谱特征测量、化学物质识别和定量等要求苛刻的应用。SOC75-HB由超高速、高灵敏度中波红外阵列、成像光谱仪、集成扫描系统和矢量处理器组成,能够以每秒11个立方体(256 X 240像素X 42波段)的速度获取和处理光谱图像,分辨率为14位。可以以较高的速度获取较低空间分辨率的立方体。该系统的光谱响应为2-5微米的中波红外。光谱分辨率为73nm。HS数据立方体大小为5.25 MB。该系统包括一个实时高光谱图像处理器,用于辐射校准图像,执行传感器仿真,并同时在光谱图像上执行多达四个光谱相关算法。所有处理都以完整立方体速率进行。SoC750-HB成像仪由SoC的定制HSAnalysis3软件支持,具有用户友好的图形用户界面。
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测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 10 ppm 决议: 0.3eV
日本电子(JEOL)开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪(WDS),该光谱仪利用可变空间光栅,允许高效和并行收集极低能量射线(所谓的“软”X射线)。这些新的软X射线发射光谱仪(SXES)不仅拥有高光谱分辨率(0.3eV),使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV,而且具有超低能量、低浓度灵敏度,即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外,也许是它较强大的资产,是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时,光谱仪可以检测到它们之间的差异,从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳,它们都只由碳构成。
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产品类型: Spirits
在烈酒生产中,SpectraalyzerSpirits可在几秒钟内完成酒精含量和浓度等重要质量测试。因此,通过分析来自生产线任何阶段的样品,可以密切监控蒸馏过程和下游加工,而无需样品制备和使用试剂或其他消耗品。即时可用的、精确的质量信息能够实现更好的过程控制,从而实现更高的产品产量和始终如一的良好产品质量。无论您是否想要确定蒸馏/精馏过程的状态、稀释、装瓶加工者监督单个生产批次,SpectraalyzerSpirits都能立即为您提供所需的信息。无论是高酒精含量还是低酒精含量-分析仪系统显示出高达98%Vol酒精含量的出色线性度。即使含有或添加了糖,也不会影响读数的准确性。分析仪的稳健设计允许在实验室和直接在生产过程中灵活安装,其中温度波动、湿度、灰尘和震动对测量的准确性和长期稳定性没有影响。可以添加其他附件,例如蠕动泵和机器人自动采样器,以将样品处理量提高到每小时>60个样品。得益于集成的网络服务器,分析值、批处理协议和趋势图可立即在公司自己的网络中提供,如果需要,还可直接在云或生产服务器上进行进一步处理或可视化。较重要的是,SpectraAlyzerSpirits是一个非常具有成本效益的分析仪系统。Zeutec“租赁您的实验室”计划展示了极具吸引力的租赁条件,可根据您的需求进行定制。