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光束质量分析仪V1.0
厂家：World Star Tech
光电查为您提供50个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。
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激励源: Laser, Incoherent, Custom 检测: Custom, CCD Camera, Photomultiplier Tube (PMT)K2系列频域荧光计为研究人员提供了一个可靠的、经过充分验证的仪器平台，适用于要求较苛刻的荧光和磷光应用。K2系列多频互相关相位和调制荧光计安装在世界各地，为研究实验室的荧光和磷光仪器提供了一种可靠且经过充分验证的方法。瑞士苏黎世联邦理工学院（ETH）、马萨诸塞州剑桥的麻省理工学院（MIT）、马里兰州罗克维尔的美国国立卫生研究院（NIH）以及阿拉巴马州亨茨维尔的美国国家航空航天局（NASA）研究机构的研究人员都在使用K2。其光学设计和自动仪器控制是稳态和时间分辨荧光测量的较先进技术。完全自动化和用户友好的Vinci软件包使学生和科学家都能轻松使用该仪器。K2有三种型号可供选择，每一种都是完全自动化和可升级的。带K2 FastScan的K2-001FastScan是我们较受欢迎的模型：使用灯或激光可以在不到一分钟的时间内获得常规样品的寿命数据采集。用户可选择高达5，000Hz的互相关，并通过FFT程序进行数据采集；该仪器的调制频率范围为300kHz至350MHz（使用灯）和450MHz（使用CW激光器）。K2-002 1.2GHz升级该模型需要一个锁模激光器作为激发源和一个微通道板探测器（MCP-PMT）来收集荧光。或者，可以利用激光二极管作为光源来测量高达约1GHz的频率响应。用户可选择高达5，000Hz的互相关，并通过FFT程序进行数据采集。它包括FastScan升级，工作调制频率高达1.2GHz。K2-003 6GHz升级K2-003是K2-002的升级版：其工作频率范围高达6GHz。
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测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 1 - 2 ppm 决议: 150000eVDXP Mercury将高速数字脉冲处理器封装在带有内置电源的紧凑桌面盒中。峰化时间范围为0.1至160µs，频谱中的较大输出（较短峰化时间）高达1Mcps。DXP Mercury具有出色的噪声性能，适用于使用单个探测器或多元素探测器阵列的扩展能量范围0.1-100 Kev及以上的高分辨率光谱学。Mercury处理器提供对所有放大器和光谱仪设置的计算机控制，包括增益、峰值时间和堆积检查标准。与模拟系统相比，梯形数字滤波器以相当的能量分辨率实现了显著增强的吞吐量。能量分辨率几乎与计数率无关，直到较大吞吐量（63%停滞时间）。完整的计算机界面允许所有数据收集和校准操作实现自动化。数据可以保存在多达16K通道的全频谱中，也可以保存在多达32个感兴趣区域（ROI）中，并在不中断数据收集的情况下传递给主机。DXP Mercury可与各种极性的复位型前置放大器配合使用。提供多种定时模式，包括具有完整MCA读数或多个ROI的快速扫描。即使在数据采集期间，板载内存管理器也可提供对数据的完全访问。对于具有快速扫描的死区操作，存储器可以被组织成两个独立的块，允许在一个块被填充的同时读出另一个块。USB2接口的峰值读出速度超过16 MB/秒。
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标准测量范围: 625 - 5000 cm-1 最大分辨率: 4cm-1这款便携式遥感现场和工业仪器比我们的101型仪器更轻，功能更多，自1991年以来，101型仪器一直满足世界各地科学家和工程师的研究需求。
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测量类型: Elemental analysisRigaku NEX CG可对各种类型的样品中的主要和次要原子元素进行快速定性和定量测定-较低标准：非破坏性分析NA至non-U固体、液体、粉末和薄膜检测下限的极化激发峰重叠的新颖处理减少了误差使用Ultracarry的含水样品的ppb检测极限带EZ分析的简化用户界面用于迹级灵敏度的极化笛卡尔几何学与传统的EDXRF分析仪不同，NEX CG采用了独特的紧密耦合笛卡尔几何（CG）光学内核，大大提高了信噪比。通过使用二次目标激励代替传统的直接激励，进一步提高了灵敏度。由此产生的背景噪声的显著降低和元素峰值的同时增加，使得光谱仪即使在困难的样品类型中也能够进行常规痕量元素分析。新颖的软件减少了对标准的需求NEX CG由新的定性和定量分析软件RPF-SQX提供支持，该软件采用了Rigaku Profile Fitting（RPF）技术。该软件允许在没有标准品的情况下对几乎所有样品类型进行半定量分析，并使用标准品进行严格的定量分析。
