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分类:光谱仪单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 光谱范围: 100 - 300 nm 线性色散: 4.0nm/mm 光谱分辨率: 0.1nm
我们的紫外光谱仪在真空紫外光谱区提供了像差校正的波长覆盖。基于垂直入射几何结构,它提供光谱仪和单色仪功能。高效率光栅可以通过高精度定位系统绕其顶点旋转,从而使出射狭缝处的波长选择精度达到0.1nm。入口和出口狭缝宽度可通过千分尺螺钉或电动致动器(可选)设置在0.01至4mm的范围内。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Not Applicable 光谱范围: 900 - 1700 nm 光谱分辨率: <2.5 nm
Helios EQ32高光谱成像系统是一种强大的分析工具,基于非接触和非破坏性的实时红外成像光谱。EVK Helios系统分析物体的化学性质,并区分彩色相机不可见的材料类型。内部处理引擎提供物料流的定性和定量信息,例如分析物浓度或材料成分。摄像机作为一个即插即用组件提供了完整的内部校准。Helios EQ32采用紧凑、坚固的不锈钢外壳,具有应力解耦光学机械结构。该系统针对实际工业环境进行了优化,可在整个指定温度范围内提供稳定的校准数据。