利用连续微片激光器的窄线宽辐射，通过注入种子实现了单纵模和单横模发射。激光器以8至15kHz的重复率在M2<1.2的衍射极限光束中提供持续时间为T<12ns的短输出脉冲。种子激光输出的光谱带宽为ν<80MHz。由于S<1%的高脉冲-脉冲稳定性，这些激光器非常适合于科学应用。在1064nm处平均输出功率达到10W，在倍频532nm处平均输出功率达到5W。355nm、266nm和213nm的紫外波长具有超稳定的脉冲轨迹和常规激光器无法提供的高相干长度。

SLM-266是一种单频全固态激光系统，用于紫外应用，如光学计量、光谱仪校准和全息应用。频谱带宽小于80MHz，接近其理论傅里叶极限。

SLM-266是一种单频全固态激光系统，用于紫外应用，如光学计量、光谱仪校准和全息应用。频谱带宽小于80MHz，接近其理论傅里叶极限。

SLM-355是一种单频全固态激光系统，用于紫外应用，如光学计量、光谱仪校准和全息应用。频谱带宽小于80MHz，接近其理论傅里叶极限。

利用连续微片激光器的窄线宽辐射，通过注入种子实现了单纵模和单横模发射。激光器以8至15kHz的重复率在M2<1.2的衍射极限光束中提供持续时间为T<12ns的短输出脉冲。种子激光输出的光谱带宽为ν<80MHz。由于S<1%的高脉冲-脉冲稳定性，这些激光器非常适合于科学应用。在1064nm处平均输出功率达到10W，在倍频532nm处平均输出功率达到5W。355nm、266nm和213nm的紫外波长具有超稳定的脉冲轨迹和常规激光器无法提供的高相干长度。

利用连续微片激光器的窄线宽辐射，通过注入种子实现了单纵模和单横模发射。激光器以8至15kHz的重复率在M2<1.2的衍射极限光束中提供持续时间为T<12ns的短输出脉冲。种子激光输出的光谱带宽为ν<80MHz。由于S<1%的高脉冲-脉冲稳定性，这些激光器非常适合于科学应用。在1064nm处平均输出功率达到10W，在倍频532nm处平均输出功率达到5W。355nm、266nm和213nm的紫外波长具有超稳定的脉冲轨迹和常规激光器无法提供的高相干长度。

利用连续微片激光器的窄线宽辐射，通过注入种子实现了单纵模和单横模发射。激光器以8至15kHz的重复率在M2<1.2的衍射极限光束中提供持续时间为T<12ns的短输出脉冲。种子激光输出的光谱带宽为ν<80MHz。由于S<1%的高脉冲-脉冲稳定性，这些激光器非常适合于科学应用。在1064nm处平均输出功率达到10W，在倍频532nm处平均输出功率达到5W。355nm、266nm和213nm的紫外波长具有超稳定的脉冲轨迹和常规激光器无法提供的高相干长度。

光谱产品公司正在提供新的SM245高速2048像素阵列CCD光谱仪。得益于SM245电子板上的增强设计，暗电流噪声水平和数据采集速度都得到了改善。基于SP的特殊光具座设计，它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用，包括高速数据采集。SM245可通过内置狭缝或光纤直接接收光线。SM245采用耐用的铝制外壳，可在各种温度下提供稳定的光具座操作。该阵列（与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合）允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口（较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度）。SM642的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置，可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统（一个用于测量，另一个用于参考）。Spectral Products在CCD上应用了新的紫外增强涂层，与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外涂层相比，提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新的UV涂层的帮助下，500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL，以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。

光谱产品公司正在提供新的SM303 TE冷却背面减薄1024像素阵列CCD光谱仪。SM303非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的UV/VIS/NIR光谱分析，如荧光、Rama、LED特性测试应用。背面减薄的CCD在UV中具有优异的灵敏度，并允许深UV应用。精心设计的外壳允许从200nm到1050nm的高达850nm的测量窗口（较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光灵敏度），杂散光非常低。通过降低长积分时间内的噪声水平，TE冷却探测器还有助于测量非常低的光信号。得益于高动态范围和低噪声，SM303也是辐射测量应用的理想选择。SM303-Si的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL，以及我们基于Windows的SM32Pro光谱采集和分析软件。新升级的SM303提供自动快门功能，可自动使环境变暗。用户无需阻挡任何输入光线即可设置0%透射率（暗扫描）。

