波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差异决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差异决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，非寻常光和寻常光通过双折射材料的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度差会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，两块石英波片的快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差异决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，这种速度上的差异导致了两束光束复合时的相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，两块石英波片的快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，非寻常光和寻常光通过双折射材料的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度差会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差异决定了延迟。

化学计量的钽酸锂（SLT）优于共晶生长的钽酸锂（CLT），因为它更接近锂与钽的理想比例（50：50）。该改进的比率为晶体提供了低得多的缺陷密度，从而减少了光学损伤的机会并改进了UV透射率，同时具有更大的非线性和电光系数。当在准相位匹配应用中使用时，SLT在周期性极化过程中需要显著更少的电压，从而允许制造更厚的芯片。

化学计量的钽酸锂（SLT）优于共晶生长的钽酸锂（CLT），因为它更接近锂与钽的理想比例（50：50）。该改进的比率为晶体提供了低得多的缺陷密度，从而减少了光学损伤的机会并改进了UV透射率，同时具有更大的非线性和电光系数。当在准相位匹配应用中使用时，SLT在周期性极化过程中需要显著更少的电压，从而允许制造更厚的芯片。

这些成像器使用MCP选通来提供快门对比度。磷光体在MCP之后保持恒定电势。该技术提供了非常高速的操作（一些用户已经实现了低于30ps）、高消光比和良好的灵敏度，有时通过在门控MCP之后的第二个连续运行的MCP来增强。与将MCP和磷光体一起选通的系统相比，该系统的主要缺点在于，后者更能容忍气体在事件之后进入检测器，因为没有可以击穿的DC电势。Kentech Slix系统可以提供缓慢的荧光粉选通（通常在事件发生后的10秒内在几毫秒内关闭），但这在某些X射线设备中可能不够快。快速阀也可从其他供应商处获得，其可以打开和关闭到源的视线。为了快速选通MCP，在没有常规电极的情况下生产MCP，然后在前表面上铺设铜或金的带状线电极。后部也涂有连续导体。然后对条带施加脉冲以实现选通。根据条带宽度和MCP厚度，条带的特性阻抗通常在几Ω到25Ω的范围内。阻抗越低，则需要的电流越大。此外，更多的条带需要更多的电流。通常，驱动这些系统所需的总脉冲功率取决于总图像宽度（许多条用于许多通道）和MCP厚度。大多数脉冲发生器和布线都基于50Ω阻抗。为了有效地驱动较低的阻抗，必须并行驱动许多电缆，然后这些电缆中的几个将驱动MCP上的每个通道。通常，连接到MCP的较终电缆为25Ω电缆。如果选通速度很重要，则可能更容易不受匹配和损耗耦合效率的影响，而是获得简单性、灵活性和选通速度。

当不需要图像采集卡时，GigE Vision可提供低成本解决方案。

Sydor Fast CCD是一款革命性的高速、超高量子效率、低噪声相机，用于探测软X射线。直接检测消除了信号丢失的风险，当将X射线转换为可由可见摄像机检测的信号时，经常会遇到这种风险。Sydor的快速CCD提供了这些优势，以及比竞争对手的直接检测相机系统快约100倍的图像采集速度。在这些速率下的成像允许在样品经历X射线损伤之前收集数据。高帧速率被耦合到具有低噪声和快速传输速度的光纤输出。耗尽接触非常薄，以实现从<100eV到1000eV的高QE。传感器可以被完全耗尽，防止残余电荷载流子破坏流数据，并导致高收集效率。专有的耗尽触点在100 eV时显示出>75%的QE，对于600 eV以上的光子，显示出超过98%的QE。用户可以采用突发模式以获得更快的输出，这可能是某些类型的激光器和半导体研究所需的。这种增加的速度和QE允许在更短的时间内收集更多的数据，使通常稀缺的波束时间的价值较大化。照相机系统可以被设计成在两种可用模式-全帧模式或1K模式中的一种下操作。在全帧模式下，使用完整的960 X 1920传感器，并以60 FPS的速度进行采集。在1K模式下，活动成像区域为960 X 960像素，采集速度为120 FPS。

Symbion DX和RX为所有过程分析技术（PAT）要求提供完整的应用程序开发、联网和在线监控环境。这些程序包括Symbion LX和LRX的所有功能，但增加了全面的编程功能，包括执行用MATLAB™、Octave或TCL编写的程序的功能。Symbion DX专为满足化学工业的不同需求而设计。Rx添加了在高度管控的行业中运营所需的审核跟踪和其他法规遵从性功能。当包含在Symbion结构中时，即使是MATLAB或Octave脚本也可以兼容。Symbion DX和RX的广泛开发能力可用于创建定制的方法和操作屏幕，以满足几乎任何要求。例如，操作员屏幕的范围可以从简单的启动按钮和红色/绿色质量显示到一组全面的统计控制图。创建后，可以将方法保存到数据库中，并通过安全登录重新调用，以便后续部署。