testo 875i热像仪可快速可靠地检测材料和部件中的异常和弱点。由于成像过程，无需接触即可检测工业系统中的能量损失和冷桥以及损坏或过热。在其他方法中，电缆或管道系统必须大面积暴露，而在热成像仪Testo875i中，一眼就够了。testo超分辨率技术还将testo 875i的分辨率从软件testo irsoft中的160x120像素提高到320x240像素。这是四倍的读数，使您能够发现即使是较小的不规则性。

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使用testo 882热像仪，您可以可靠、安全地测试材料和组件。Testo 882采用符合人体工程学的手枪设计，凭借高分辨率热成像和高热灵敏度脱颖而出。这使您可以完全无干扰地识别测量对象上的每个细节，并且即使在很远的距离也可以更容易地检测异常和弱点。对你来说，这意味着：在测量温度时，你可以看到更多，也更安全！

Testo 890热像仪可提供出色的图像质量，以满足较高的热成像要求。得益于配备640x480像素探测器的高质量红外测量系统，使用超分辨率技术可以记录百万像素质量（1290 X 960）的热图像。这意味着即使是较小的测量对象，例如电子元件或远距离的测量对象，例如在工厂上，也可以以较好的图像质量和高分辨率进行安全的热成像记录。即使是热过程，也可以使用全辐射视频测量随着时间的推移进行精确分析：热图像的所有测量点在任何时候都是可用的，精确到像素。

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这些激光反射镜设计用于特定波长激光应用，其中低波前失真、低散射和高反射率通常是重要的。这些窄带反射器适用于多种波长和尺寸。

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这些激光反射镜设计用于特定波长激光应用，其中低波前失真、低散射和高反射率通常是重要的。这些窄带反射器用于几种波长和尺寸。

850nm偏振不敏感光环行器是一种紧凑的高性能光波组件，它将输入信号从端口1路由到端口2，并将输入端口2信号路由到端口3。该组件提供高隔离度、低插入损耗、低PDL、低PMD和出色的环境稳定性。

基于镓石榴石的980nm偏振不敏感光环行器是一种紧凑的高性能光波组件，其将输入信号从端口1路由到端口2，并将输入端口2信号路由到端口3。该组件提供高隔离度、低插入损耗、低PDL、低PMD和出色的环境稳定性。

基于TGG的1.0m光环行器是一种高性能光波组件，它将输入信号从端口1路由到端口2，并将输入端口2信号路由到端口3。它们具有低插入损耗、高隔离度、高功率处理能力、高回波损耗、低PDL、低PMD、出色的环境稳定性和可靠性等特点。它们是光纤激光器和仪器应用的理想选择。

ANF提供NS1 NanoSpectralyzer®，这是一种基于较先进的纳米管光谱学研究的独特自动荧光分析仪。该仪器将专门的光学系统与定制软件相结合，以实现对大块单壁碳纳米管（SWCNT）样品的高效、交钥匙分析。NS1纳米光谱分析仪对于调整SWCNT生长反应器中的工艺条件、质量控制、指导纳米管分选和分离方法以及需要快速时间尺度的详细组成数据的广泛研究应用很有价值。

随着机电（MEMS）、电光和医疗设备的尺寸持续减小，热量产生和热耗散变得越来越重要。小型设备中的大多数故障要么是由过热引起的，要么是它们产生过多的热量。局部加热会引起温度应力，这会影响器件的可靠性和性能。微型辐射热成像显微镜测量并显示小型器件表面的温度分布，这使得能够快速检测热点和热梯度，这些热点和热梯度可能指示缺陷位置，并经常导致效率降低和早期故障。

Infrared Associates，Inc.提供高质量的热电冷却光导HgCdTe（MCT）探测器。他们提供高性能，易于操作。标准探测器在2µm至5µm波长范围内进行了优化。扩展范围探测器在超过5µm的波长范围内工作。光学增强型检测器可与反射和折射光学元件一起使用，以提高这些装置的收集效率。这些检测器的明显增强的响应度和D*依赖于光学部件将通常可能不入射的能量重新聚焦在检测器元件上的能力。这些装置较适合于入射能量被准直或发散的应用。因此，光学增强型检测器理想地适用于采用光纤的应用。

我们公司与像您这样的元件设计师合作，设想、制作原型并生产创新的薄膜微电路和元件。在过去的30年里，我们为各种要求苛刻的医疗、射频/微波、航空航天、国防、电信、商业印刷和光子学客户提供服务，磨练了我们的微电路设计和制造技能，并提供了广泛的材料选择，我们可以在这些材料上产生您的微电路创意。我们可以以业界领先的电路密度和令人印象深刻的产量提供低至亚微米级别的产品。可实现六层或更多层，包括独立堆叠、对准和互连的导电层。