单模特种光纤是当前和未来数据传输、光通信、传感和高功率激光传输应用的正确选择。它们提供出色的几何规格、高稳定性和较佳的光纤几何公差。我们的单模光纤可以涂上丙烯酸酯或双丙烯酸酯，高温丙烯酸酯或聚酰亚胺涂层。在不同温度范围或化学影响下的操作过程中，尼龙或Tefzel缓冲材料的附加护套可保护光纤。

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这些光源是紧凑型主振荡器-功率放大器（MOPA）设置它可以在一定的重复率和脉冲功率范围内直接调制。标准产品工作波长约1.5μm，重复频率>6kHz，脉冲功率10μJ/50ns（峰值200W）。可根据要求提供1050-1090 nm波长。客户特定的产品在两个波长窗口都有一个额外的功率放大器级，允许更高的重复率（高于50kHz）或峰值功率（2kW）。

SRT-F系列热电冷却光纤耦合二极管激光器专为需要高稳定性、远程应用或二极管激光器真高斯分布的仪器和研究应用而设计。二极管激光器的输出较大限度地减少了模式跳变，并且可以稍微调整。封装紧凑而坚固，带有3毫米耐用的光纤电缆，该电缆在工厂预先对齐并固定。也可提供可选的900微米护套或不锈钢护套。系统包括二极管激光器、耦合光学器件、单模光纤、Tecooler、热敏电阻、散热器，所有这些都集成到一个紧凑的封装和驱动器中。使用单模光纤，二极管激光器的输出是空间滤波和高斯的。这是全息摄影、干涉测量、自由空间通信和计量等应用的理想选择。也可以集成可选的偏振保持光纤。多模光纤也可用于更高的吞吐量。各种光束尺寸的光纤准直器也可用于准直光纤的输出，以获得干净的光束。

这些Helucom®光纤电缆可作为中央束芯电缆或绞合电缆提供。它们适用于建筑物和设施的室内布线。无卤素版本尤其适用于摩天大楼、医院和商店，以及资本货物高度集中的设施（如发电厂、计算中心），以及具有高安全性要求的场所（如地下和控制站）。

Fidelity飞秒激光系统在紧凑的交钥匙、低维护封装中提供领先的性能。凭借高达18W的平均输出功率和140 FS的短脉冲，Fidelity达到了高峰值功率状态，真正实现了生命科学、应用物理、材料加工和微电子领域的一系列应用。利用Coherent较先进的光纤激光技术，Fidelity提供较低的拥有成本和较低的维护要求。由于精确的光回路控制，精致的光束质量提供了较佳的聚焦分辨率和效率，以及极其稳定和低噪声的输出。

FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案，具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，具有宽光谱范围，可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸，非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振（MADP）和差分功率谱密度（DPSD）技术，利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度，FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜（尤其是多层堆叠中的薄膜）的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包，配有先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改，以满足客户的独特需求。

Find-R-Scope®84499C是一款独立的手持式红外观察器，在光谱的近红外区域工作。高分辨率图像转换管和高压电源与25mm C型安装物镜和其他精密光学器件相结合，可以清晰地看到肉眼无法看到的物体或图像。84499C取代了84499、84499A和84499B型号。物镜可接受C型镜头，无需适配器。这个新的25毫米，f/1.6物镜聚焦从200毫米（7.8）到无限远。

Find-R-Scope®84499C-5是一款独立的手持式红外观察器，在光谱的近红外区域工作。高分辨率图像转换管和高压电源与25毫米C型安装物镜和其他精密光学器件相结合，可以清楚地看到肉眼无法看到的物体或图像。84499C-5取代了型号84499-5、84499A-5和84499B-5。物镜可接受C型镜头，无需适配器。这个新的25毫米，f/1.6物镜聚焦从200毫米（7.8）到无限远。

精细退火光学玻璃，具有多达五个非机加工的铸态表面。切割毛坯：具有标准或增加的光学和内部性能以及尺寸公差要求。光学玻璃在出厂前要经过严格的质量检验。光学玻璃生产的所有阶段都受到持续监控。此外，还进行了详细的较终检查。根据DIN EN 10204的测试证书记录了标准供应质量。根据DIN ISO 10110测试交付批次的折射率散射、应力双折射、条纹和气泡。根据要求，我们还可以提供更高精度的测试证书。对于高度均匀的切割坯料，我们通过干涉测量法确认均匀性。