APE' s CARPE是检查光学显微镜系统中短激光脉冲管理的便捷选择。CARPE自相关器测量样品位置和显微镜输入端的脉冲持续时间。通过比较这两个点获得的脉冲宽度，可以计算脉冲展宽效应。这种效应是由显微镜光学器件的色散引起的，但也在很大程度上取决于入射激光束的脉冲宽度。此外，样品位置的功率检测支持探索激光功率如何影响样品或探针荧光寿命的系统和定量研究。通过检查激光脉冲持续时间、功率和显微镜光学器件的色散的影响，您可以微调和优化相关点的显微镜成像。这些测量也可以使用大NA（数值孔径）或浸没透镜来完成。

紧凑的触摸屏，是一个用户控制的激光系统，在一个紧凑的封装中集成了激光和控制电子设备。内置触摸屏显示激光操作参数，并可轻松快速地手动更改激光操作条件。紧凑型触摸屏允许用户设置激光功率、温度，扫描激光功率，并使用高达50kHz的内置内部函数发生器调制激光。外部调制高达1MHz，具体取决于波长/功率组合。Compact具有出色的光束质量、功率稳定性、温度控制和低噪声特性，适用于要求苛刻的应用。

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紧凑的触摸屏，是一个用户控制的激光系统，在一个紧凑的封装中集成了激光和控制电子设备。内置触摸屏显示激光操作参数，并可轻松快速地手动更改激光操作条件。紧凑型触摸屏允许用户设置激光功率、温度，扫描激光功率，并使用高达50kHz的内置内部函数发生器调制激光。外部调制高达1MHz，具体取决于波长/功率组合。Compact具有出色的光束质量、功率稳定性、温度控制和低噪声特性，适用于要求苛刻的应用。

Gentec-EO提供了一种功率探测器，用于测量100W-12，000W范围内的高或超高激光功率。HP系列功率计可广泛用于检测从深紫外线（DUV）到远红外线（FIR）的光。

Gentec-EO提供了一种功率探测器，用于测量100W-12，000W范围内的高或超高激光功率。HP系列探测器应用广泛，可探测从深紫外（DUV）到远红外（FIR）的光线。

Gentec-EO提供了一种功率探测器，用于测量100W-12，000W范围内的高或超高激光功率。HP系列功率计可广泛用于检测从可见光（VIS）到中红外（MIR）的光。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-VR系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-W系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-VR系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-W系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-W系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-W系列激光功率探测器。

Gentec-EO为实验室和工业应用提供UP19-W系列激光功率探测器。

Gentec-EO UP系列激光功率探测器包括七个系列（XLP12、UP12、UP10、UP17、UP19、UP25、UP55）的光热传感器，具有不同的冷却选项（独立、散热器、风扇和水），带或不带放大功能。高功率表面吸收传感器设计用于高平均功率密度。Gentec-EO UP系列激光功率探测器包括七个系列（XLP12，UP12，UP10，UP17，UP19，UP25，UP55），具有不同的冷却选项（独立、散热器、风扇和水），带或不带放大器。高功率表面吸收传感器设计用于高平均功率密度。