Bakman Technologies的多功能PB7220-2000-T/R光谱平台设计用于扫描复杂化合物，以获得更高的精度和控制。PB7220是THz研究人员和应用开发人员的理想选择，他们需要在高分辨率的THz频率下研究材料的特性，但又不想设计和构建自己的高分辨率THz光谱系统。PB7220可以在单次快速扫描中从100GHz扫描到超过1.8THz，频率分辨率优于0.25GHz。因为它具有两个通道，所以它可以被配置为同时测量样品的THz透射和反射特性。第二通道允许单个系统收集来自样品的各种反射或散射角度的样品信息，同时连续监测透射。

Bakman Technologies的多功能PB7220-2000-T/R光谱平台设计用于扫描复杂化合物，以获得更高的精度和控制。PB7220系列是THz研究人员和应用开发人员的理想选择，他们需要在高分辨率的THz频率下研究材料的特性，但又不想设计和构建自己的高分辨率THz光谱系统。PB7220-2000-T/R可以在单次快速扫描中从100GHz扫描到超过1.8THz，频率分辨率优于0.25GHz。因为它具有两个通道，所以它可以被配置为同时测量样品的THz透射和反射特性。第二通道允许单个系统收集来自样品的各种反射或散射角度的样品信息，同时连续监测透射。

在RIXS中，至关重要的是，每一个能够被探测到的光子都能以尽可能高的光谱分辨率被探测到。Sydor提供较小的分辨率，由5um像素提供，与较低的噪声和较高的QE匹配，用于直接X射线检测-甚至用于超软X射线领域。在RIXS实验中，可分辨的不同能量的分辨率与计算散射角的精确程度直接相关。因此，光子在探测器上的撞击可以多好地被解析为空间位置的精度定义了实验的精度。Sydor Spectro CCD使用5um像素尺寸和间距解决了这个问题，这代表了目前为RIXS实施的其他探测器的三倍改进。为了进一步提高分辨率，并适应已经在探测器上配置了倾斜焦平面的光谱仪，Sydor Spectro CCD现在可以使用倾斜芯片。这允许探测器与光谱仪的倾斜度相匹配。也可以通过倾斜法兰安装来进行一些倾斜调整。Sydor Spectro CCD的所有配置都采用了专有的超薄背面触点，与软X射线领域的竞争解决方案相比，它在所有领域都提供了更好的QE。对于新的RIXS光谱仪设计，可以利用Sydor Spectro CCD提供的额外分辨率来获得实验能力，并减少光谱仪臂的总长度。减小臂长度可以显著节省尺寸稳定性并降低制造成本。Sydor Technologies提供全系列的直接X射线探测器和金刚石光束位置监测器。这些产品加入了我们广受欢迎的罗斯条纹相机、皮秒门控光学成像仪、脉冲扩张光电倍增管等产品系列。