FARO®3D-XB扫描头设计用于提供大视野尺寸（从150 mm到2，000 mm），无需使用F-Thetalenses、XY工作台或台架。这种3轴技术提供了比标准f-θ扫描透镜更好的视场尺寸/光斑尺寸比。使用3D-XB扫描头，可以实现小至20μm的光斑尺寸和大至2 m X 2 m的扫描场。3D-XB能够改变磁场和光斑大小，提供了应用灵活性，这使得3D-XB非常适合工艺开发和工作车间设置。动态镜头平移器不断调整焦距，以产生平坦或轮廓场。只需转动旋钮调整工作距离，即可选择各种视场和光斑大小组合。精确、高性能的3D-XB用于各种激光波长的XY和XYZ应用中的光学扫描，是大多数激光应用的理想灵活工具。

VP-71MC是业界公认的VP系列的较新成员，是一款全新的7100万像素分辨率CMOS相机，具有Camera Link接口。VP-71MC采用了CMOSIS较新的7100万像素CMOS成像传感器（CHR 70M）技术，并在全分辨率下提供4fps的帧速率。该热像仪采用热电珀尔帖（TEC）冷却技术，该技术是为许多要求苛刻的医疗市场客户开发并使用的。TEC将CMOS成像传感器的工作温度保持在低于环境温度20度的范围内。该相机提供稳定的操作条件或长时间曝光的能力，以提高相机的灵敏度。这款相机具有稳定的工作能力和高分辨率，非常适合要求苛刻的应用，如FPD、PCB和半导体检测。

TMC'S75系列试验板较大限度地降低了重量和成本。一项专利制造技术允许TMC在不锈钢的薄表层上形成埋头孔和螺纹孔。这些孔不是钻孔或冲孔，而是以一种有效地使皮肤在螺纹周围的小环中变厚的方式制造的。不使用嵌件，螺纹孔深度为3个螺纹。这些顶部具有相对较高的刚性，因为它们使用了TMC的标准钢芯。然而，由于顶部和底部蒙皮较薄，它们不能具有TMC'S 78和77 CLEANTOPII试验板的刚性和阻尼特性。当预期负载较轻且重量和/或成本较低是较关键的因素时，它们是理想的。重量减轻（比TMC'S 78系列试验板轻50%）仅来自较轻规格的蒙皮。这种轻质设计可从下面列出的尺寸库存中获得。可定制各种尺寸和材料。有关定制配置的定价和交付，请联系Harvard Apparatus Canada。

TMC'S75系列试验板较大限度地降低了重量和成本。一项专利制造技术允许TMC在不锈钢的薄表层上形成埋头孔和螺纹孔。这些孔不是钻孔或冲孔，而是以一种有效地使皮肤在螺纹周围的小环中变厚的方式制造的。不使用插入物，螺纹孔为3个螺纹深度。这些顶部具有相对较高的刚性，因为它们使用了TMC的标准钢芯。然而，由于顶部和底部蒙皮较薄，它们不能具有TMC'S 78和77 CLEANTOPII试验板的刚性和阻尼特性。当预期负载较轻且重量和/或成本较低是较关键的因素时，它们是理想的。重量减轻（比TMC'S 78系列试验板轻50%）仅来自较轻规格的蒙皮。这种轻质设计可从下面列出的尺寸库存中获得。可定制各种尺寸和材料。有关定制配置的定价和交付，请联系Harvard Apparatus Canada。

TMC'S75系列试验板较大限度地降低了重量和成本。一项专利制造技术允许TMC在不锈钢的薄表层上形成埋头孔和螺纹孔。这些孔不是钻孔或冲孔，而是以一种有效地使皮肤在螺纹周围的小环中变厚的方式制造的。不使用嵌件，螺纹孔深度为3个螺纹。这些顶部具有相对较高的刚性，因为它们使用了TMC的标准钢芯。然而，由于其薄的顶部和底部外皮，它们不能具有TMC'S 78和77 CLEANTOPII试验板的刚性和阻尼特性。当预期负载较轻且重量和/或成本较低是较关键的因素时，它们是理想的选择。重量减轻（比TMC'S 78系列试验板轻50%）仅来自于较轻规格的蒙皮。这种轻质设计可从下面列出的尺寸库存中获得。可定制各种尺寸和材料。有关定制配置的定价和交付，请联系Harvard Apparatus Canada。

BofA' S AD 250排烟和过滤系统旨在为轻型应用提供具有成本效益的解决方案。这款紧凑且极其安静的系统非常适合用于学校、标牌制作车间、小型工业环境和激光编码应用。

