• 平场和成像光栅 533 00 100 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.8nm/mm 波长范围: 340 - 830 nm 频谱长度: 31mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 372l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 110 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 200 - 360 nm 频谱长度: 32mm F/Number: 4.4 沟槽密度: 807l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 450 衍射光学元件
    美国
    分散: 7.1nm/mm 波长范围: 200 - 350 nm 频谱长度: 21.2mm F/Number: 2.3 沟槽密度: 900l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 550 衍射光学元件
    美国
    分散: 8.4nm/mm 波长范围: 340 - 750 nm 频谱长度: 49mm F/Number: 4 沟槽密度: 800l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 570 衍射光学元件
    美国
    分散: 10nm/mm 波长范围: 370 - 760 nm 频谱长度: 37.1mm F/Number: 3 沟槽密度: 950l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 580 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 340 - 690 nm 频谱长度: 24mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 430l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 610 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 330 - 780 nm 频谱长度: 11.3mm F/Number: 3.5 沟槽密度: 250l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 670 衍射光学元件
    美国
    分散: 23nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 19.7mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 440l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 700 衍射光学元件
    美国
    分散: 32nm/mm 波长范围: 300 - 1100 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 227l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 710 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 190 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 298l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 720 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 380 - 780 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 457l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 890 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.5nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 29.6mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 785l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 25.1nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 23.9mm F/Number: 3.7 沟槽密度: 267l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 170 衍射光学元件
    美国
    分散: 9nm/mm 波长范围: 175 - 400 nm 频谱长度: 25.1mm F/Number: 4 沟槽密度: 580l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 180 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 4160 - 4180 nm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • FLEXPOINT MVfemto系列 激光器模块和系统
    德国
    厂商:Laser Components
    运行模式: Continuous Wave (CW), Modulated 激光源类型: Diode 投影类型: Dot, Line 波长: 405nm 输出功率: 50mW

    MVFemto系列模块是可用于工业图像处理的较小线激光器。然而,它们的特征在于非常高的光功率。这些模块的长度为40毫米,直径为8毫米,适合3D激光传感器,实际上并不提供太多空间。

  • FLEXPOINT MVnano系列 激光器模块和系统
    德国
    厂商:Laser Components
    运行模式: Continuous Wave (CW), Modulated 激光源类型: Diode 投影类型: Line 波长: 405nm 输出功率: 100mW

    FlexPoint®MVNano激光器的外壳尺寸为61 mm X 11.5 mm,适合作为独立产品或集成在非常不同的应用中。聚焦机制在2017年版中进行了根本性的重新设计,使其能够更快、更准确地调整焦距。有几种光学器件可供选择,为每种应用提供较佳的线厚度和焦深之比。MVNano模块可提供可调或固定焦距。定焦是出厂前设置的。具有分离的光学和电子元件的版本特别节省空间。还有一种版本不带电子控制单元,可集成在相机系统中。

  • FLEXPOINT MVpico系列 激光器模块和系统
    德国
    厂商:Laser Components
    运行模式: Continuous Wave (CW), Modulated 激光源类型: Diode 投影类型: Line 波长: 405nm 输出功率: 100mW

    MVPICO系列线激光器长度仅为50 mm,直径为10 mm。因此,它们非常适合集成在智能3D视觉传感器中。尽管它们的外壳很小,但它们的输出功率水平高达100 MW。MVPICO激光器还配备了新的2017版聚焦机制,以便更快、更准确地调整焦距。各种光学器件保证了每种应用的线厚度和焦深之间的较佳比率。MVPICO模块有不同的版本:具有可调焦距,具有在工厂生产过程中设置的固定焦点,具有单独的光学和电子元件,并且没有控制电子设备。

  • 翻转镜/分光镜安装 - 5F21-1 底座
    美国
    分类:底座
    安装材料: Anodized Aluminum 调整: Tilt Only

    使用翻转底座5F21-1将光学器件放入和取出光学方案。将平台向外翻转,然后再向后翻转,它就会以重复的位置固定在驱动螺钉上。通过2个驱动螺钉将各种光学元件精确对准到所需角度。3个座椅形成3个运动点,用于确定平台的位置。这些阀座由硬化钢制成,由于它们与驱动螺钉和翻转枢轴球的硬化钢高端相抗衡,因此可延长使用寿命。底座5F21-1有一个直径为24mm的安装孔。固定螺钉将光学器件固定在2条接触线上,形成2个接触点。为防止损坏光学元件,固定螺钉的高端由塑料制成。在一侧,光学器件的边缘保持清晰。因此,您可以在方案中使用靠近边缘的光学器件,在该方案中,您可以使用与另一个光束非常接近的光束。标准配置为细螺钉9S127或9SH127(其中一个螺钉的高端经过修改以形成运动点)。根据您安装设备的哪一侧,您可以垂直或水平翻转平台。通过垂直翻转,光学器件进入光学方案的普通水平之下。仍然是底座的一条腿,上面有一个驱动螺丝,保持向上。然而,这不会阻碍光路,因为如果光学器件被翻转进来,它就不会阻碍光路。向上突出的支腿使您更容易接触到驱动螺钉,同时降低了遮挡光束的风险。不需要像其他制造商的一些脚蹼那样设计向下延伸的腿,以便完全清理空间。材料:铝。

  • FLIR E6-XT热成像仪 科学和工业相机
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 240 # 像素(宽度): 180

    FLIR E6-XT是住宅检查员推荐的较小热像仪。FLIR E6-XT不能进行精确的皮肤温度扫描。非常好的热成像相机,价格合理。分辨率是FLIR E5-XT的两倍多,热灵敏度提高了40%,现在还升级了Wi-Fi连接!获得竞争优势,并为您的客户获得更全面的结果。