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波长范围: 200 - 1100 nm 决议: 10nm
光谱产品公司正在提供新的SM303 TE冷却背面减薄1024像素阵列CCD光谱仪。SM303非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的UV/VIS/NIR光谱分析,如荧光、Rama、LED特性测试应用。背面减薄的CCD在UV中具有优异的灵敏度,并允许深UV应用。精心设计的外壳允许从200nm到1050nm的高达850nm的测量窗口(较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光灵敏度),杂散光非常低。通过降低长积分时间内的噪声水平,TE冷却探测器还有助于测量非常低的光信号。得益于高动态范围和低噪声,SM303也是辐射测量应用的理想选择。SM303-Si的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL,以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。新升级的SM303提供自动快门功能,可自动使环境变暗。用户无需阻挡任何输入光线即可设置0%透射率(暗扫描)。