1550nm保偏滤波耦合器是一种保偏耦合器，它将输入保偏光纤的光分成两路输出保偏光纤，支持每路偏振的光波工作，而不阻挡任何偏振。坚固的不锈钢封装专为高光学性能和稳定性而设计。这款紧凑的器件具有低过量插入损耗、低背反射和高消光比。PM滤波器耦合器可用于将高功率线偏振光分成多路，而不会干扰线偏振态（SOP），也可用作功率抽头，以监测PM光纤系统中的信号功率，而不会干扰在PM光纤中传播的光的线性偏振态。应用包括PM光纤干涉仪、偏振敏感系统中的功率共享以及PM光纤系统中的信号监控。

气动隔振系统1VIS10是对振动敏感的设备的理想基础，例如显微镜、天平、干涉仪和类似设备。工作台的工作表面通过高效的气动支撑系统与地板分离。该系统采用坚固的轻型支架，尺寸多样，可支持各种尺寸的桌面。这使得能够快速创建用于各种任务的隔振系统。每个支撑腿的较大负载能力为168公斤。系统的工作压力为0.5–6 ATM（bar）。负载/压力图中显示了支持特定负载（单位：kg）所需的较小系统压力。操作时需要使用空气压缩机。

气动隔振系统1VIS22是对振动敏感的设备的理想基础，例如显微镜、天平、干涉仪和类似设备。工作台的工作表面通过高效的气动支撑系统（即带液压（油）阻尼器的气动弹簧）与地板分离。该系统采用坚固的轻型支架，尺寸多样，可支持各种尺寸的桌面。这使得能够快速创建用于各种任务的隔振系统。

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪，用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本，除了自动化和控制命令外，还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的，仅通过一个USB链接（包括电源）即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

伊林提供一系列四种不同质量的受保护铝制平面镜。根据手头的应用，从干涉仪到实用质量进行选择。25.4和50.8毫米的镜子可以用我们的镜子支架固定。76.2和101.6毫米反射镜较好安装在运动反射镜支架上。

这些高性能光学元件是利用先进的CNC设备制造的。Zygo'的GPI-XP干涉仪用于确保这些光学器件的表面精度和性能。UV级镜片采用研究级合成熔融石英精密制造。除了提供优异的透射特性和更高的工作温度外，合成熔融石英镜片还具有优异的夹杂物规格和化学纯度。这些透镜是许多激光和成像应用的较佳选择，特别是那些涉及紫外线波长的应用。宽带抗反射涂层可用于优化紫外光谱中的吞吐量。

这些高性能光学元件是利用先进的CNC设备制造的。Zygo'的GPI-XP干涉仪用于确保这些光学器件的表面精度和性能。UV级镜片采用研究级合成熔融石英精密制造。除了提供优异的透射特性和更高的工作温度外，合成熔融石英镜片还具有优异的夹杂物规格和化学纯度。这些透镜是许多激光和成像应用的较佳选择，特别是那些涉及紫外线波长的应用。宽带抗反射涂层可用于优化紫外光谱中的吞吐量。

这些高性能光学元件是利用先进的CNC设备制造的。Zygo'的GPI-XP干涉仪用于确保这些光学器件的表面精度和性能。UV级镜片采用研究级合成熔融石英精密制造。除了提供优异的透射特性和更高的工作温度外，合成熔融石英镜片还具有优异的夹杂物规格和化学纯度。这些透镜是许多激光和成像应用的较佳选择，特别是那些涉及紫外线波长的应用。宽带抗反射涂层可用于优化紫外光谱中的吞吐量。

这些高性能光学元件是利用先进的CNC设备制造的。Zygo'的GPI-XP干涉仪用于确保这些光学器件的表面精度和性能。UV级镜片采用研究级合成熔融石英精密制造。除了提供优异的透射特性和更高的工作温度外，合成熔融石英镜片还具有优异的夹杂物规格和化学纯度。这些透镜是许多激光和成像应用的较佳选择，特别是那些涉及紫外线波长的应用。宽带抗反射涂层可用于优化紫外光谱中的吞吐量。