数码相机模块，具有130万像素分辨率，可直接连接LVDS SOM接口（单色）。VM-012-BW-LVDS配备了席恩半导体单色CMOS传感器VITA 1300。该传感器具有全局和滚动快门（可调节）。即使在近红外范围（NIR），该传感器也具有高达4.6 V/Lux-s的高灵敏度。由于分辨率降低，读出速度可以提高。因此，在VGA分辨率下，帧速率可以高达150fps。客户可以定义多达8个感兴趣区域（ROI），并仅传输这些区域所需的像素。

VSI构建了图像增强器，用于现有或定制的相机，因此您可以看到更多。VSI增强器扩展了相机在专业应用中的使用，使相机能够看到正常光谱范围之外的东西，减少曝光时间，并在低光水平下工作。VS4-1845是较新一代增强型图像增强器组件。它连接到现有的相机上，类似于镜头，以制作即时增强相机。VS4-1845外壳设计采用基于新技术、用户反馈和零件可用性的较新更新，允许灵活添加和删除许多流行选项，而无需定制硬件。外壳设计还拥有接近光纤的吞吐量的中继透镜，几乎消除了固有的眩光（不需要的反射和/或光泄漏）。因此，VS4-1845仍然是较通用的低照度成像应用解决方案。

白矮星OPCPA是一个强大的飞秒光参量啁啾脉冲放大器系统。它是一个完整的系统，具有不同的功率水平，由工业Yb：光纤或Yb：YAG激光器泵浦，使其坚固、可靠且易于使用。覆盖近红外到中红外范围的不同波长版本打开了广泛的应用领域。所有版本都可以组合成双输出泵浦-探测系统，在泵浦和探测输出以及固有同步方面具有不同的脉冲特性。

白矮星OPCPA是一个强大的飞秒光参量啁啾脉冲放大器系统。它是一个完整的系统，具有不同的功率水平，由工业Yb：光纤或Yb：YAG激光器泵浦，使其坚固、可靠且易于使用。覆盖近红外到中红外范围的不同波长版本打开了广泛的应用领域。所有版本都可以组合成双输出泵浦-探测系统，在泵浦和探测输出以及固有同步方面具有不同的脉冲特性。

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Fort Wayne Wire Die的DM300系列显微镜专为目视检查模具几何形状而设计，使您能够检查模具表面，以获得更好的成品电线质量。通过将卓越的光学校准与专门改装的光源相结合，DM300系列可帮助您定位表面缺陷和磨损模式。放大功能允许您评估正确的模具几何形状，并在小至0.050mm（.002）的模具中进行抛光。此外，模具台的滑动、旋转和倾斜提供了对模具内表面轮廓的连续旋转检查。拥有一系列型号，从全方位服务的DM390ZT到经济型的DM340，这款显微镜非常适合您的应用。设置和操作简单。欲了解更多信息，请联系韦恩堡电线模具代表。

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WLD3343是一款通用激光二极管驱动器，可使用与任何激光二极管类型兼容的电子设备来保持精确的激光二极管电流（恒流模式）或稳定的光电二极管电流（恒功率模式）。它延迟并缓慢增加电流，以提供较大保护。从单个+5 V电源向激光二极管提供高达2.2 A的电流。如果设备温度超过105°C，内部恒温器将安全关闭WLD。远程启用或禁用电流。零泄漏电流允许与VCSEL一起工作。电流范围由外部电阻调节。

X射线FDS是一种高分辨率（1392×1040像素）X射线数字探测器，具有直接耦合（微型）光纤输入，可保护传感器免受辐射损伤。该探测器提供高达50mm X 40mm的有效面积和600万像素的分辨率。定制的闪烁体被沉积到相机上，以允许12keV高达300keV。还提供具有多个模块的阵列版本，提供高达2400万像素的分辨率。X射线FDS 6.02MP提供高达1.5 FPS的全分辨率或6 FPS的面元2 X 2，允许实时采集程序。内置快门允许无拖影、无快门采集，即使曝光时间低至微秒范围。在局部子区域模式或行扫描模式下使用时，可实现>10 FPS的帧速率。设备服务器驱动程序控制允许通过现有的GUI界面进行远程采集。摄像机具有本机14位采集模式和18位扩展动态范围模式。

时间延迟积分（TDI）是一种特殊的图像采集方法，适用于需要高速、高灵敏度和高分辨率的在线检测应用。XTI12848 TDI热像仪使用寿命长，配有光纤板，将传感器与X射线路径隔开。X扫描成像可以帮助用户选择特定应用的闪烁体。像素为48µm×48µm。分箱模式2×2、4×4、8×8等允许以较低的分辨率以较高的速度成像。

与传统的线性二极管阵列相比，Harrier XTI9080X系列时间延迟积分（TDI）相机具有更高的灵敏度和分辨率。通过组合8行像素的信号累积增加了信号，降低了信噪比，提供了更高的灵敏度，从而允许更快的扫描速率或降低X射线功率。通常，像素尺寸减半会使每个像素的信号减少4倍，但TDI技术允许分辨率加倍，同时保持非常相似的灵敏度。0.2mm TDI的每像素灵敏度与0.4mm LDA相同。

