3010系列也与凸轮控制一起运行，较多可处理两个传感器头。较新的1024像素传感器能够以8kHz单触发线速率运行。当使用512像素时，16kHz是可能的。摄像机可以链接到3010系列的其他摄像机，也可以链接到我们的IOControl。现在我们提供滨松的S12198和S9037系列。-其他传感器按需提供。

可移动物镜显微镜®（MOM®）是一种双光子显微镜，当与钛宝石激光器结合使用时，能够在活体标本内进行深层成像。MOM设计的独特之处在于提供三维目标移动和旋转，允许样本保持静止。世界各地许多备受推崇的成像实验室都使用Sutter MOM，我们不断与客户合作，根据他们不断变化的需求调整设计。 观看描述MOM成像和光刺激光束路径的视频 MOM光学机械设计MOM由两个独立的显微镜组成。显微镜的宽视野部分由奥林巴斯垂直照明器、萨特氙弧灯和相机支架组成，以提供标准的落射荧光。显微镜的双光子侧提供了光学路径，用于将激发激光从工作台向上引导到扫描检流镜中，然后通过扫描透镜扩展光束并引导到物镜的背面。在双光子激发之后，发射的光子被物镜正上方的分色镜引导到检测路径中。显微镜的主体在轨道系统上向后移动，允许在成像之前容易地接近标本。 物镜在X、Y和Z轴上平移，并绕X轴旋转。两个移动的反射镜允许显微镜保持将激发光有效地传送到物镜的后孔，而不管移动或定向如何。使用的X、Y和Z运动与我们的MP-285显微操作器中的运动相同，因此您知道运动是平滑的、精细的、无漂移的和高度可重复的。这些移动允许在不需要移动载物台的情况下记录大区域组织的Z叠置组件和马赛克图像。 水平光路允许物镜旋转离开标准垂直位置。作为这种旋转的结果，MOM可以容易地从直立显微镜转换为倒置显微镜，并且物镜从0度定位到180度。该位置自由度允许非水平表面和体积的成像。 MOM扫描系统在过去的10年里，扫描技术发生了巨大的变化：目标发生了变化，需要更大的光束尺寸和先进的扫描仪技术，提供可靠的共振扫描仪。与其他双光子显微镜设计不同，MOM经历并适应了扫描技术的变化。在整个发展过程中，萨特一直坚持两个原则。首先，当新技术可用时，可以将现有示波器升级到新技术。许多带有3mm振镜扫描仪的原始示波器已升级为6mm振镜扫描仪或共振/振镜扫描仪。其次，如果当前研究需要，Sutter将继续提供原始设计。我们可以以极具竞争力的价格提供3mm或6mm常规扫描MOM或共振/振镜扫描MOM。 成像软件从2011年开始，Sutter开始提供MOM计算机系统和软件（MCS）。在此软件包开发之前，大多数用户依赖ScanImage或MPScope来生成扫描图像。客户重视MOM将与开源免费软件一起运行的事实，然而，商业软件包似乎也有市场。Sutter MSCAN提供了许多现有免费软件包中没有的功能，包括光刺激以及将成像与电生理记录和光刺激相结合的能力。当共振扫描变得流行时，没有一个免费软件支持MOM上的共振扫描，Sutter和MScan采取了主动。较新版本的MSCAN 2.0与更快的数据采集系统相结合，使MOM能够生成快速的共振图像。直到今天，带有mScan2.0的Sutter MOM仍然是一个可以在传统扫描和共振扫描之间来回切换的平台。 MOM®始终与Karel Svoboda及其合作者开发的双光子成像软件ScanImage免费软件兼容。MOM平台以其目前的形式存在的原因之一是来自ScanImage社区的强大支持。2014年，Vidrio成为ScanImage支持和新开发的主要工具。Sutter很高兴为希望获得高级支持和较新功能的客户提供Vidrio ScanImage Premium。ScanImage免费软件仍然以SI5的形式提供。Sutter提供的软件包包括必要的数据采集硬件，以将MOM和其他扫描显微镜连接到ScanImage Premium或Si5。 MOM提供四种不同的探测器路径设计。原来的2通道五边形，可以变成四通道探测器路径。短路径和宽路径是两种设计，其通过使先进收集透镜更靠近物镜的后孔径（短路径）或通过使用更大孔径的收集透镜和二向色（宽路径）来增加捕获弹道光子的机会。 Sutter MOM套件包括完整成像系统所需的所有设备（不包括钛宝石激光器和物镜）。 Cambridge Technology XY检流计和共振扫描仪（带3或6 mm反射镜的传统扫描仪或带5 mm反射镜的共振扫描仪） 滨松光电倍增管（PMT）：R6357 Multialkali或H10770PA-40（GaAsP）产品（Sutter是滨松的授权经销商） 光电倍增管的电源：可以订购Sutter PS-2（用于R6357光电倍增管的双通道高压电源）或Sutter PS-2LV（用于H10770PA-40（GaAsP）光电倍增管的双通道低压电源） Hamamatsu、Sigmann或Femto前置放大器，选择因软件和扫描类型而异 数据采集：国家仪器和测量计算系统