紧凑型FTIR光谱仪Interspec 650-X以紧凑的尺寸和实惠的价格提供高性能。Interspec 650-X FTIR光谱仪结合了仪器外部灵活的样品处理和领先的Interspec for Windows软件，是工业、政府或学术实验室的理想解决方案。它使用摆锤式屋顶镜干涉仪，实现了与其他Interspec FTIR型号相同的经过现场验证的FTIR技术。Interspec 650-X FTIR光谱仪设计轻巧，占地面积小，使您能够将光谱仪带到较需要答案的地方：从繁忙的实验室到生产车间或仓库。波数范围为7000至400 cm-1（KBr光学器件）或5000至600 cm-1（ZnSe光学器件），标准光谱分辨率为1 cm-1，光谱仪在光谱仪外部形成内置结构型样品室，能够使用不同的附件进行透射、反射和ATR测量。内置式结构样品仓内置结构型样品室允许使用附件进行透射、反射和ATR测量。

我们经过现场验证的CPA系列钛：蓝宝石激光器在低拥有成本的超短光脉冲源中重新定义了用户友好性。它是一个完整的、完全集成的超短脉冲振荡器/放大器系统，可由嵌入式触摸屏计算机或任何具有网络连接的基于Windows的计算机控制。所包含的软件提供对激光性能参数的控制，如功率输出、脉冲宽度、泵浦功率、时序以及单个脉冲或多个脉冲组的选择。还包括一套用于监控激光器性能的诊断程序。简单、直观、用户友好的界面提供状态信息和来自外部网络设备的控制。驻留的.NET DLL文件允许与您现有的特定于应用程序的定制软件（LabVIEW、MATLAB、VisualBasic等）接口。CPA系列通过将符合电信标准的单发射极泵浦二极管的长寿命与单个连续波（CW）灯的低运行成本相结合，提供了两个领域的较佳选择。其结果是当今市场上拥有成本较低的激光器。它与我们的NOPA系列光参量放大器（提供低于50 FS的可调谐脉冲）、TOPAS系列光参量放大器、STORC谐波发生器和ShapeShifter超短脉冲非线性光谱仪（瞬态吸收、泵浦/探测、CARS、表面特定SFG、SHG、THG等）完全兼容。

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格兰激光棱镜偏振器由两个相同的双折射材料棱镜组装而成，并留有空气间隙。偏振器是Glan Taylor型偏振器的改进，设计为在棱镜接合处具有较小的反射损失。具有两个逸出窗口的偏振器允许被拒绝的光束逸出偏振器，这使得它更适合于高能量激光器。与入口和出口面的表面质量相比，这些面的表面质量相对较差。没有为这些面指定划痕挖掘表面质量规范。其极化场F1和F2如下图所示。特点：•空气间隔•接近布鲁斯特角切割。•高极化纯度。•适用于高功率应用。•长度短。

Glan Taylor棱镜偏振器由两个相同的双折射材料棱镜组成，这两个棱镜以空气间隔组装。它具有小于1.0的长度与孔径比，使其成为相对薄的偏振器。没有侧逸出窗口的偏振器适合于低到中等功率的在线_排序，其中不需要侧拒绝光束，这适合于各种各样的在线_排序，特别是对于准直的输入光束。下面列出了不同材料偏振器的角场，以供比较。特点：•空气间隔•接近Brewster&Aposs角度切割。•高偏振纯度。•短长度。•适用于不需要抑制光束的低至中等功率应用。

光学元件包括分束器、滤光器、棱镜、窗口、反射镜、柱面透镜、透镜、非球面透镜、消色差透镜、延迟板、光栅。光学晶体材料包括锗、硅、CaF2、熔融石英、BaF2、KBr、SiC。涂层包括AR涂层、高反射涂层、部分反射涂层、分束涂层、红外涂层、紫外涂层和各种滤光片。波长范围为200nm至20000nm。光学支架，我们可以制造透镜、非球面透镜、消色差透镜、消色差柱面透镜和许多光学元件，以及阳极氧化铝外壳、不锈钢外壳的组件。

用于热成像系统的窗口、头罩和透镜。CVD ZnS，呈现橙色，主要工作在远红外区域。多光谱ZnS（M-ZnS）在0.4-12μm的全波段范围内表现出优异的光学性能，可用于远、中、近红外和可见光区域。CVD ZnS窗口、透镜和头罩的尺寸可达Ø250×16mm。对于m-ZnS，较大尺寸为300×200×15mm请通过+86-1800331094|emailusgina@bz-optical.com|；BZ-optical.com与我们联系

Hellma Analytics生产各种比色皿，用于光谱学和细胞计量术，光程长度范围为0.01 mm至100 mm及以上。由于Hellma比色皿在用于吸光度和荧光测量时的稳定性、较大精度和可靠性，Hellma比色皿在实验室的广泛领域中工作得非常好。凭借1μm的表面平整度，我们的石英窗在比色杯生产中树立了标杆。更重要的是，功能优化的斜边和斜角设计可防止因分裂而造成的损坏风险，并有助于用户的日常工作。根据要求，我们能够生产为特定应用领域设计的定制模型。

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我们的V涂层提供了一些业内较有效的抗激光特性。它们被设计为在一个或多个离散线上提供低反射，或者作为宽带和离散波长的组合。在我们的标准生产中，我们有许多单波段、双波段和多波段AR涂层。对于一些激光系统，当实际应用在1550nm时，将其窗口与可见633nm HeNe激光对准对光学设计者非常有帮助

Amptek很高兴提供我们改进的硅漂移探测器（SDD）系列，用于扫描电子显微镜（SEM）中的能量色散谱（EDS）。使用我们获得专利的C系列氮化硅（Si3N4）X射线窗口，我们的FAST SDD®的低能量响应可向下延伸至铍（Be）。具有高本征效率的快速SDD®适用于EDS，也称为能量色散X射线光谱（EDX或XEDS）和能量色散X射线分析（EDXA）或能量色散X射线微量分析（EDXMA）。

窗口用于允许光辐射从一个环境传递到另一个环境，而不允许这些环境的其他成分混合。选择窗口的考虑因素可以包括透射、散射、波前失真和对某些环境的抵抗力。理想的窗口允许光束从一种介质传输到下一种介质，而不改变光束的波长分布，透射的波阵面将光束中的任何光散射出去。我们提供由三种不同材料制成的窗户，您可以根据所需的性能进行选择：BK7或UV级熔融石英。

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