XIB-64系列的型号包括选定的Luxima、CMOSIS和GPixel传感器，从分辨率为1.1Mpix、分辨率超过3，600fps的型号到分辨率为76fps、分辨率为65.4Mpix的型号。XIB-64系列在紧凑的封装（60mm X 70mm X 40mm）中结合了高速和高分辨率。将图像数据直接传输到PC的主存储器（DMA）中的能力实现了高容量数据存储和在图形处理器（GPU）上对图像数据的进一步处理。应用范围从过程监控、体育转播和高速范围内的流量测量（PIV）扩展到土地测量、医疗技术和高分辨率光谱学。XIB-64系列新推出的CB262达到了26.2 Mpix（5，120 X 5，120像素）的分辨率和高达150 FPS，扩展了明斯特公司XIMEA GmbH的产品组合。PCIe3.0接口允许图像数据以64 Gbps（8 GB/s）的速度传输-甚至可以通过光纤连接在100米的距离上传输。

适用于科学和低光应用的超紧凑型相机采用较新的CCD和科学CMOS（sCMOS）传感器，具有现代高速接口，如USB3.1 Gen1和PCI Express（PCIe）USB型号，具有珀尔帖冷却功能，可实现出色的暗电流性能和较高的动态范围。PCIe接口为这些高性能传感器提供了较快的读取速度。

X射线直接磷光成像相机包括8、11、15和16兆像素的分辨率，具有14位图像。适用于Micro CT应用的独特小型TE冷却型号。支持从5到100keV的能量水平。

DXP xMAP将4个高速数字信号处理器封装到一个紧凑的3U PXI/CPCI模块中。每个处理器提供0.1-100µs的峰值时间范围，可向频谱输出高达1，000，000 CPS。DXP xMAP具有出色的噪声性能，非常适合在0.1-100 Kev的扩展范围内使用具有任何增益的前置放大器的多元件探测器阵列进行能量色散X射线测量。它提供对所有放大器和光谱仪控制的计算机控制，包括增益、峰值时间和堆积检查标准。与模拟系统相比，xMAP的梯形数字FIR滤波器以相当的能量分辨率实现了显著增强的数据吞吐量，但每个探测器的成本更低。直到较大吞吐量，能量分辨率几乎与计数率无关。完整的计算机接口允许所有数据收集和校准操作自动化，大大降低了人为错误的可能性。数据可以被收集到多达8K通道或多达32个感兴趣区域（ROI）的全频谱中，并在不停止数据收集的情况下传递到主机。全谱存储允许在逐个检测器的基础上执行峰化拟合和/或去卷积，从而导致更准确的强度提取，特别是在散射峰随能量快速变化的情况下。DXP xMAP可轻松与各种常见的复位型检波器/前置放大器系统配合使用。有几种计时模式，包括具有完整MCA读数或多个ROI的快速扫描，以及列表模式读数，其中为每个事件存储时间和能量。即使在数据采集期间，板载内存管理器也允许完全访问数据。对于具有快速扫描的死时间操作，存储器可以被组织成两个独立的存储体，允许读出一个存储体，而另一个存储体被填充。PCI接口上的峰值读取速度超过100 MB/秒。

XR/Mega-10Z™ICCD相机平台是一款突破性产品，可将低光成像和检测性能推向新的极限。Stanford Photonics将GaAsP增强器技术的高QE和低固有暗电流特性与珀耳帖冷却相结合，使视频速率采样的暗电流/暗计数几乎为零。由于双MCP放大级提供的高增益，单光子事件可以被数字化和可视化，远高于将增强图像转换为电子2-D图像的CCD的读出噪声水平。因此，读取噪声也不是影响实验结果的因素。XR/Mega-10Z™是商业市场上先进个展示有效读取噪声和零暗计数水平的成像产品。双MCP结构的另一个好处是在高增益图像中离子反馈噪声（或有时称为“闪烁”噪声）的显著降低。即使在500K到1000K的增益下，离子反馈几乎不存在，图像的特征是光子统计，而不是在较大增益下使用单个MCP增强器时常见的杂散噪声。XR/Mega-10Z™的附加功能是CCD的珀耳帖冷却（用于延长曝光/延时应用）和独有的ABF™（自动明场）功能，该功能可即时调整光电阴极门时间和增强器增益，以补偿高达七十年的光级变化。允许在不需要第二照相机的情况下对具有大的亮度变化和亮场成像的样品进行不用手的测量。XR/Mega-10Z™正在申请专利。

多通道分幅相机由单个光学输入和基于反射镜的图像分离器组成。定制设计的分光光学器件将入射光均匀地分成各个通道。增强型CCD通道完全可以通过较先进的电子设备进行远程控制。这允许高度精确的定时控制以捕获超高速现象。多通道分幅相机能够记录多达8个可选图像，帧间延迟低至10ps（基于4 Picos技术）。这使得能够以高达每秒1000亿帧的相应帧速率拍摄连续的图像序列。

扩散结合晶体是由具有不同掺杂剂水平的两个、三个或更多部分组成的晶体。通常，使用掺杂和未掺杂的材料。扩散键合晶体用于显著降低热透镜效应。这种键合技术在激光器中的应用不仅可以大大提高激光器的性能和光束质量，而且有利于激光器系统的集成和获得大尺寸晶体。