钽酸锂（LiTaO3/LTO）是在许多非色散应用中较广泛使用的热释电材料，并且由于其与其他热探测器相比具有相对较高的性能和较低的成本而作为脉冲激光系统的功率监测器。LiTaO3热释电探测器在电流模式下有单通道和双通道版本。一致的温度曲线和低功耗使该器件在工业应用中广受欢迎。当与针对特定气体管线的窄带通IR滤波器结合时，多通道检测器在气体感测中较常见。基于NDIR检测方法，可以制造出非常紧凑的气体传感器。

激光线可调谐滤波器（LLTF）是一种基于体全息光栅的非色散可调谐带通滤波器。它提供业界较高的信号吞吐量，同时也是少有的，因为它将极高的光密度（>OD6）和出色的带外抑制与宽可调谐性相结合。单个滤波器可以从400nm调谐到1000nm（VIS）或从1000nm调谐到2300nm（SWIR），带宽（FWHM）分别为<2.5nm和<5nm。还提供定制和扩展光谱范围（高达2500 nm）和带宽（亚纳米）。Photon ETC的LLTF可以与超连续谱激光器耦合以提供可调谐激光源（TLS）。有关我们的即插即用过滤器的更多详细信息，请观看此视频。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他情况的基本要求。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他收集微弱光学信号的情况的基本要求。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他收集微弱光学信号的情况的基本要求。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他收集微弱光学信号的情况的基本要求。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他收集微弱光学信号的情况的基本要求。

M833标准版本的M833单色仪是一种独特的高孔径双色散单色仪/光谱仪，其紧凑的设计结合了长焦距仪器固有的高光谱分辨率和极低的杂散光，这是拉曼光谱学以及任何其他收集微弱光学信号的情况的基本要求。

坚固耐用的交钥匙红外测光模块。MicroSpec系列推出了MCP-200，这是一款针对吸收红外辐射的物质的浓度监测器。这种固态封装结合了非色散红外探测器和专有的光路设计。MCP-200采用紧凑的模块化设计，既是坚固耐用的独立组件，也是集成组件。

光隔离器可以在任何偏振态下阻挡反向反射和反向散射。它们具有低偏振模色散（PMD）。光路不含环氧树脂，因此可实现高功率应用。它们基于微光学封装技术，具有较佳的稳定性和可靠性。产品符合Telcordia GR-1221-CORE标准。

MSA-130单色仪的主要特点是它能够在加色散和减色散两种模式下工作。它是世界上先进能够提供两种模式而无需任何额外校准和校准的仪器。通过将选择器旋钮从“加法”位置手动切换到“减法”位置，或从“减法”位置手动切换到“加法”位置，即可切换加法和减法模式。

MSA-130单色仪的主要特点是它能够在加色散和减色散两种模式下工作。它是世界上先进能够提供两种模式而无需任何额外校准和校准的仪器。通过将选择器旋钮从“加法”位置手动切换到“减法”位置，或从“减法”位置手动切换到“加法”位置，即可切换加法和减法模式。

Rigaku NEX CG可对各种类型的样品中的主要和次要原子元素进行快速定性和定量测定-较低标准：非破坏性分析NA至non-U固体、液体、粉末和薄膜检测下限的极化激发峰重叠的新颖处理减少了误差使用Ultracarry的含水样品的ppb检测极限带EZ分析的简化用户界面用于迹级灵敏度的极化笛卡尔几何学与传统的EDXRF分析仪不同，NEX CG采用了独特的紧密耦合笛卡尔几何（CG）光学内核，大大提高了信噪比。通过使用二次目标激励代替传统的直接激励，进一步提高了灵敏度。由此产生的背景噪声的显著降低和元素峰值的同时增加，使得光谱仪即使在困难的样品类型中也能够进行常规痕量元素分析。新颖的软件减少了对标准的需求NEX CG由新的定性和定量分析软件RPF-SQX提供支持，该软件采用了Rigaku Profile Fitting（RPF）技术。该软件允许在没有标准品的情况下对几乎所有样品类型进行半定量分析，并使用标准品进行严格的定量分析。

作为一款优质的高性能台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新型Rigaku NEX DE通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体和泥浆。现场、工厂或实验室中的XRF元素分析专为重工业应用而设计和制造，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境中，NEX DE的卓越分析能力、灵活性和易用性为其不断扩大的应用范围增加了广泛的吸引力，包括勘探、研究、批量RoHS检测和教育，以及工业和生产监测应用。无论需要的是基本质量控制（QC）还是其更复杂的变体（如分析质量控制（AQC）、质量保证（QA）或六西格玛等统计过程控制），NEX DE都是XRF常规元素分析的可靠高性能选择。

作为一款优质高性能、小型SPOT台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新型Rigaku NEX DE VS通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体、浆料和RoHS材料。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

Rigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案，可配置用于分类和非分类领域。从铝（Al）到铀（₂U）的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术，Rigaku NEX OL可对从铝（Al）到铀（U）的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率（ppm）水平到高重量百分比（wt%）浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器，以及标准化、优化的管式过滤器套件，旨在解决广泛的过程控制应用。

Rigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定性和定量测定各种样品类型中的主要和次要原子元素：非破坏性分析NA至non-U固体、液体、合金、粉末和薄膜用于宽元素覆盖的50kV X射线管半导体探测器，数据质量高现代智能手机风格的“图标驱动”用户界面增强灵敏度的多个自动管过滤器方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比

Rigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定量测定各种船用燃料中的硫：非破坏性地分析硫（S）至低ppm水平分析镍（Ni）、钒（V）和铁（Fe）（如需要）分析锌（Zn）以确定燃油是否受到污染半导体探测器具有卓越的可靠性现代触摸屏“图标驱动”用户界面方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比ASTM D4294和ISO 8754测定硫的方法

基于Windows®的EDXRF用于快速元素分析作为一款优质的低成本台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，Rigaku NEX QC+Quantez通过易于学习的基于Windows®的Quantez软件提供广泛的元素覆盖范围。从钠（Na）到铀（U），在几乎任何基质中进行无损分析，从固体和合金到粉末、液体和泥浆。野外、工厂或实验室的元素分析NEX QC+Quantez系列专为重工业应用而设计，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境中，其卓越的分析能力、灵活性和易用性为其不断扩大的应用范围增添了广泛的吸引力，包括勘探、研究、批量RoHS检测和教育，以及工业和生产监控应用。无论需要的是基本质量控制（QC）还是其更复杂的变体（如分析质量控制（AQC）、质量保证（QA）或六西格玛等统计过程控制），NEX QC+Quantez系列都是常规元素分析的可靠选择。