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测量类型: Elemental analysis作为一款优质的高性能台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新型Rigaku NEX DE通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体和泥浆。现场、工厂或实验室中的XRF元素分析专为重工业应用而设计和制造，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境中，NEX DE的卓越分析能力、灵活性和易用性为其不断扩大的应用范围增加了广泛的吸引力，包括勘探、研究、批量RoHS检测和教育，以及工业和生产监测应用。无论需要的是基本质量控制（QC）还是其更复杂的变体（如分析质量控制（AQC）、质量保证（QA）或六西格玛等统计过程控制），NEX DE都是XRF常规元素分析的可靠高性能选择。
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测量类型: Elemental analysis作为一款优质高性能、小型SPOT台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新型Rigaku NEX DE VS通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体、浆料和RoHS材料。
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测量类型: Chemical identificationRigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。
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测量类型: Elemental analysisRigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案，可配置用于分类和非分类领域。从铝（Al）到铀（₂U）的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术，Rigaku NEX OL可对从铝（Al）到铀（U）的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率（ppm）水平到高重量百分比（wt%）浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器，以及标准化、优化的管式过滤器套件，旨在解决广泛的过程控制应用。
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测量类型: Elemental analysisRigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定性和定量测定各种样品类型中的主要和次要原子元素：非破坏性分析NA至non-U固体、液体、合金、粉末和薄膜用于宽元素覆盖的50kV X射线管半导体探测器，数据质量高现代智能手机风格的“图标驱动”用户界面增强灵敏度的多个自动管过滤器方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比
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测量类型: Contaminant detection and analysisRigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定量测定各种船用燃料中的硫：非破坏性地分析硫（S）至低ppm水平分析镍（Ni）、钒（V）和铁（Fe）（如需要）分析锌（Zn）以确定燃油是否受到污染半导体探测器具有卓越的可靠性现代触摸屏“图标驱动”用户界面方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比ASTM D4294和ISO 8754测定硫的方法
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测量类型: Elemental analysis基于Windows®的EDXRF用于快速元素分析作为一款优质的低成本台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，Rigaku NEX QC+Quantez通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体和泥浆。野外、工厂或实验室的元素分析NEX QC+Quantez系列专为重工业应用而设计，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境中，其卓越的分析能力、灵活性和易用性为其不断扩大的应用范围增添了广泛的吸引力，包括勘探、研究、批量RoHS检测和教育，以及工业和生产监控应用。无论需要的是基本质量控制（QC）还是其更复杂的变体（如分析质量控制（AQC）、质量保证（QA）或六西格玛等统计过程控制），NEX QC+Quantez系列都是常规元素分析的可靠选择。
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测量类型: Contaminant detection and analysisRigaku的NEX XT是新一代工艺仪表，用于原油、船用燃料、燃料油和其他高粘度碳氢化合物（包括渣油）的高水平总硫测量（0.02%至6%S）。在线全硫测量仪这款多功能、紧凑且坚固耐用的X射线透射/吸收（XRT/XRA）过程测量仪专门针对炼油厂、管道、混合操作、加油终端和其他存储设施的总硫分析需求进行了优化。NEX XT的应用包括船用燃料混合以满足MARPOL附件六的硫限制，通过管道输送的不同等级燃料的界面检测，炼油厂原料混合和监测，以及远程收集和储存设施的原油质量监测。
