定制导电材料的厚度以增强其光子应用

发布时间:2023-02-10 11:02:13 阅读数: 145

a) TiN上的超亚波长AZO对p极化光的反射光谱。 b) p极化光的Ferrell-Berreman模式和s极化光的Fabry-Pérot模式在不同TiN厚度的TiN-AZO薄膜上。(a)-(c)中的实线是模拟结果。虚线是实验结果。 d)用TMM方法得到的AZO薄膜的角度和波长相关的吸收光谱。资料来源:先进材料(2022)。DOI: 10.1002/adma.202109546

普渡大学的研究人员发现,通过调整导电氮化物和氧化物,特别是质子氮化钛(TiN)和铝掺杂的氧化锌(AZO)的薄膜厚度,他们可以控制材料的光学特性,最明显的是其ε近零(ENZ)行为。普渡大学开发的TiN和AZO材料也具有最低的光学损耗。这为电信领域提供了新的应用,并推动了对许多光学非线性的研究。

普渡大学电气和计算机工程系教授Vladimir M. Shalaev和Alexandra Boltasseva以及他们的研究团队,在当时的博士后研究员Soham Saha的带领下,研究了这种控制ENZ点的方法,即材料既非电介质也非金属的波长。

当光穿过ENZ材料时,它的群速度减慢到接近零,它能够与材料互动更长的时间。这就产生了许多有趣的非线性现象。然而,对于大多数传统材料,ENZ点是固定的,难以移动。

研究人员所证明的是,光学特性的厚度关联是最容易操纵的事情之一,使他们能够使用相同的生长环境生长出具有不同ENZ特性的薄膜。通过定制材料薄膜的厚度和控制ENZ体系附近的光吸收,研究人员可以在许多不同的波长范围内研究绝对的ENZ物理学。这实现了广泛的非线性光学现象,包括全光开关、时间折射和高谐波生成。

在他们的研究中,研究人员通过反应性磁控溅射在硅上开发了低损耗的多晶TiN薄膜。AZO是通过脉冲激光沉积在生长好的TiN上生长的。他们通过光谱椭圆仪、原子力显微镜和透射电子显微镜研究了与厚度有关的光学特性的原因,将光学特性与结构特性联系起来。

作为一个动态、可调谐设备的概念证明,研究人员展示了使用带间泵的谐振器的全光开关,显示了皮秒的松弛时间。

该研究发表在《先进材料》杂志上。

更多信息。Soham Saha等,Tailoring the Thickness-Dependent Optical Properties of Conducting Nitrides and Oxides for Epsilon-Near-Zero-Enhanced Photonic Applications, Advanced Materials (2022). DOI: 10.1002/adma.202109546

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案 光谱分析仪 2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案 光谱分析仪 ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV

    2830 ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计,可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

  • Affirma In-service Lubrican分析系统 光谱分析仪 Affirma In-service Lubrican分析系统 光谱分析仪 Thermo Fisher Scientific

    标准测量范围: 4000 - 550 cm-1 最大分辨率: 4cm-1

    较大限度地减少机器停机时间和延长换油周期的重要工具是分析用于运行机器的润滑剂。就像医学诊断中的血液测试一样,定期测试使用中的润滑液可以提供有用的数据,为行动和决策提供信息。作为预测性维护的关键组成部分,有效的润滑剂分析程序可帮助机器所有者及早发现潜在故障,以防止代价高昂的机械损坏。同时,常规的润滑油状况监测可以减少润滑油的更换频率,从而有助于节省资金。如果您是一家润滑油制造商,将润滑油与添加剂混合或配制以优化润滑油性能,Affirma分析系统可帮助您缩短开发时间,并从现场或实验室测试环境中获得准确的结果。

  • Axios FAST 光谱分析仪 Axios FAST 光谱分析仪 ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV

    秒级多元素化学成分分析由于时间关键的过程控制或运行样品高通量,您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析?马尔文PAnalytical Axios Fast SimultaneousWDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素,浓度范围从ppm到100%,是理想的解决方案。准确而强大的分析、经验较少的员工的轻松操作以及高正常运行时间与低拥有成本齐头并进。在时间关键型应用程序中实现快速结果Axios快速元素分析仪可在几秒钟内获得分析结果,是时间关键型应用和高样品通量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁和金属合金生产,以及每天需要分析数百个样品的地质或商业实验室。

  • 纪元BH 光谱分析仪 纪元BH 光谱分析仪 ISS Inc

    激励源: Laser, Incoherent, Custom

    Chronosbh是一种具有皮秒分辨率的时域荧光计。其光学设计和自动仪器控制是较先进的时间分辨荧光计。Chronosbh是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的基于Windows的软件包。

  • 纪元DFD 光谱分析仪 纪元DFD 光谱分析仪 ISS Inc

    激励源: Laser, Incoherent

    来自ISS的新消息!ChronoSDFD用于在不到1秒的时间内测量复杂衰变的寿命ChronoSDFD是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的、基于Windows的软件包。

立即咨询

加载中....