这些低吸收ZnSe正聚焦透镜在景深是重要因素的激光切割应用中提供了延长的寿命。这些低成本透镜非常适合焊接、切割和热处理，具有优异的热特性，可防止高功率CO2激光器中的热失控。所有LX系列镜头都经过镀膜和优化，可在10.6微米下使用。

光学表面镜片生产从一开始就是其业务的核心部分。提供的范围包括直径达600毫米的单透镜、双透镜、弯月形透镜和柱面透镜。我们拥有广泛的测试板和工具，以涵盖大多数尺寸和半径。如有要求，可提供定制空气间隔组件。

弯月形透镜H-LAK 10

弯月形透镜MgF2

弯月形透镜N-BK7

用于视觉、显微镜、激光光学等应用的弯月形透镜。

金属板材-管道光纤激光切割机是高科技柔性3D轴切割的一个例子。该系统融合了光束调制技术，可自动将材料厚度与旋转分度的功率和速度相匹配，从而有效地从平板过渡到管材或管道切割。平板切割和管材切割之间的切换在不到2分钟的时间内完成，该系统能够加工圆形、方形、矩形、C形槽钢和角钢，为用户提供了极高的多功能性。光束调制技术允许在每个材料厚度上连续可变光束，而无需更换透镜，同时确保快速吞吐量。随着材料厚度的增加，激光束的直径和切口的宽度也会增加，从而能够轻松地移除成品零件。COMBO系统金属板材-管材光纤激光切割机广泛应用于厨房电器、电气配电箱、机械系统、电气制造、电梯制造、汽车配件、五金、钢结构工厂等。不锈钢、低碳钢、镀锌、镀锌钢、铝、黄铜板和管道等材料在Combo系统中加工。SIL Combo型号配有1000W至4000W功率的光纤激光器规格，包括160和220直径的较大管道切割。300mm Z轴范围，1500x3000 mm板材尺寸。

消色差双合透镜由两个粘合在一起的光学元件组成，以形成消色差双合透镜，该透镜经过计算机优化，以校正轴上的球面像差和色差。我们的消色差双合透镜具有单层MgF2涂层或用于可见光谱的宽带多层涂层。还可以使用NIR消色差双线和边缘变黑消色差双线。对于多色（“白光”）成像，消色差双合透镜远优于简单透镜。组成消色差双合透镜（字面意思是“没有颜色的透镜”）的两个元件配对在一起，因为它们能够校正玻璃中固有的颜色分离。在消除了有问题的色差之后，消色差双合透镜成为用于良好的多色照明和成像的较具成本效益的手段。

Csrayzer的光纤干涉是光学的基本现象，因此这一现象也是一个重要的有用应用。通过更换透镜系统，光纤光路变得柔软，形状可变，传输距离长。产品适用于强电磁干扰、易燃易爆等各种恶劣环境工作环境，如DVS、分布式传感系统、水下探测、水听器等。

微型镜头（超小型镜头）在高折射率条件下，某些元件可以实现短焦距。因此，微透镜成为高精度应用领域的理想选择。由于这类镜头的超小尺寸（外径0.5mm-5mm，长度：1mm-20mm），微型镜头或超小镜头往往需要特殊的加工工艺、独特的生产诀窍和专用的光学夹具等。PhotonChina为一系列应用提供各种尺寸的微透镜，包括光纤通信中的有源器件、波分复用器（WDM）和光纤激光器（见C-Lens、G-Lens）、医疗和工业用内窥镜、胶囊内窥镜等。其新的应用领域还在不断拓展。各种光学玻璃或其他材料，如N-SF11、H-LAF76、熔融石英等可供客户设计。例如，H-LAF53经常用于内窥镜透镜或胶囊透镜的生产。微透镜的外径覆盖0.5mm至5.0mm，具有可制造的任何曲率半径。我们有各种各样的透镜形状：凸面，凹面，双凸面，弯月面等。

微棒透镜在微棒透镜方面，PhotonChina的容量现已达到外径0.5毫米，长度25毫米，可制作任何曲率半径。微棒透镜有平面、平凸、平凹、双凸等多种形状。这种棒状镜头具有良好的偏心率和清晰光圈指数。更重要的是，我们可以提供独特的棒状胶合镜片，结合特殊的胶合/胶合工艺和磨边技巧。这些胶合/胶合棒透镜子组件可以由多达四个具有各种组合的单微棒透镜制成。与传统透镜相比，棒状透镜组件系统能够提供具有更高亮度、对比度和色彩再现的图像。

微棒透镜有平面、平凸、平凹、胶合等多种形式，应用于医用内窥镜。棒状透镜系统使用具有光学抛光末端的特殊玻璃棒，提供比传统透镜具有更高亮度、对比度和色彩再现的图像。请致电+86-755-8378 2881联系我们|Emailus sales@szlaser.com|www.szlaser.com

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

双凸MgF2涂层微型消色差透镜。

眼睛断层扫描以及白内障和屈光手术需要非常精确的激光束聚焦。MPS为一家眼科设备制造商开发了非常高精度的微型透镜致动器。这些执行机构由一个直径为6毫米的微型步进电机、一个预加载的螺杆螺母系统和一个线性导轨组成。该系统的设计方式使其能够补偿轴线对齐的缺陷。较严格的要求是在每次测量之间以1µm的精度找到原始位置。