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再现性: ±1% 准确性: ±3% 设备类型: Benchtop 测量显示: W, kW, kJ 功率范围: 500 W to 12 kW
Ophir Optronics的7Z02768是一款激光热功率传感器,可测量500 W至12 kW的高功率工业激光器,方法是测量短时间暴露于该功率的能量。激光器设置为0.1至几秒的脉冲。通过将脉冲能量保持在5kJ以下,不需要水冷却,并且传感器可以保持紧凑的尺寸。它的激光功率计可以通过PROFINET或RS232进行通信,并带有一个简单的PC应用程序,以便更容易地集成到客户的系统中。该传感器具有较宽的动态范围、较高的精度和可重复性以及较快的响应时间。它的保护窗是抗反射涂层,以减少高功率光束的背向反射。功率传感器的尺寸为200 X 123 X 144 mm,孔径为50 mm.
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再现性: ±1% 准确性: ±3% (900 to 1100 nm), ±3.5% (450 to 550 nm) 校准不确定度: ±1.9% 设备类型: Benchtop 测量显示: J, kJ
Ophir Optronics的7Z07101是一款工业激光功率计,工作波长范围为450至550 nm(近红外)和900-1100 nm(蓝绿)。它可以测量功率范围从50W到12kW,能量范围从100J到5kJ,脉冲宽度从0.3到几秒的激光。该功率计的孔径为Ø50 mm,精度高达±3.5%,响应时间为3秒,等待时间为12秒。它可以处理4kJ/cm2的最大能量密度和35mm的最大光束直径。该功率计具有可远程打开和关闭的抗反射涂层保护窗,用于减少高功率光束的背向反射。它需要24 V直流电源,功耗为4.8 W.该电表可通过以太网/IP和RS232接口进行控制,不需要水冷却。7Z07101采用防尘工业机身,尺寸为112 X 200 X 83.5 mm,即使在恶劣的工厂条件下也能保持清洁的工作状态。
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再现性: ±1% 准确性: ±3% (900 to 1100 nm), ±3.5% (450 to 550 nm) 校准不确定度: ±1.9% 设备类型: Benchtop 测量显示: J, kJ
Ophir Optronics的7Z07104是一款工业激光功率计,工作波长范围为450至550 nm(近红外)和900-1100 nm(蓝绿)。它可以测量功率范围从50W到12kW,能量范围从100J到5kJ,脉冲宽度从0.3到几秒的激光。该功率计的孔径为Ø50 mm,精度高达±3.5%,响应时间为3 s,等待时间为12 s.它可以处理4kJ/cm2的最大能量密度和35mm的最大光束直径。该功率计具有可远程打开和关闭的抗反射涂层保护窗,用于减少高功率光束的背向反射。7Z07104需要24 V的直流电源,功耗为4.8 W.它可以通过以太网/IP和RS232接口进行控制,并具有2个用于数据的M12D编码连接器和2个用于电源的迷你7/8连接器。这款功率计采用防尘工业机身,尺寸为200 X 122 X 84 mm,即使在恶劣的工厂条件下也能保持干净的工作状态。
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再现性: ±1% 准确性: ±3% (900 to 1100 nm), ±3.5% (450 to 550 nm) 校准不确定度: ±1.9% 设备类型: Benchtop 测量显示: J, kJ
Ophir Optronics的7Z07105是一款工业激光功率计,工作波长范围为450至550 nm(近红外)和900-1100 nm(蓝绿)。它可以测量功率范围从50W到12kW,能量范围从100J到5kJ,脉冲宽度从0.3到几秒的激光。该功率计的孔径为Ø50 mm,精度高达±3.5%,响应时间为3 s,等待时间为12 s.它可以处理4kJ/cm2的最大能量密度和35mm的最大光束直径。该功率计具有可远程打开和关闭的抗反射涂层保护窗,用于减少高功率光束的背向反射。7Z07105需要24 V的直流电源,功耗为4.8 W.它可以通过EtherCAT和RS232接口进行控制,并具有用于数据(RJ45)和电源的2个AIDA兼容RJ45连接器。这款功率计采用防尘工业机身,尺寸为112 X 200 X 84 mm,即使在恶劣的工厂条件下也能保持干净的工作状态。
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设备类型: Autocorrelator 可测量的脉冲宽度: 50 fs - 30 fs 波长范围: 700 nm - 2000 nm 输入极化: Horizontal
APE' s CARPE是检查光学显微镜系统中短激光脉冲管理的便捷选择。CARPE自相关器测量样品位置和显微镜输入端的脉冲持续时间。通过比较这两个点获得的脉冲宽度,可以计算脉冲展宽效应。这种效应是由显微镜光学器件的色散引起的,但也在很大程度上取决于入射激光束的脉冲宽度。此外,样品位置的功率检测支持探索激光功率如何影响样品或探针荧光寿命的系统和定量研究。通过检查激光脉冲持续时间、功率和显微镜光学器件的色散的影响,您可以微调和优化相关点的显微镜成像。这些测量也可以使用大NA(数值孔径)或浸没透镜来完成。