Anonics NICT（日本国家信息和通信技术研究所）共同开发的EDFA设计用于瞬态抑制。结果是EDFA具有高输出功率、高增益、非常低的噪声、低增益偏移，并且是光分组交换（OPS）应用的理想选择。交钥匙微处理器控制的EDFA管理警报和状态指示器。集成的RS232或以太网计算机接口可轻松实现控制、诊断功能和数据采集。

OZ Optics为各种连接器生产高质量的穿板式插座、SleeveThru适配器和通用SleeveThru适配器。穿墙式插座允许人们将光纤跳线连接到开口，以将光投射到自由空间，在那里它可以被其他光学设备（如透镜和探测器）使用。这些插座采用精密氧化锆套管，使光纤居中，并配有止动器，确保光纤高端停止在空间中的精确点。我们还为我们的尾纤可调FC或SMA连接器提供不带止动器的隔板插座。我们有专门设计的角度插座，用于校正角度抛光连接器的折射。套筒适配器用于将两个公头连接器配合在一起。插座上的法兰使用户能够将适配器安装到外壳或盒子上。我们的标准插座将光纤与行业标准FC/PC、FC/APC、SMA、SC、LC和ST连接器端接。通用连接器允许将具有不同连接器类型的光纤配对在一起，只要它们以相同的方式抛光即可。

IDIL Fibers Optiques开发和制造用于仪器和测量应用的放大自发辐射（ASE）源。ASE Source包括完整的电子驱动器，并集成在一个紧凑的封装中。https：//www.idil-fibres-optiques.com/product/c-band-ase-source/

CEBS系列掺铒光纤宽带光源设计用于宽而平坦的光谱范围，总输出功率高达1 W。对光学增益进行滤波和平坦化，以便在整个光谱上以较小的功率变化实现较宽的光谱操作。光源可用于分别具有高或低偏振度的线性或随机偏振。这些产品采用带前面板和RS232控件的交钥匙台式仪器。

Keopsys Cefl-Kilo系列激光器具有无与伦比的窄谱线宽度（低至1 kHz），专为需要高精度的应用而设计，如激光雷达、原子光谱、原子冷却等。CeFL-Kilo系列是掺铒光纤激光器，具有低相位噪声和低相对强度噪声。该系统集成了一个超低噪声和窄线宽的种子激光器，然后通过我们的掺铒光纤放大器将其放大到15W。这些连续激光器具有线性或随机偏振。对于中心发射线是关键的应用，Cefl-Kilo提供了通过改变温度来调制中心发射线和调节波长的可能性。CEFL-KILO受益于Keopsys VSP技术：可靠性、坚固性和免维护。CEFL-KILO系列可在工作台上使用我们的B2V2程序进行正面控制或PC监控（RS232），也可在模块中轻松集成。

TMC'的光学台和隔离系统提供业界领先的性能和刚性，这得益于全钢结构和市场上较高的核心密度和较小的蜂窝单元面积。CleanTop Performance系列具有三个级别的阻尼性能以及多种配置选项，适用于各种使用情况。单独的桌子甚至可以机械耦合，以便在不损失阻尼性能的情况下创建复杂的刚性桌子形状。系统1光学台支持系统（单独出售）具有相同的配置灵活性和无与伦比的隔振性能。研究级784系列提供较佳的光学性能。研究级性能在行业中无与伦比，将较小的单元尺寸和较高的核心密度与独特的CleanTop®设计、全钢结构和较高水平的商用结构阻尼相结合。对于要求较苛刻的应用，包括干涉仪、全息照相术和超快激光器，以及较恶劣的地板振动环境，建议使用研究级CleanToPS。为了实现较佳的整体振动控制，请考虑将此顶部与AlaserTable-Base™支架（空气/压电混合2级振动消除系统）相结合。

CRFL系列拉曼光纤激光器在1455和1480 nm处提供高达20 W的高输出功率。衍射极限光束是非偏振的。工作原理包括利用高功率镱光纤激光源来泵浦级联拉曼谐振器。实现了从基波泵浦激光到较终拉曼斯托克斯的高转换效率。这些拉曼激光器非常适合分布式拉曼放大、EDFA的远程泵浦或Telcordia光纤组件测试。CRFL可用于实验室环境的台式形式或易于集成到系统中的模块形式。

