微波光子系统公司（Microwave Photonic Systems）的MP-6000TX是一款波长范围为1310至1550 nm的光纤发射机，输出光功率为5.0 dBm.有关MP-6000TX的更多详细信息，请联系我们。

微波光子系统公司的MP-7000TX是一款波长范围为1310nm，输出光功率为7dBm的光纤发射机。有关MP-7000TX的更多详细信息，请联系我们。

Brimrose公司的IPM-400-100是一种自由空间声光（AO）调制器，工作波长为1000-1600nm.它具有100MHz的调制带宽和50%的衍射效率。该电子可编程AO调制器的上升时间为5 ns，有效孔径为0.075 mm.它的频率精度为0.015%，频率稳定度为0.00 15%，谐波含量高达-20dBc.这款AO调制器采用紧凑的集成设计，尺寸为190.X 100 X 220 mm，非常适合TTL/数字调幅、模拟调幅、照片处理、激光显示器、微加工、脉冲拾取和OEM设计应用。

IntraAction公司的FCM-40.8E6C是一款AMTIR-1硫族玻璃声光调制器（AOM），工作波长为1.3µm.它具有+40MHz的光频移和7.5MHz的调制带宽。该单模AOM具有60纳秒的光上升时间，并且需要500mW的RF驱动功率和40MHz的RF频率。它的插入损耗高达3 dB，最小消光比为55 dB.该AOM具有-40 dB的光学背反射，输入阻抗为50欧姆。它的VSWR为1.2：1，采用FC/PC尾纤端接，非常适合光频移和强度调制。

Sintec Optronics的I-M0xx-XC11B76-P5-GH105是一款声光调制器，上升时间为120 ns，光波长为5.5µm，RF功率为50 W，中心频率为40.68至60 MHz.有关I-M0XX-XC11B76-P5-GH105的更多详细信息，请联系我们。

来自G&H的I-M041-xxC11xxx-P5-GH77是一款锗声光调制器（AOM），工作波长为9.4或10.6μm.它提供超过15W/mm2的最大光功率密度，并且每个表面具有小于0.2%的AR涂层反射率。该AOM在压缩声模式下工作，上升时间为120 ns/mm.它在9.4μm处的分离角为69.5mrad，在10.6μm处的分离角为78.4mrad.该AOM可处理高达120 W的RF功率，衍射效率超过90%。I-M041-xxC11xxx-P5-GH77采用最佳等级的单晶锗，并采用新颖的声学管理和光学机械设计技术，以实现出色的运行热管理。该模块尺寸为107 X 52.2 X 43.5 mm，具有BNC和推入式6 mm连接器。该AOM是PCB过孔钻孔、标记和雕刻、多层聚合物薄膜切割、微穿孔等的理想选择。工业材料处理和Q开关应用。

来自L3Harris Technologies的H-411是二氧化碲（TeO2）声光调制器（AOM），其具有从488到800nm的光学波长。它的标称中心频率为80 MHz，偏转带宽为65-95 MHz，总偏转角为3.8 mrad.该AOM具有30dB的最小开/关对比度和超过80%的衍射效率。它的光束直径为0.2-0.35 mm，最小上升时间为45 ns.H-411仅改变射频源波形的相位以调制光强度，从而确保无论数据速率条件如何，始终向设备施加恒定的输入功率。这也消除了传统AOM驱动技术中出现的瞬态热条件，并提高了波束指向稳定性。它具有先进的相干传感器阵列技术，采用精确的数字驱动技术，使其能够在RF相位调制模式或传统的开/关脉冲RF模式下工作，以扩展开/关对比度，其中光束指向稳定性并不重要。H-411可用于尺寸为1.9 X 1.5 X 1英寸的模块中，是可见光和近红外（NIR）系统中的光学调制和预偏转、调制的理想选择。可见光和近红外激光系统的指向调整和微加工。

GWU-Lasertechnik Vertriebsges的CAOM-F-A1-TET-W-C是一种二氧化碲（TeO2）声光调制器（AOM），工作波长为1064 nm.它的有效孔径为0.5、1、1.5和2mm，频率为100MHz，单程传输效率超过97%。这种随机偏振的声光调制器工作在布拉格模式，衍射角为25.2mrad，衍射效率超过80%。它的损伤阈值为1 GW/cm2，上升时间高达120 ns，最大电压驻波比为1.2：1。该AOM模块尺寸为51 X 25.4 X 13.5 mm，具有SMA、SMC或BNC连接器。它是材料加工、医疗和科学应用的理想选择。

来自Kylia的WT-MINT，3至12ns是Mach-Zender延迟线干涉仪，其在可见光至IR波长IE中操作；800纳米、1064纳米、1300纳米和1520-1570纳米。它的光延迟范围为3-12ns，插入损耗为9dB，最小光回波损耗小于35dB.该干涉仪的偏振模色散为0.1ps，色散为1ps/nm.它具有高达1.5FSR（自由光谱范围）的调谐范围和25dB的偏振消光比。该干涉仪需要高达90 V的直流电源，功耗高达0.5 W.WT-MINT，3至12 ns，采用封装，尺寸为750 X 400 X 129 mm，具有SMF-28/Panda PM光纤尾纤。它支持BNC、FP/UPC、FC/APC、SC/PC、SC/APC、LC/PC、E2000/PC和E2000/APC等。连接器。该干涉仪是DPSK解调应用的理想选择。

4D Technology的PhaseCam 6010是一款动态Twyman-Green干涉仪，工作波长为632.8 nm.它有一个400万像素的摄像头，可对所有内部功能进行全电动控制，并可对光路测量进行轴上照明和成像。该圆偏振干涉仪具有光纤耦合头和激光源模块，可提供1.5 MW的输出功率，并在FWHM下产生直径为7 mm的光束。PhaseCam 6010具有动态干涉测量技术，该技术使用单个相机高速光学相位传感器在小于30&μs的时间内进行波前测量。该干涉仪的采集速率超过15帧/秒，可在几乎任何条件下使用，无需隔振。PhaseCam 6010功耗高达750 W，采用尺寸为18 X 16.2 X 9.1 cm（测量头）的封装，配有48.3 X 20.3 X 11.9 cm激光源。它是米级望远镜光学系统、大型成像系统校准、真空和环境室测试、测试计算机生成全息图和生产车间质量控制应用的理想选择。

Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm，具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°（2D）和4°（3D）的解理角，测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式，并具有自动/手动端角测量功能，可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。

Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC，采用1/1.8英寸光学格式，可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤，使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式（实时）和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm，可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式，并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。它采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。

Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达45毫米，频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。

Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达70毫米，连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。

普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。

来自Xonox Technology GmbH的X-FIZ 100 ECO是一种相移斐索干涉仪，具有130万像素的单色相机。它具有远程控制，定位电动焦点调节和10倍光学放大变焦。该干涉仪具有632.8nm HeNe激光源，其产生2mW Class-1偏振输出。它可以通过带有有线遥控器的USB 3.0接口进行控制，并具有用于变焦和对焦的旋转定位控制器。X-FIZ 100 ECO具有刚性框架和坚固的光学机械设计，可确保在安装时和随着时间的推移保持对准。它有一个带自动饱和调节的智能电子衰减器和一个带Tip-Tilt TS支架的压电移相器，该支架与Zygo式卡口和XonOx 4+光学连接器兼容。该干涉仪需要110-240 V的交流电源，采用310 X 285 X 595 nm的封装。