Helucom®分支电缆旨在取代现场拼接。它们主要用于中小型输电线路的室内应用。光纤连接器直接安装在单独的电缆上。因此，不需要拼接和拼接盒。预组装的电缆只需在现场铺设，并立即发挥作用。

这些Helucom®光纤电缆可作为中央束芯电缆或绞合电缆提供。它们适用于建筑物和设施的室内布线。无卤素版本尤其适用于摩天大楼、医院和商店，以及资本货物高度集中的设施（如发电厂、计算中心），以及具有高安全性要求的场所（如地下和控制站）。

这些Helucom®光纤电缆用于室内应用中的数据网络布线。这种电缆类型的一大优点是其节省空间的结构。与分支电缆类似，连接器直接安装在紧密缓冲器上。

Fidelity飞秒激光系统在紧凑的交钥匙、低维护封装中提供领先的性能。凭借高达18W的平均输出功率和140 FS的短脉冲，Fidelity达到了高峰值功率状态，真正实现了生命科学、应用物理、材料加工和微电子领域的一系列应用。利用Coherent较先进的光纤激光技术，Fidelity提供较低的拥有成本和较低的维护要求。由于精确的光回路控制，精致的光束质量提供了较佳的聚焦分辨率和效率，以及极其稳定和低噪声的输出。

FIFO-带通滤波器系列

彩色玻璃滤光片

柱面透镜具有至少一个形成为类似于圆柱体的一部分的表面。这些获得专利的梯度折射率柱面微透镜具有Luneburg型折射率分布，由高度抛光的梯度折射率光纤预制棒制成。拉制过程的简单调整产生纤维或棒状的衍射受限微透镜，其具有精确的直径和无与伦比的表面质量。

这些镜头主要用于接近1：1的成像，说明了它们的功能。近似等于曲率半径的凸面。由于两个凸面都对放大率有贡献，这些透镜可用于收集和重新聚焦来自小光束的光，应用于光学系统光斑质量的长度。

这些镜头主要用于接近1：1的成像，说明了它们的功能。近似等于曲率半径的凸面。由于两个凸面都对放大率有贡献，这些透镜可用于收集和重新聚焦来自小光束的光，应用于光学系统光斑质量的长度。

www.xfphotonics.com// 函数mm_preLoadImages（）{//v3.0
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// ]]>道威棱镜是由H.W.Dove发明的一种棱镜。它类似于普通直角棱镜的一半，其中平行于斜边面进入的光线在该面发生内部反射，并平行于其入射方向出射。其中一条入射光线沿着其入射方向的延长线射出，如果棱镜绕该光线旋转某个角度，则图像会旋转该角度的两倍。道威棱镜只能用于平行光。

机器视觉（MV）是用于为工业中的自动检测、过程控制和机器人引导等应用提供基于图像的自动检测和分析的技术和方法。MV的范围很广。MV与计算机视觉相关，但与计算机视觉不同。

正弯月形透镜可以增加系统的NA，而仅略微增加总的球面像差。弯月形透镜作为透镜的两个曲线位于同一方向上。

平凹透镜具有负焦距，发散准直的入射光，并且仅形成通过透镜看到的虚像。在现有系统中，它通常用于扩展光束或增加焦距。

平凸透镜用于准直发散光或聚焦准直光。我们使用它们作为二次聚焦透镜来重新聚焦准直光源。平凸透镜具有低球面像差。使用时，普莱诺侧朝向点光源或焦点，弯曲侧朝向准直光束。

FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案，用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合，在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术，可测量从深紫外到近红外的波长，光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外，标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合，可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。

FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案，具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，具有宽光谱范围，可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸，非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振（MADP）和差分功率谱密度（DPSD）技术，利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度，FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜（尤其是多层堆叠中的薄膜）的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包，配有先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改，以满足客户的独特需求。

FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。

用于488校准应用的激光保护平面过滤玻璃窗口。浅绿色。

用于CO2、铒、钬、Nd：YAG、近红外和远红外应用的激光防护平面滤光玻璃窗口。浅灰色。

用于UV、CuVapor和染料应用的激光保护平面过滤玻璃窗口。暗红色。