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激励源: Custom 火焰: 700-800nm 带通: 1 - 1 nm 检测: Custom通过Odyssey CLX上的近红外（NIR）荧光，Western印迹、基于细胞的分析、蛋白质阵列、凝胶位移分析、组织切片成像等都触手可及。一个数字图像文件包含您的所有数据，因此您可以在单个图像中清楚地看到强波段和弱波段，而不会出现图像饱和、“爆裂”或牺牲灵敏度。通过使用Odyssey CLX捕获单个图像，而不是比较在不同条件下捕获的多个曝光，提高结果的一致性和可靠性。
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激励源: Laser 火焰: 700-800nm 带通: 700 - 800 nm 检测: Not Specified通过捕获单个图像，无需比较多次曝光或更改相机设置，即可提高Western Blot结果的一致性和准确性。获得专利的FieldBrite™XT2光学器件为Odyssey FC提供动力，使您每次都能获得较佳图像。在同一成像仪上检测化学发光或NIR Western印迹并记录DNA凝胶，而无需使用多种仪器。记录用溴化乙锭、SYBR®SAFE、SYBR Green I和许多其他广泛使用的DNA染色剂染色的琼脂糖和PAGE凝胶。
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激励源: Incoherent 检测: Custom, Photomultiplier Tube (PMT)一种多用途双光束分光光度计，可用于紫外、可见和近红外区域的吸光度和荧光测量。棱镜+光栅F/8单色仪的真正双光束吸收采集在整个UV/VIS区域使用光电倍增管，在整个NIR区域使用PBS探测器。支持扫描激发和发射测量。荧光检测在UV/VIS区域使用灵敏的光子计数装置，在NIR区域使用TE冷却的InGaAs。
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激励源: Custom 检测: Photomultiplier Tube (PMT)PC1是一款高灵敏度、紧凑型、计算机控制的光子计数荧光光谱仪，设计用于物理化学、生物化学、生理学、神经化学、分子生物学、环境分析和免疫分析研究。
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激励源: Laser 火焰: 680-820nm 带通: 680 - 820 nm 检测: Custom捕获光学探头的准确表示，并收集一致的数据，一张又一张图像。在NIR光谱（680nm至820nm）中，来自组织成分的自发荧光显著减少。因此，动物组织对这些波长的激发光几乎是透明的，从而可以更好地穿透以检测更深的目标。NIR荧光为您的所有测量提供了卓越的灵敏度和高信噪比。更高的信噪比有助于准确和可靠地检测、跟踪和验证体内活动，从而准确地表示探针及其在动物全身的活动。
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产品类型: Cannabis大麻的效力不一定是神秘的、猜测的或假设的。Purpl Pro是一种即时大麻效力测量解决方案。负担得起Purpl Scientific无需融资。我们的使命是帮助行业发展，变得更加透明，提高质量。因此，从农场到药房，较终到消费者，我们一直专注于在整个价值链中保持低价和可获得性。简单易用用你的智能手机，你可以立即分析你的样品的效力。Purpl Pro提供了这两种化合物的完整图片。我们让获取对您较重要的准确信息变得非常简单。只需单击即可查看摘要或深入查看详细信息。准确的测试尽可能多的样品，并立即获得效力结果。从农场到药房，效力是整个价值链中较关键的衡量指标之一。Purpl Scientific将通过提供具有实验室级别准确性的现场测试来帮助提高质量和完整性。
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测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 10 ppm 决议: 0.3eV日本电子（JEOL）开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪（WDS），该光谱仪利用可变空间光栅，允许高效和并行收集极低能量射线（所谓的“软”X射线）。这些新的软X射线发射光谱仪（SXES）不仅拥有高光谱分辨率（0.3eV），使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV，而且具有超低能量、低浓度灵敏度，即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外，也许是它较强大的资产，是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时，光谱仪可以检测到它们之间的差异，从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳，它们都只由碳构成。
