当使用<240nm的UV-Vis光纤时，光纤的逐渐吸收会达到完全失效的程度。我们的太阳能稳定纤维可用于这一临界范围内的应用。这些新开发的高OH含量纤维的特点是在190–250 nm范围内具有非常好的透射率。氘光源用于测量。

当使用<240nm的UV-Vis光纤时，光纤的逐渐吸收会达到完全失效的程度。我们的太阳能稳定纤维可用于这一临界范围内的应用。这些新开发的高OH含量纤维的特点是在190–250 nm范围内具有非常好的透射率。氘光源用于测量。

当使用<240nm的UV-Vis光纤时，光纤的逐渐吸收会达到完全失效的程度。我们的太阳能稳定纤维可用于这一临界范围内的应用。这些新开发的高OH含量纤维的特点是在190–250 nm范围内具有非常好的透射率。氘光源用于测量。

当使用<240nm的UV-Vis光纤时，光纤的逐渐吸收会达到完全失效的程度。我们的太阳能稳定纤维可用于这一临界范围内的应用。这些新开发的高OH含量纤维的特点是在190–250 nm范围内具有非常好的透射率。氘光源用于测量。

FIBO®250干涉仪是一种全自动解决方案，用于快速准确的光纤连接器端面测试。3D表面计量和先进的缺陷检测功能结合在一个紧凑的便携式系统中。

FIBO®300是一款用于分析光纤端面几何结构的多功能相移干涉仪。只需点击一下即可测量非标准、角度抛光和劈开的裸光纤。FIBO使复杂的干涉测量变得简单且经济实惠。

Fibotec为实验室（单件原型）和工业应用（模块/子系统或私人标签系统）提供客户特定的光纤耦合光源。使用商业上可获得的二极管，例如半导体激光二极管、LED和SLED。请参阅PDF数据表中的工作示例，并提交您的需求以供讨论和批准。

Fibotec为实验室（单件原型）和工业应用（模块/子系统或私人标签系统）提供客户特定的光源。使用商业上可获得的二极管，例如半导体激光二极管、LED和SLED。工作实例是为OSRAM PL TB450B激光二极管的高速模拟调制而设计的二极管激光器。1.6 A驱动电流可由高达80 MHz的模拟电压输入进行外部调制（参见PDF数据手册）。发送您的需求以供讨论和批准。

这些光源是紧凑型主振荡器-功率放大器（MOPA）设置它可以在一定的重复率和脉冲功率范围内直接调制。标准产品工作波长约1.5μm，重复频率>6kHz，脉冲功率10μJ/50ns（峰值200W）。可根据要求提供1050-1090 nm波长。客户特定的产品在两个波长窗口都有一个额外的功率放大器级，允许更高的重复率（高于50kHz）或峰值功率（2kW）。

dB表可在宽动态范围内高精度测量功率（未校准）、功率稳定性和功率变化。除了使用外部光源（780-1650nm）进行操作外，还可以内置客户定义的半导体光源，以便快速轻松地测试无源元件或本地光纤环路。通过串行（USB）接口和显示器提供数据。显示器以符合人体工程学的方式运行，适合在进行手动调整时进行快速、可辨别的读数。本数据手册中记录的标准选项较终可根据要求进行修改（光源、光纤类型、通道数、探测器类型）。

Tarluz光纤束跳线由特殊设计的可见光波段光纤制成。高几何精度、低损耗、高可靠性，适用于医疗、高端激光投影、紫外打印等领域。高质量的激光传输可以通过跳线的精确设计以及优良的能量传输光纤来实现。该投影仪光纤束用于激光投影仪中。本发明将多个LD集合成一个激光源，使透过率达到95%以上。因此，这种激光投影仪可以显示高质量和高亮度的图像。同时，光源与投影机分离，便于维护和延长使用时间。

SRT-F系列热电冷却光纤耦合二极管激光器专为需要高稳定性、远程应用或二极管激光器真高斯分布的仪器和研究应用而设计。二极管激光器的输出较大限度地减少了模式跳变，并且可以稍微调整。封装紧凑而坚固，带有3毫米耐用的光纤电缆，该电缆在工厂预先对齐并固定。也可提供可选的900微米护套或不锈钢护套。系统包括二极管激光器、耦合光学器件、单模光纤、Tecooler、热敏电阻、散热器，所有这些都集成到一个紧凑的封装和驱动器中。使用单模光纤，二极管激光器的输出是空间滤波和高斯的。这是全息摄影、干涉测量、自由空间通信和计量等应用的理想选择。也可以集成可选的偏振保持光纤。多模光纤也可用于更高的吞吐量。各种光束尺寸的光纤准直器也可用于准直光纤的输出，以获得干净的光束。

这些Helucom®光纤电缆可作为中央束芯电缆或绞合电缆提供。它们适用于建筑物和设施的室内布线。无卤素版本尤其适用于摩天大楼、医院和商店，以及资本货物高度集中的设施（如发电厂、计算中心），以及具有高安全性要求的场所（如地下和控制站）。

这些Helucom®光纤电缆用于室内应用中的数据网络布线。这种电缆类型的一大优点是其节省空间的结构。与分支电缆类似，连接器直接安装在紧密缓冲器上。

Fidelity飞秒激光系统在紧凑的交钥匙、低维护封装中提供领先的性能。凭借高达18W的平均输出功率和140 FS的短脉冲，Fidelity达到了高峰值功率状态，真正实现了生命科学、应用物理、材料加工和微电子领域的一系列应用。利用Coherent较先进的光纤激光技术，Fidelity提供较低的拥有成本和较低的维护要求。由于精确的光回路控制，精致的光束质量提供了较佳的聚焦分辨率和效率，以及极其稳定和低噪声的输出。

www.xfphotonics.com// 函数mm_preLoadImages（）{//v3.0
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如果（（X=mm_findobj（a[I]）））！=null）{document.mm_sr[J++]=X；如果（！X.osrc）X.osrc=X.SRC；X.SRC=A[I+2]；}
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// ]]>道威棱镜是由H.W.Dove发明的一种棱镜。它类似于普通直角棱镜的一半，其中平行于斜边面进入的光线在该面发生内部反射，并平行于其入射方向出射。其中一条入射光线沿着其入射方向的延长线射出，如果棱镜绕该光线旋转某个角度，则图像会旋转该角度的两倍。道威棱镜只能用于平行光。

正弯月形透镜可以增加系统的NA，而仅略微增加总的球面像差。弯月形透镜作为透镜的两个曲线位于同一方向上。

FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案，用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合，在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术，可测量从深紫外到近红外的波长，光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外，标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合，可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。

FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案，具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，具有宽光谱范围，可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸，非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振（MADP）和差分功率谱密度（DPSD）技术，利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度，FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜（尤其是多层堆叠中的薄膜）的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包，配有先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改，以满足客户的独特需求。

FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。