• 激光投影仪用光纤束跳线 光缆
    中国大陆
    分类:光缆
    厂商:TARLUZ
    波长范围: 200 - 1100 um

    Tarluz光纤束跳线由特殊设计的可见光波段光纤制成。高几何精度、低损耗、高可靠性,适用于医疗、高端激光投影、紫外打印等领域。高质量的激光传输可以通过跳线的精确设计以及优良的能量传输光纤来实现。该投影仪光纤束用于激光投影仪中。本发明将多个LD集合成一个激光源,使透过率达到95%以上。因此,这种激光投影仪可以显示高质量和高亮度的图像。同时,光源与投影机分离,便于维护和延长使用时间。

  • 室内光纤电缆 HELUCOM I-D(ZN)H 光缆
    美国
    分类:光缆
    核心直径: 4000um 波长范围: 1 - 1 um 纤维芯材料: Fused Silica

    这些Helucom®光纤电缆可作为中央束芯电缆或绞合电缆提供。它们适用于建筑物和设施的室内布线。无卤素版本尤其适用于摩天大楼、医院和商店,以及资本货物高度集中的设施(如发电厂、计算中心),以及具有高安全性要求的场所(如地下和控制站)。

  • Fidelity 10高功率飞秒光纤激光器 激光器模块和系统
    美国
    厂商:相干公司
    波长: 1040nm 重复频率: 80MHz 输出功率: 10W 脉冲持续时间: 140fs

    Fidelity飞秒激光系统在紧凑的交钥匙、低维护封装中提供领先的性能。凭借高达18W的平均输出功率和140 FS的短脉冲,Fidelity达到了高峰值功率状态,真正实现了生命科学、应用物理、材料加工和微电子领域的一系列应用。利用Coherent较先进的光纤激光技术,Fidelity提供较低的拥有成本和较低的维护要求。由于精确的光回路控制,精致的光束质量提供了较佳的聚焦分辨率和效率,以及极其稳定和低噪声的输出。

  • FIND-R-SCOPE红外观察仪 型号84499C 科学和工业相机
    美国
    相机类型: Industrial, Scientific, Security 阵列类型: InGaAs 光谱带: 0.35 - 1.35 um 阵列冷却: Cooled

    Find-R-Scope®84499C是一款独立的手持式红外观察器,在光谱的近红外区域工作。高分辨率图像转换管和高压电源与25mm C型安装物镜和其他精密光学器件相结合,可以清晰地看到肉眼无法看到的物体或图像。84499C取代了84499、84499A和84499B型号。物镜可接受C型镜头,无需适配器。这个新的25毫米,f/1.6物镜聚焦从200毫米(7.8)到无限远。

  • FIND-R-SCOPE红外观察仪 型号84499C-5 科学和工业相机
    美国
    相机类型: Industrial, Scientific, Security 阵列类型: InGaAs 光谱带: 0.35 - 1.55 um 阵列冷却: Cooled

    Find-R-Scope®84499C-5是一款独立的手持式红外观察器,在光谱的近红外区域工作。高分辨率图像转换管和高压电源与25毫米C型安装物镜和其他精密光学器件相结合,可以清楚地看到肉眼无法看到的物体或图像。84499C-5取代了型号84499-5、84499A-5和84499B-5。物镜可接受C型镜头,无需适配器。这个新的25毫米,f/1.6物镜聚焦从200毫米(7.8)到无限远。

  • FireBird CoaXPress图像采集器 1xCXP6-2PE4L 科学和工业相机
    英国
    界面: CoaXPress (CXP) 通道数量: Up to 4

    Firebird Single CoaXpress Low Profile是Active Silicon较先进的Firebird Frame Grabber系列中的一员。Firebird采用Active Silicon专有的DMA引擎技术“ActiveDMA”,专为先进性能而设计。这项技术创新应用了基于RISC的处理器技术,保证了零CPU干预、高速和低延迟的图像数据传输。CoaXPress是专业和工业应用中高速成像的领先传输标准。CoaXPress Link支持高达6.25 Gbps的数据速率,以及高达13W的设备功率和20 Mbps的设备控制-所有这些都在一根同轴电缆上实现。支持非常长的电缆长度-使用Belden 1694A电缆时,6.25 Gbps时较长可达40米,3.125 Gbps时超过100米-使用较粗的电缆时甚至更长。Active Silicon是CoaXPress国际标准的主要作者之一,该标准由JIIA(日本工业成像协会)主办。我们所有的CoaXPress产品都通过了JIIA CoaXPress产品认证计划的认证,符合规范。Firebird由Active Silicon的软件开发工具包ActiveSDK提供支持,该工具包允许快速系统开发和集成,并可作为单独的项目提供。它提供全面的示例应用程序和优化库,并通过通用API支持各种操作系统,包括Windows、Linux(64位)和QNX。还提供第三方应用程序的驱动程序,如Cognex VisionPro、Halcon、Common Vision Blox、StreamPix、LabVIEW等。驱动程序中包含完整的GenICam支持,其中包括用于数据流和寄存器访问的Gentl Producer。除了控制硬件的功能外,库还包括用于操作和显示图像的通用功能。单独的数据表详细描述了SDK。

