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- Max Levy Autograph Inc
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- Leica Microsystems Inc
- Max Levy Autograph Inc
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- McBain Systems
- Motic Instruments
- Nikon Instruments
- Sensapex Ltd
- Spectra Services
- The Microscope Depot
- Unitron Ltd
- Zarbeco
- Sutter Instrument
- VEE GEE Scientific, Inc
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支持的目标: 100x 照明: Not Specified 焦点控制: Fine XY 机械平台: Not Included 目镜: Not Specified
这款Peak®宽视野直接测量显微镜非常适合小零件的非接触式测量。显微镜包含一个分划板,分划板上有一个英国线性测量尺,可以通过目镜上的一个环进行旋转,以允许在任何方向上进行测量。焦点由一个螺旋扭转环控制,该螺旋扭转环具有用于深度计算的蚀刻刻度。该刻度允许在22毫米的深度上精确到0.1毫米的深度测量。显微镜位于一个透明的、可移动的丙烯酸底座上,带有一个切口,以允许对被检查的物体进行操作。包括用于照明的笔形照明灯和支架。包括一个硬壳手提箱和镜片纸。
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支持的目标: 150x 照明: Not Specified 焦点控制: Not Specified XY 机械平台: Not Specified 目镜: Not Specified
这款Peak®宽视野直接测量显微镜非常适合小零件的非接触式测量。显微镜包含一个分划板,分划板上有一个英国线性测量标尺,该标尺可以通过目镜上的一个环旋转,以允许在任何方向上进行测量。焦点由一个螺旋扭转环控制,该螺旋扭转环具有用于深度计算的蚀刻刻度。该刻度允许在22毫米的深度上精确到0.1毫米的深度测量。显微镜位于一个透明的、可移动的丙烯酸底座上,带有一个切口,以允许对被检查的物体进行操作。包括用于照明的笔形照明灯和支架。包括一个硬壳手提箱和镜片纸。
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支持的目标: Other 照明: Not Specified 焦点控制: Not Specified XY 机械平台: Not Specified 目镜: Not Specified
这款Peak®宽视野直接测量显微镜非常适合小零件的非接触式测量。显微镜包含一个分划板,分划板上有一个英国线性测量标尺,该标尺可以通过目镜上的一个环旋转,以允许在任何方向上进行测量。焦点由一个螺旋扭转环控制,该螺旋扭转环具有用于深度计算的蚀刻刻度。该刻度允许在22毫米的深度上精确到0.1毫米的深度测量。显微镜位于一个透明的、可移动的丙烯酸底座上,带有一个切口,以允许对被检查的物体进行操作。包括用于照明的笔形照明灯和支架。包括一个硬壳手提箱和镜片纸。