Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

阿姆斯特朗光学公司（Armstrong Optical）新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪（Fizeau Interferometer），采用垂直（向下看）配置，孔径为60mm，IFV-60。如果需要，孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

工业和研究中的许多应用需要高精度的同步位移和角度测量。快速设置和轻松调整尤为重要。三光束激光干涉仪是将三个干涉仪组合在一个设备中的精密长度测量设备。在所有三个测量通道中使用相同的高度稳定的激光频率。因此，可以以亚纳米精度同时测量三个长度值。根据两个长度值之间的差和校准的光束距离，可以高精度地确定相应的角度。该系统采用模块化设计，因此可适用于各种测量任务。干涉仪的测量范围超过5米，具有亚纳米分辨率。对于使用反射器的测量，角度测量范围可达±12.5°。

波长: 615 to 885 nm

Toptica Photonics的FPI-100-0750-1是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1 GHz，波长为615至885 nm.有关FPI-100-0750-1的更多详细信息，请参阅下文。