SM445是一款新型紧凑型CCD光谱仪，可与PC配合使用。基于SP的特殊光具座设计，它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用，包括高动态范围应用。SM445可通过内置狭缝或光纤直接接受光线。SM445采用耐用的铝制外壳，可在较宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于SM445的Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备设计用于高灵敏度但稳定的操作。该阵列（与我们的特殊UV涂层工艺和定制的排序过滤器相结合）允许从200nm到1050nm的850nm测量窗口（较小的测量窗口尺寸增加了光谱分辨率和光敏度）。得益于更多的像素数量，SM445更适合需要更高分辨率的应用。SM445的标准接口是具有16位扩展动态范围的USB 1.1/2.0兼容接口。我们的USB板可支持多达8个通道的配置。通过这种多通道配置，可以实现更高的宽范围分辨率或双光谱仪系统（一个用于测量，另一个用于参考）。Spectral Products在CCD上应用了新型紫外增感涂层，与CCD光谱仪中广泛使用的传统紫外增感涂层相比，提高了450nm以下的紫外灵敏度。在这种新型UV涂层的帮助下，500nm以下的信号灵敏度通常可以提高约20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的SDK和DLL，以及我们基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。

耐日晒UV纤维

固体标准具通常具有熔融石英衬底，其材料等级（例如UV-可见光或IR）取决于光谱区域。通常，对表面进行研磨、抛光和加工，使其平整度优于L/100，表面之间具有类似质量的平行度。电介质（或很少是金属）涂层提供所需精细度所需的反射率。

Shimadzu的SolidSpec-3700/3700DUV分光光度计是较好系统，提供高灵敏度、深紫外线测量和大型样品室。SolidSpec-3700和3700DUV符合光学、半导体和FPD市场的以下要求。

SPECBOS 1211-2是一种小型化的快速宽带光谱辐射计，覆盖波长范围为350..1000nm（特殊版本SPECBOS 1211UV-2将UV范围扩展至230nm）。它可用于实验室和生产中的各种应用，并可基于其NIST可追溯校准在辐射率和辐照度模式下进行测量。

紫外透明涂层单模光纤产品编号：UVTC01SM200

摄谱仪和单色仪Zolix Instruments的Omni-λ系列成像光谱仪和单色仪是需要较高质量数据的研究人员的专业标准。Zolix光谱仪和单色仪具有非常灵活的设计，可以配置为广泛的应用&从UV到NIR的光谱范围。如拉曼光谱、荧光光谱、探测器光谱响应度测量等。

PCE-CSM 10分光光度计是为质量控制而开发的，提供高精度，并配有3.5英寸触摸屏显示器。使用分光光度计时，您可以选择不同的颜色空间（CIE Lab、XYZ、YXY、LCH、CIE LUV、HunterLab）。在用分光光度计测量之后，读数可以用作参考值，而其他读数可以记录为样本，并且稍后可以容易地与参考值进行比较。除了单独的颜色空间坐标之外，还显示读数之间的偏差。使用分光光度计时，设备上可存储多达1000个参考值和多达15，000个样本。测量数据也可以通过USB接口传输到PC。软件包中包含一个特殊的PC软件。

PCE-CSM 8分光光度计是为质量控制而开发的，提供高精度，并配有3.5英寸触摸屏显示器。使用分光光度计时，您可以选择不同的颜色空间（CIE Lab、XYZ、YXY、LCH、LUV）和45/0光学几何结构。在用分光光度计测量之后，读数可以用作参考值，而其他读数可以记录为样本，并且稍后可以容易地与参考值进行比较。除了单独的颜色空间坐标之外，还显示读数之间的偏差。使用分光光度计时，设备上可存储多达1000个参考值和多达10，000个样本。测量数据也可以通过USB接口传输到PC。软件包中包含一个特殊的PC软件。

用于透射测量的低容量、精密比色皿，Specvette提供了石英比色皿的经济替代品。短路径长度：250、500和1000 m，只需要几微升样品溶液（12、25和50 L）。标称光程长度为+/-10%–在模制比色杯中未发现视差。可根据具体要求生产匹配路径长度的比色杯，请联系我们。

用于透射测量的低容量、高精度比色皿，Specvette为石英比色皿提供了一种经济的替代品。短路径长度：250、500和1000 m，只需要几微升样品溶液（12、25和50 L）。标称光程长度为+/-10%–在模制比色杯中未发现视差。可根据具体要求生产匹配路径长度的比色杯，请联系我们。