CropScan 1000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、水稻、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 1000B使用一杯500毫升的谷物倒入料斗中。谷粒落入测量单元中，在测量单元中收集10次扫描并进行平均，以在大约35秒内提供结果。CropScan 1000B提供了一个可选的测试重量模块，以便自动计算测试重量或百升重量。可以使用键盘将筛分重量和保留重量输入到CropScan 1000B中，以便计算所有参数并显示在屏幕上。CropNet谷物数据管理和地磅软件可在PC中操作，以读取地磅监视器并生成负载报告。CropNet将数据存储到PC中，并可以将数据发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

农场分析仪上的CropScan 1000H可测量小麦、大麦、高粱、燕麦、大米、大豆、鹰嘴豆、小扁豆、羽扇豆、蚕豆、油菜和其他种子和谷物中的蛋白质、油和水分。易于使用，坚固耐用，可靠且经济实惠。

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

CropScan 3000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、大米、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、水分、淀粉、纤维和油。内置的触摸屏电脑提供了一种测量各种谷物样品的方法，而且还增加了有关谷物的存储和质量信息，包括：测试重量、筛选、保留、品种、等级、吨位、存储位置。CropScan 3000B使用倒出测量池，该测量池具有针对每种谷物类型的自动路径长度选择。选择产品后，CropScan 3000B会调整测量单元的路径长度，以提供较佳扫描。CropScan 3000B可以连接到第二个屏幕，其中CropNet谷物数据管理软件与CR3000B操作软件并行运行。地磅监控器可通过USB端口和电缆连接到CR3000B，以便自动获取负载重量。或者，可以将条形码阅读器和电子秤连接到CR3000B USB端口，以记录现场试验测试中使用的袋子重量和样品ID。CropNet软件将数据发布到互联网上，可以使用智能手机、平板电脑或个人电脑远程查看。

CropScan 3000F面粉和谷物分析仪是一种近红外透射分光光度计，能够在不到60秒的时间内测量谷物中的蛋白质和水分，以及面粉中的蛋白质、水分、灰分、吸水性和淀粉损伤。CropScan 3000F使用旋转样品盘收集谷物、油籽、粗面粉、面粉、粗粉和其他粉状材料的多个扫描。可以收集多达30个子扫描并进行平均，以提供更精确的测量。样品装载简单快捷。对于面粉加工和面食制造行业，CropScan 3000F是先进个为全谷物和粉末提供简单而精确的测量系统的NIR分析仪。内置的触摸屏PC为用户提供了一个简单的界面，但却是一个全面的软件，用于存储和管理为即将到来的谷物、加工中的面粉流以及成品面粉和膳食产品收集的数据。PC包括无线和以太网连接，因此数据可以通过公司网络无缝传输。

CropScan 3000S On Silo Analyser设计用于测量流经螺旋钻、传送带或气动泵的谷物和油籽中的蛋白质、水分和油。该系统由安装在环境外壳中的近红外光谱仪、触摸屏PC、大幅面数字显示器、远程采样头和光纤电缆组成。CropScan 3000S设计用于捕获流经远程采样头的谷物样本，其中部分谷物落入远程采样头。NIR光穿过颗粒，然后由光纤电缆收集，该光纤电缆将光发送回NIR光谱仪。谷粒从远程采样头落回到流动的谷粒流中，或者落到收集仓中，在收集仓中可以收集流动的平均样品。然后大约每7-12秒重复该过程。使用触摸屏界面的PC控制远程采样头和近红外光谱仪。PC计算蛋白质、水分和油数据，并使用无线调制解调器或以太网电缆将数据发送到互联网或另一台PC。可以使用PC、平板电脑或智能手机监控数据。

CropScan 3300H是一款功能强大的近红外透射光谱仪，能够测量谷物和油籽在联合收割机中剥离时的蛋白质、油和水分。CropScan 3300H在谷物从净谷升运器取样时对其进行测量。当光线穿过样品时，谷物落入远程采样头中，在那里停留几秒钟。光纤电缆收集传输的光，并将其发送到位于机舱内的近红外光谱仪。安装在舱内的触摸屏平板电脑控制系统，并实时显示蛋白质、油和水分数据。每7-12秒收集一次数据，并将其显示在触摸屏PC上，显示面元平均值、场平均值和实时蛋白质图谱。该软件将数据发送到互联网上，可以使用PC、平板电脑或智能手机进行监控。联合收割机分析仪上的CropScan 3300H已安装在世界各地的John Deere、Case、New Holland、Claas、Massey Ferguson和Gleaner联合收割机上。