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  • SM245高速CCD光谱仪 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 1sec

    光谱产品公司正在提供新的SM245高速2048像素阵列CCD光谱仪。得益于SM245电子板上的增强设计,暗电流噪声水平和数据采集速度都得到了改善。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高速数据采集。SM245可通过内置狭缝或光纤直接接收光线。SM245采用耐用的铝制外壳,可在各种温度下提供稳定的光具座操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。SM642的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新的紫外增强涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新的UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。

  • SM303 TE冷却型背负式CCD光谱仪 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 200 - 1100 nm 决议: 10nm

    光谱产品公司正在提供新的SM303 TE冷却背面减薄1024像素阵列CCD光谱仪。SM303非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的UV/VIS/NIR光谱分析,如荧光、Rama、LED特性测试应用。背面减薄的CCD在UV中具有优异的灵敏度,并允许深UV应用。精心设计的外壳允许从200nm到1050nm的高达850nm的测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光灵敏度),杂散光非常低。通过降低长积分时间内的噪声水平,TE冷却探测器还有助于测量非常低的光信号。得益于高动态范围和低噪声,SM303也是辐射测量应用的理想选择。SM303-Si的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。新升级的SM303提供自动快门功能,可自动使环境变暗。用户无需阻挡任何输入光线即可设置0%透射率(暗扫描)。

  • SM445预配置的高分辨率CCD光谱仪 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 200 - 1050 nm 决议: 10nm 最短扫描时间: 0.01sec

    SM445是一款新型紧凑型CCD光谱仪,可与PC配合使用。基于SP的特殊光具座设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高动态范围应用。SM445可通过内置狭缝或光纤直接接受光线。SM445采用耐用的铝制外壳,可在较宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于SM445的Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备设计用于高灵敏度但稳定的操作。该阵列(与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合)允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度)。得益于更多的像素数量,SM445更适合需要更高分辨率的应用。SM445的标准接口是具有16位扩展动态范围的USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置,可以实现更高的宽范围分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。Spectral Products在CCD上应用了新型紫外增感涂层,与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外增感涂层相比,提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新型UV涂层的帮助下,500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。