除了标准的光学精密狭缝和针孔外，我们在双狭缝、多狭缝切割、狭缝矩阵精细切割和复杂图案定制方面拥有丰富的经验。对于狭缝矩阵切割，我们可以使节距为25um。

虽然所有透镜都具有一个或多个球面，但柱面透镜上的曲面形状类似于圆柱体。性能由平行于圆柱轴的焦线表征。这些透镜可用于应用领域，例如用于成像线性阵列的光学数据存储和检索系统、用于成像狭缝的光谱仪器以及涉及扫描技术的其它过程。圆柱形透镜也经常与激光器一起使用，以产生用于测量或校准的窄光线。ESCO生产各种标准平凸G1商用玻璃熔合石英柱透镜。所有镜片均经过精密抛光，以确保表面质量和精度。

虽然所有透镜都具有一个或多个球面，但柱面透镜上的曲面形状类似于圆柱体。性能由平行于圆柱轴的焦线表征。这些透镜可用于应用领域，例如用于成像线性阵列的光学数据存储和检索系统、用于成像狭缝的光谱仪器以及涉及扫描技术的其它过程。圆柱形透镜也经常与激光器一起使用，以产生用于测量或校准的窄光线。ESCO制造各种标准平凸N-BK7光学玻璃圆柱透镜。所有镜片都经过精密抛光，以确保表面质量和精度。

虽然所有透镜都具有一个或多个球面，但柱面透镜上的曲面形状类似于圆柱体。性能由平行于圆柱轴的焦线表征。这些透镜可用于应用领域，例如用于成像线性阵列的光学数据存储和检索系统、用于成像狭缝的光谱仪器以及涉及扫描技术的其它过程。圆柱形透镜也经常与激光器一起使用，以产生用于测量或校准的窄光线。ESCO生产各种标准平凸S1-UV级熔融石英透镜。所有镜片均经过精密抛光，以确保表面质量和精度。

Digital Mini-Chrom单色仪（DMC）是一种手动操作的单色仪，利用数字计数器进行波长选择。刻度盘的旋转通过精密丝杠/正弦杆机构引起衍射光栅的旋转，衍射光栅将选定的波长定位在出口狭缝处。所有数字迷你色度上的波长都可以被选择并读取到0.2nm。从型号01、02、03、04和05上的计数器直接读取波长，单位为纳米（nm）。近红外型号（06）要求计数器读数加倍。

我们的紫外光谱仪在真空紫外光谱区提供了像差校正的波长覆盖。基于垂直入射几何结构，它提供光谱仪和单色仪功能。高效率光栅可以通过高精度定位系统绕其顶点旋转，从而使出射狭缝处的波长选择精度达到0.1nm。入口和出口狭缝宽度可通过千分尺螺钉或电动致动器（可选）设置在0.01至4mm的范围内。

光纤束和线性阵列是简单的由多个光纤组成的光纤组件。使用多根光纤有几个重要的好处：•直径超过1毫米的孔径可轻松且经济高效地容纳。•多个较小纤芯光纤束的柔韧性优于单个较大直径光纤的柔韧性。•多根光纤可以配置在几乎任何可以想象的横截面中，并且两端可以具有不同的横截面。RSOF使用所有标准类型的光纤制造光纤束或阵列。这些包括硅芯/硅包层、硅芯/塑料包层、全塑料、硼硅酸盐玻璃或其他更奇特的结构。这些纤维表现出0.12至0.66的NAS。RSOF提供较广泛的材料，以便根据技术和经济要求定制产品。RSOF可以提供标准的终端配件，如套圈或OTS连接器，但也可以提供定制的终端配件，以适应您的特定或OEM应用。规格A：纤维类型二氧化硅/二氧化硅（UV/VIS）二氧化硅/二氧化硅（可见/近红外）二氧化硅/二氧化硅低日晒聚合物包层（高NA）Hoh聚合物包层（高NA）LOHPOF/PMMA其他B.纤维尺寸50um6。500微米100um 7.600um200um8.800um300微米9.1，000微米400um10.其他C.连接器/端部配件SMA9054。外径0.250的套圈O型圈SMA5。外径为10mm的套圈FC6。其他圣D.护套PVC管PVC分叉管PVC单线圈柔性SSTL BX特氟隆管编织SSTL/PTFE软管其他E.光纤数量/孔径大小建议纤维或孔的数量（圆形、狭缝形、矩形或其他）。F.支腿数量建议支腿数量G.其他细节每条腿的孔径或光纤数量、总长度和断裂腿长度、环境或化学暴露问题。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

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IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上，使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成，并经过计算机优化，以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比，该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

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