质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长准确度、光度准确度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

CropScan 3000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、大米、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、水分、淀粉、纤维和油。内置的触摸屏电脑提供了一种测量各种谷物样品的方法，而且还增加了有关谷物的存储和质量信息，包括：测试重量、筛选、保留、品种、等级、吨位、存储位置。CropScan 3000B使用倒出测量池，该测量池具有针对每种谷物类型的自动路径长度选择。选择产品后，CropScan 3000B会调整测量单元的路径长度，以提供较佳扫描。CropScan 3000B可以连接到第二个屏幕，其中CropNet谷物数据管理软件与CR3000B操作软件并行运行。地磅监控器可通过USB端口和电缆连接到CR3000B，以便自动获取负载重量。或者，可以将条形码阅读器和电子秤连接到CR3000B USB端口，以记录现场试验测试中使用的袋子重量和样品ID。CropNet软件将数据发布到互联网上，可以使用智能手机、平板电脑或个人电脑远程查看。

CropScan 3000F面粉和谷物分析仪是一种近红外透射分光光度计，能够在不到60秒的时间内测量谷物中的蛋白质和水分，以及面粉中的蛋白质、水分、灰分、吸水性和淀粉损伤。CropScan 3000F使用旋转样品盘收集谷物、油籽、粗面粉、面粉、粗粉和其他粉状材料的多个扫描。可以收集多达30个子扫描并进行平均，以提供更精确的测量。样品装载简单快捷。对于面粉加工和面食制造行业，CropScan 3000F是先进个为全谷物和粉末提供简单而精确的测量系统的NIR分析仪。内置的触摸屏PC为用户提供了一个简单的界面，但却是一个全面的软件，用于存储和管理为即将到来的谷物、加工中的面粉流以及成品面粉和膳食产品收集的数据。PC包括无线和以太网连接，因此数据可以通过公司网络无缝传输。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个三阶非线性过程，在这个过程中，基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速度和群速度。交叉偏振波（XPW）的产生过程是由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动的。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性的三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

DEL-TRON' S交叉辊道以其高精度和卓越的承载能力而闻名。我们的直线轴承交叉滚子有铝和钢两种材质，是必须满足这些标准的应用的完美选择。精度范围从我们的铝制工作台上每英寸0.0001的行程直线精度到我们的钢制交叉辊道上0.00008的平行度，并且能够承载超过2600磅的负载。我们的铝制交叉辊道有英制和公制两种安装孔。您可以选择采用3轨设计的薄型LPT系列，也可以选择采用法兰底座和4轨设计的铝制系列。这两种产品都配有不锈钢交叉辊道和辊笼，适用于需要耐腐蚀的应用。对于垂直应用或涉及高加速或减速力的应用，您可能需要考虑我们的防蠕动交叉辊道。这些线性轴承单元采用导轨和滚柱保持架设计，可消除由于负载方向或加速力而导致的滚柱保持架移动或滑动。为方便起见，可通过点击我们的零件搜索获得我们整个产品系列的实体模型图纸。单击您感兴趣的产品，在“产品数据”页面上查找实体模型。我们随时准备讨论您可能需要的任何特殊需求或修改。另外的工业术语包括线性轴承、线性滚珠轴承滑块、线性运动轴承、线性滑动轴承、滑动轴承、交叉滚柱轴承、交叉滚柱轴承、滚柱滑块，以及更一般地称为线性滑块或运动滑块。

Cr4+：YAG晶体是被动调Q二极管泵浦或灯泵Nd：YAG、Nd：YLF、Nd：YVO4或其他掺杂Nd和Yb的波长为0.8至1.2µm的激光器的优良晶体。无源Q开关或可饱和吸收器在没有电光Q开关的情况下提供高功率激光脉冲，从而减小封装尺寸并消除高压电源。Cr4+：YAG比染料或色心更坚固，是1 um Nd激光器的优选材料。

Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213nm、266nm、355nm、532nm和1064nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。

Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213 nm、266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。

发射213 nm、266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm波长的高质量被动调Q脉冲激光系统，用于OEM和科学研究。应用包括生物技术、分析、成像、光谱学、传感器系统、微加工和激光雷达。产品组合包括被动调Q、染料和DUV CW激光器。

新的E-MOPA激光器系列基于二极管泵浦的被动调Q Nd：YAG激光器（主振荡器），该激光器由二极管泵浦的光放大器（功率放大器）组合而成。通过这种MOPA技术，与非放大系统相比，可以获得恒定且光学稳定的更高脉冲能量和平均功率。通过使用高纯度非线性晶体，集成倍频和和频转换允许将波长下滚到532、355或266nm。提供脉冲能量高达200µJ、平均功率高达200mW的各种型号。脉冲频率由外部或内部触发，单次触发频率高达1kHz。由于微芯片的设计，在1ns的脉冲长度范围内达到了高达200kW的峰值功率。激光器结构紧凑，坚固耐用，易于集成到仪器和计量设备中。

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Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213nm、266nm、355nm、532nm和1064nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。