• 平场和成像光栅 523 01 060 衍射光学元件
    美国
    分散: 76nm/mm 波长范围: 600 - 2500 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 65l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 03 120 衍射光学元件
    美国
    分散: 25.5nm/mm 波长范围: 190 - 800 nm 频谱长度: 24.6mm F/Number: 2 沟槽密度: 340l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 100 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.8nm/mm 波长范围: 340 - 830 nm 频谱长度: 31mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 372l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 110 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 200 - 360 nm 频谱长度: 32mm F/Number: 4.4 沟槽密度: 807l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 450 衍射光学元件
    美国
    分散: 7.1nm/mm 波长范围: 200 - 350 nm 频谱长度: 21.2mm F/Number: 2.3 沟槽密度: 900l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 550 衍射光学元件
    美国
    分散: 8.4nm/mm 波长范围: 340 - 750 nm 频谱长度: 49mm F/Number: 4 沟槽密度: 800l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 570 衍射光学元件
    美国
    分散: 10nm/mm 波长范围: 370 - 760 nm 频谱长度: 37.1mm F/Number: 3 沟槽密度: 950l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 580 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 340 - 690 nm 频谱长度: 24mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 430l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 610 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 330 - 780 nm 频谱长度: 11.3mm F/Number: 3.5 沟槽密度: 250l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 670 衍射光学元件
    美国
    分散: 23nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 19.7mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 440l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 700 衍射光学元件
    美国
    分散: 32nm/mm 波长范围: 300 - 1100 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 227l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 710 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 190 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 298l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 720 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 380 - 780 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 457l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 890 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.5nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 29.6mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 785l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 25.1nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 23.9mm F/Number: 3.7 沟槽密度: 267l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 170 衍射光学元件
    美国
    分散: 9nm/mm 波长范围: 175 - 400 nm 频谱长度: 25.1mm F/Number: 4 沟槽密度: 580l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 180 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 4160 - 4180 nm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平面镜 光学反射镜
    美国
    分类:光学反射镜
    反光涂层: Protected Gold, Unprotected Gold, Custom 基质: Metallic, Custom 波长范围: 632 - 10600 nm 表面平整度: Custom 表面质量: Custom

    Kugler平面镜-用于所有光束路径和光束引导系统中的光束弯曲的经典反射镜,从简单的测量设置到高性能激光器。具有直接或间接的水冷却,具有或不具有用于激光头或弯曲单元中的可重复的镜交换的载板,具有用于聚焦头或甚至用于谐振器中的不同涂层。通常由铜或铝制成,但也作为轻质版本安装在陶瓷基板上。在研究和开发项目的过程中,Kugler激光反射镜的水冷不断得到优化-如今,可以为每个应用提供合适的解决方案。

  • FLD-4U 闪光灯驱动器 激光器模块和系统
    白俄罗斯
    厂商:OEM Tech

    FLD-4U是一系列闪光灯驱动器(SYN。激光电源),用于脉冲闪光灯泵浦的固态激光器,如Nd:YAG、Er:YAG、紫翠玉等。FLD-4U驱动器是一体化解决方案,并嵌入所有必要的子系统-电容器组、电容器充电电源、预燃电源和放电电路(放电电路)。FLD-4U可配备较多两个输出通道,较多两个串联的闪光灯可连接到每个输出。通过这种方式,每个FLD-4U能够驱动多达四个闪光灯。驱动器安装在19英寸机架上。高度为4U,深度约为400mm。所有重要参数-输出电压、脉冲宽度和脉冲重复率等-均可通过前面板用户界面(7英寸彩色显示屏和触摸面板)和RS-232机器接口进行调整。

  • FLD-迷你闪光灯驱动器 激光器模块和系统
    白俄罗斯
    厂商:OEM Tech

    FLD-mini是一款微型一体化闪光灯驱动器,专为驱动闪光灯泵浦Nd:YAG等固态激光器而设计。它在闪光灯上形成准矩形脉冲(使用存储在内部电容器组中的能量),并在脉冲之间的间隔期间提供预燃电流。模块包括IGBT及其驱动器、保护电路、预燃和触发电路、放电电阻和控制器。它还包含一个用于主动冷却的风扇。可能有两种不同的操作模式:内部同步模式,闪光灯工作频率和脉冲持续时间以及输出电压水平可由用户通过RS-232(可根据要求提供RS-485)在工作范围内进行编程;外部同步模式,脉冲持续时间以及输出电压电平可由用户通过RS-232编程,但外部脉冲发生器可设置闪光灯的工作频率。