  • FireBird CoaXPress图像采集器4xCXP12-3PE4 科学和工业相机
    英国
    界面: CoaXPress (CXP) 通道数量: Up to 8

    Firebird Quad CXP-12 3PE4帧采集卡是Active Silicon较先进的Firebird帧采集卡系列的较新成员之一。Firebird采用Active Silicon专有的DMA引擎技术“ActiveDMA”,专为先进性能而设计。这一技术创新应用了基于RISC的处理器技术,保证了高速、低延迟的图像数据传输和零CPU干预。Firebird Quad CXP-12 3PE4支持一个2链路摄像机或两个高达CXP-12的1链路摄像机,以同时进行流式传输。要支持多达CXP-6,可以连接一个4链路摄像机、两个2链路摄像机或多达四个1链路摄像机。CoaXpress是专业和工业应用中高速成像的领先传输标准,刚刚更新为包括更快的CXP-10和CXP-12速度。每个CoaXPress链路支持高达12.5 Gbps的数据速率,以及高达13W的设备功率和高达42 Mbps的设备控制-所有这些都在一根同轴电缆上实现。对于速度更快的设备,可以将链路连接起来,以提供多个单一同轴电缆带宽。支持非常长的电缆长度–使用Belden 1694A电缆时,较长可达35米(12.5 Gbps)和100米(3.125 Gbps)–使用较粗的电缆时,甚至可支持更长的长度。活性硅是CoaXPress国际标准的主要作者之一,该标准由JIIA(日本工业成像协会)主办。我们所有的CoaXPress产品都通过了JIIA CoaXPress产品认证计划的认证,符合规范。

  • FireBird CoaXPress图像采集器 4xCXP12-3PE8 科学和工业相机
    英国
    界面: CoaXPress (CXP) 通道数量: Up to 8

    Firebird Quad CXP-12 3PE8图像采集卡是Active Silicon较先进的Firebird图像采集卡系列的较新成员之一。Firebird采用Active Silicon专有的DMA引擎技术“ActiveDMA”,专为实现先进性能而设计。这项技术创新应用了基于RISC的处理器技术,保证了高速、低延迟的图像数据传输和零CPU干预。Firebird Quad CXP-12 3PE8支持一台4链路摄像机、两台2链路摄像机或较多四台1链路摄像机,较高支持CXP-12。CoaXPress是专业和工业应用中高速成像的领先传输标准,刚刚更新为包括更快的CXP-10和CXP..每个CoaXPress链路支持高达12.5 Gbps的数据速率,以及高达13W的设备功率和高达42 Mbps的设备控制-所有这些都在一根同轴电缆上。对于速度更快的设备,可以将链路连接起来,以提供多个单一同轴电缆带宽。支持非常长的电缆长度–使用Belden 1694A电缆时,较长可达35米(12.5 Gbps)和100米(3.125 Gbps)–使用较粗的电缆时,甚至可支持更长的长度。活性硅是CoaXPress国际标准的主要作者之一,该标准由JIIA(日本工业成像协会)主办。我们所有的CoaXPress产品都通过了JIIA CoaXPress产品认证计划的认证,符合规范。

  • FISCHERSCOPE X-RAY XAN光谱仪 光谱分析仪
    美国
    分类:光谱分析仪
    测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm

    与XUL系列一样,XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而,XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光(XRF)不仅可以测量涂层的厚度,还可以分析合金的成分(例如,G。铜)。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪,涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务,例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用,我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备(例如Xan220):由于其分辨率高得多,它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时,Xan250是您的解决方案。

  • 平场和成像光栅 523 00 010 衍射光学元件
    美国
    分散: 8nm/mm 波长范围: 200 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 600l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 020 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 400 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 300l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 030 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 200 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 040 衍射光学元件
    美国
    分散: 36nm/mm 波长范围: 300 - 1170 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 138l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 050 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 200 - 1200 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 120l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 060 衍射光学元件
    美国
    分散: 48nm/mm 波长范围: 200 - 1400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 080 衍射光学元件
    美国
    分散: 4nm/mm 波长范围: 300 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 1200l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上,使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成,并经过计算机优化,以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比,该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 67.4nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 8.9mm F/Number: 2 沟槽密度: 130l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 210 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.6nm/mm 波长范围: 800 - 1000 nm 频谱长度: 12.8mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 595l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 410 衍射光学元件
    美国
    分散: 1.1nm/mm 波长范围: 440 - 520 nm 频谱长度: 70mm F/Number: 6.7 沟槽密度: 2000l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 420 衍射光学元件
    美国
    分散: 1.0nm/mm 波长范围: 250 - 450 nm 频谱长度: 203mm F/Number: 5.1 沟槽密度: 1800l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。